描述Phoenix MDI(CIMS AOI系统)用于检测HDI和多层PCB上的机械钻孔。可检测直径低至150 µm的机械钻孔。Microlight™光学技术提供优化的照明覆盖,以满足严格的检测要求。通过将高质量图像采集与可定制的检测算法相结合,实现优化性能。配备先进的图像采集硬件和软件,Phoenix MDI实现了较低的误报率。Phoenix MDI由Spark™(跨平台检测引擎)驱动。
亮点- 线性电机,实现平稳且静音的运动
- 坚固的机械结构
- 自动真空平台
- 高性能图像处理固件
- 强大处理器以处理大量数据
- 新任务快速且直观的设置
- 兼容前/后AMHS自动化或机器人
选项- +2DM™ 计量 – 面板尺寸测量
- +2CD™ 计量 – 电路元件的二维测量
- LDI™ – 激光钻孔检测选项
- CDB™/CDBIC™ – 缺陷分类与虚拟缺陷映射
- VVS™ – 虚拟验证系统
技术规格- 用于检测HDI和多层PCB上机械钻孔的AOI系统
- 可检测直径低至150 µm的机械钻孔
- Microlight™光学技术提供优化的照明覆盖
- 由跨平台检测引擎Spark™驱动
- 先进的图像采集硬件与先进软件功能
- 线性电机实现平稳且静音的运动
- 配有自动真空平台的坚固机械结构
- 高性能图像处理固件和强大处理器以处理大量数据
- 快速且直观的任务设置
- 兼容前/后AMHS自动化或机器人
- 可选模块:+2DM™, +2CD™, LDI™, CDB™/CDBIC™, VVS™