光学检测系统 Galaxy 15μ

自动化测量缺陷检测

描述
适用于 HDI 与细线 PCB 的自动光学检测（AOI），最小线/间距能力可达 15 µm。Galaxy 15μ 为 CIMS AOI 系统，旨在支持先进 HDI 和细线 PCB 的大批量生产。可对 15 µm 线/间距的特征进行扫描与检测，同时保持稳定的产能。

亮点

• 线性电机，运动平稳且安静
• 紧凑的机械平台
• 高性能图像处理固件
• 增强型 Microlight Gen II™ 照明模块，提供均匀光照
• 新工单的快速且直观的设置
• 兼容前端 AMHS 自动化或机器人

可选项

• Fi™ – 成品电路板的最终检验选项
• +2DM™ 计量 – 面板尺寸测量
• +2CD™ 计量 – 电路元件的二维测量
• +3DH™ 计量 – 电路元件高度的三维测量
• +3DP™ 计量 – 电路元件的三维轮廓测量
• LDI™ – 激光钻孔检测选项
• CDB/CDBIC™ – 缺陷分类与虚拟缺陷映射
• VVS™ – 虚拟验证系统

技术规格

• 应用：用于 HDI 与细线 PCB 的自动光学检测（AOI）
• 最小线/间距能力：15 µm
• 光学技术：Microlight Gen II™ 照明
• 检测引擎：Spark™ 3.0 cross-platform detection engine
• 运动系统：线性电机，运动平稳且安静
• 机械结构：紧凑的机械平台
• 图像处理：高性能图像处理固件
• 照明：为严格的检测需求设计的增强型照明模块
• 设置：快速且直观的工单设置
• 自动化兼容性：兼容前端 AMHS 自动化或机器人
• 可用选项：Fi™, +2DM™, +2CD™, +3DH™, +3DP™, LDI™, CDB/CDBIC™, VVS™