概述Galaxy 7Cχ 是面向 IC 基板的自动光学检测(AOI)系统,支持最小线宽/间距可达7 µm,适用于大批量生产。系统配备彩色相机与先进光学,可在生产扫描速度下获取高分辨率图像。
要点- Prisma™ Gen II 光学技术:提供灵活的照明覆盖和高对比度
- Spark™ 3.0 跨平台检测引擎:支持可定制的缺陷检测算法
- 彩色图像采集,优化以在高速下实现高分辨率捕获
- 线性电机实现平稳且低噪音的运动
- 适合工厂集成的紧凑机械平台
- 第6代硬件,带增强照明模块
- 快速直观的作业设置,减少换线时间
可选项- Fi™ – 成品板最终检测选项
- +2DM™ 计量 – 面板尺寸测量
- +2CD™ 计量 – 电路元件二维测量
- +3DH™ 计量 – 电路元件高度的三维测量
- +3DP™ 计量 – 电路元件的三维轮廓测量
- LDI™ – 激光钻孔检测选项
- CDB™/CDBIC™ – 缺陷分类与虚拟缺陷映射
- VVS™ – 虚拟验证系统
- X-WAVE™ – 多波长照明
技术规格- 最小可检测线宽/间距:可达7 µm
- 光学技术:Prisma™ Gen II,提供灵活照明和最大对比度
- 图像采集:彩色相机,支持在高扫描速度下的高分辨率采集
- 检测引擎:Spark™ 3.0 跨平台检测引擎
- 机械运动:线性电机以实现平稳且低噪音的运动
- 平台:适用于工厂集成的紧凑机械平台
- 硬件代次:第6代硬件
- 照明:增强照明模块(可选 X-WAVE™ 多波长)
- 软件:可定制的检测算法以优化检测并最小化误报
- 自动化兼容性:支持前端 AMHS 自动化或机器人对接
- 可用计量与检测选项:Fi™, +2DM™, +2CD™, +3DH™, +3DP™, LDI™, CDB™/CDBIC™, VVS™