光学检测系统 Galaxy R2R 30μ

自动机械手质量监督

描述
用于卷对卷（roll-to-roll）制造中柔性印刷电路板（FPC）检测的AOI系统。Galaxy R2R 30µ 专为柔性与刚柔结合（rigid-flex）PCB 的 R2R 生产设计，可检测至 30 µm 的线/间距。Microlight™ Gen II 照明提供优化的光覆盖，Spark™ 3.0 检测引擎与先进图像采集可实现高灵敏度检测并将误报率降至最低。

亮点

• 线性电机，运动平稳且静音
• 紧凑的机械平台
• 高性能图像处理固件
• 增强型照明模块
• 新作业快速直观的设置
• 兼容前端 AMHS 自动化或机器人

可选项

• +2DM™ 计量 – 面板尺寸测量
• +2CD™ 计量 – 电路元件二维测量
• LDI™ – 激光钻孔检测选项
• CDB™/CDBIC™ – 缺陷分类与虚拟缺陷映射
• VVS™ – 虚拟验证系统

技术规格

• 应用：用于卷对卷（R2R）工艺中 FPC 的自动光学检测（AOI）
• 最小可检测线/间距：30 µm
• 光学技术：Microlight™ Gen II 照明
• 检测引擎：Spark™ 3.0 cross-platform
• 图像采集与软件：采用先进检测算法的前沿图像采集系统
• 检测性能：高灵敏度检测并尽可能降低误报率
• 运动系统：线性电机，运动平稳且静音
• 机械：适用于 R2R 产线的紧凑平台设计
• 照明：增强型照明模块以实现最佳覆盖
• 设置：新作业快速直观的设置
• 自动化兼容性：兼容前端 AMHS 或机器人集成
• 可选模块：+2DM™, +2CD™, LDI™, CDB™/CDBIC™, VVS™