光学检测系统 Galaxy PVH

自动化灌装水平缺陷检测

描述
Galaxy PVH 是一款用于填充通孔（PVH）检测的 AOI 系统，最小可检测孔径为 75 µm。可在同一 PCB 面板上检测树脂填充的通孔和激光填充的 via，适用于 MLB 与 HDI PCB 的大批量生产。PVH 选件将 AOI 能力扩展到机械钻孔与激光钻孔两种类型，能够可靠检测填充钻孔内部的缺陷。

亮点

• 对树脂填充钻孔内部缺陷的出色检测能力
• 线性电机，运动平稳且噪音低
• 基于紧凑型 Galaxy 平台构建
• 高性能图像处理固件
• 强大处理器以应对大量数据
• 新工单设置快速直观
• 用于过程控制的全面统计输出

选项

• 用于计算钻孔偏移和直径违规的统计包
• CDB™/CDBIC™ – 缺陷分类和虚拟缺陷映射
• VVS™ – 虚拟验证系统

技术规格

• 产品类型：用于填充通孔（PVH）的 AOI 系统
• 最小可检测孔径：75 µm
• 在同一面板上检测树脂填充通孔和激光填充 via
• 目标市场/应用：MLB 与 HDI PCB 的大批量制造
• 光学技术：Microlight™ 提供优化的光覆盖
• 检测：可定制的检测算法以实现严格的缺陷检测
• 机械：线性电机实现平稳且低噪运动
• 平台：基于紧凑型 Galaxy 平台构建
• 处理：高性能图像处理固件与强大处理器以处理大量数据
• 设置：工单设置快速且直观
• 数据与控制：强大的统计包提供实时过程控制和激光钻孔工具校准
• 可用选项：用于钻孔偏移/直径违规的统计包、CDB™/CDBIC™ 分类与虚拟缺陷映射、VVS™ 虚拟验证