光学检测系统 Galaxy R2R 25μ

拍照式自动化机械手

描述
用于卷对卷（roll-to-roll）工艺的柔性印制电路板（FPC）自动光学检测（AOI）。Galaxy R2R 25 µm 是为柔性和刚挠（rigid-flex）PCB 的卷对卷生产设计的 AOI 系统，可检测线/间距最小至 25 µm。Microlight™ Gen II 照明提供均匀的光覆盖以满足严格的检测要求。结合高分辨率图像采集和 Spark™ 3.0 检测引擎，系统在低误报率下实现精确缺陷检测。支持前端 AMHS 或机器人集成，适用于在线生产。

要点

• 线性电机，实现平稳且低噪声运动
• 紧凑的机械平台
• 高性能图像处理固件
• 增强型照明模块（Microlight™ Gen II）
• 快速且直观的新工单设置
• 兼容前端 AMHS 自动化或机器人

可选项

• +2DM™ 计量 – 面板尺寸测量
• +2CD™ 计量 – 电路元件二维测量
• LDI™ – 激光钻孔检测选项
• CDB™/CDBIC™ – 缺陷分类及虚拟缺陷映射
• VVS™ – 虚拟验证系统

技术规格

• 检测类型：用于卷对卷工艺的自动光学检测（AOI）
• 最小线/间距检测：25 µm
• 支持基板：柔性和刚挠（rigid-flex）PCB
• 光学技术：Microlight™ Gen II 照明
• 检测引擎：Spark™ 3.0 跨平台检测引擎
• 图像采集：高分辨率图像采集硬件
• 软件：先进的检测算法，误报率低
• 运动系统：线性电机，实现平稳且低噪声运动
• 机械结构：紧凑平台
• 兼容性：兼容前端 AMHS 自动化或机器人
• 可选计量：+2DM™（面板尺寸）、+2CD™（电路元件二维）
• 可选检测模块：LDI™、CDB™/CDBIC™、VVS™