光学检测系统 Galaxy Flex 15μ

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产品说明
Galaxy Flex 15μ 是为大批量检测柔性与刚性‑柔性（rigid‑flex）印刷电路板设计的自动光学检测（AOI）系统，最小线宽/间距可检测至15 μm。系统结合 Microlight™ Gen II 光学技术与 Spark™ 3.0 检测引擎，提供高质量成像与可定制的检测算法，以满足严格的缺陷检测要求并将误报率降至最低。Galaxy Flex 15μ 支持快速作业设置并可集成至自动化生产线。

主要特点

• 线性电机，实现平稳且低噪的运动
• 适合大批量生产的紧凑机械平台
• 高性能图像处理固件
• 增强型 Microlight™ Gen II 照明模块，覆盖均匀
• 快速且直观的新作业设置
• 兼容前端 AMHS 自动化及机器人上下料

可选项

• +2DM™ 计量 – 面板尺寸测量
• +2CD™ 计量 – 电路元件二维测量
• +3DH™ 计量 – 元件高度三维测量
• +3DP™ 计量 – 电路元件三维剖面
• LDI™ – 激光钻孔检测选项
• CDB™/CDBIC™ – 缺陷分类与虚拟缺陷映射
• VVS™ – 虚拟验证系统

规格

• 应用：用于柔性与刚性‑柔性印刷电路板的自动光学检测（AOI）
• 最小可检测线/间距：15 μm
• 光学技术：Microlight™ Gen II 照明
• 检测引擎：Spark™ 3.0 跨平台检测引擎
• 运动系统：线性电机，运动平稳且低噪
• 平台：适合大批量生产的紧凑机械平台
• 图像处理：高性能图像处理固件
• 照明：增强型照明模块实现最佳覆盖
• 可用性：新作业快速且直观的设置
• 自动化兼容性：兼容前端 AMHS 自动化或机器人
• 可选计量与检测功能：+2DM™, +2CD™, +3DH™, +3DP™, LDI™, CDB™/CDBIC™, VVS™