光学检测系统 Galaxy Flex 25μ

自动化机械手表面缺陷

描述
用于软性及刚柔性 PCB 检测的 AOI，最小线宽/间距可达 25 µm。Galaxy Flex 25μ 是一款面向软性与刚柔性电路板大批量生产的 CIMS AOI 系统。该系统可扫描 25 µm 线宽/间距技术，集成 Microlight™ Gen II 光学模块，以在严格的检测任务中提供优化的照明覆盖。结合可配置的检测算法，平台实现高分辨率图像采集与精确的缺陷识别。Galaxy Flex 25μ 由 Spark™ 3.0 跨平台检测引擎驱动，支持一致的检测流程。

亮点

• 线性电机实现平稳且低噪声运动
• 紧凑型机械平台
• 高性能图像处理固件
• 增强型照明模块（Microlight™ Gen II）
• 新工单快速且直观的设置
• 兼容前端 AMHS 自动化或机器人搬运

可选项

• +2DM™ 计量 – 面板尺寸测量
• +2CD™ 计量 – 电路元件二维测量
• LDI™ – 激光钻孔检测选项
• CDB™/CDBIC™ – 缺陷分类与虚拟缺陷映射
• VVS™ – 虚拟验证系统

特性 / 技术规格

• 产品类型：用于软性及刚柔性 PCB 的 AOI（自动光学检测）
• 最小线宽/间距能力：25 µm
• 光学技术：Microlight™ Gen II（为严格检测优化的增强照明）
• 检测引擎：Spark™ 3.0（跨平台检测引擎）
• 目标产量：为大批量制造设计
• 图像采集与软件：具备先进软件功能的高分辨率图像采集
• 检测性能：高检测灵敏度且误报率低
• 运动系统：线性电机实现平稳且低噪声运动
• 机械设计：紧凑型机械平台
• 自动化兼容性：兼容前端 AMHS 自动化或机器人集成
• 可用选项：+2DM™, +2CD™, LDI™, CDB™/CDBIC™, VVS™