简介TR7700Q TB SII 是一款双面自动光学检测(AOI)系统,提供3D顶视和2D底视检测,用于对THT、DiP和SMD缺陷进行高覆盖率检测。配备TRI的AI算法和计量级测量功能,支持精密检测并便于与智能工厂集成的数据交换。
主要特性- 高速3D顶视与2D底视检测,最高达57 cm²/s
- 对THT/DIP装配具有高缺陷覆盖率
- AI驱动算法与智能编程工具
- 计量级测量能力
- 支持工业4.0/智能工厂并具备MES连接能力
光学系统成像方式:停走式(Stop-and-Go)成像
顶端相机(3D):12 Mpix;分辨率:10 µm 或 15 µm(视配置而定)
底部相机(2D):6.5 Mpix;分辨率:10 µm 或 12.5 µm(视配置而定)
3D技术(顶):四路数字条纹投影(Quad digital fringe projectors)
最大3D高度范围:40 mm
照明:多相真彩LED
成像性能最大成像速度:57 cm²/s
运动平台与控制X轴控制:丝杠(Ballscrew)+ 交流伺服,带运动控制器
Y轴控制:丝杠(Ballscrew)+ 交流伺服,带运动控制器
Z轴控制:丝杠(Ballscrew)+ 交流伺服,带运动控制器
X-Y-Z轴分辨率:1 µm
基板处理最大PCB尺寸:510 x 510 mm
PCB厚度:0.5 - 6 mm
最大PCB重量:3 kg(可选 5 kg)
顶端净空:50 mm
底部净空:40 mm
传送线/在线高度:880 - 920 mm(可选 940 - 965 mm)— 兼容SMEMA
检测功能- 元件缺陷:缺件;立碑;板装偏置(Billboarding);极性;旋转;偏移;错误标识(OCV);损坏;倒装;多余元件;异物;元件翘起
- THT缺陷:缺件;位置偏移;焊接缺陷;针孔;气泡;引脚高度;引脚角度;引脚偏移;短路桥接;润湿性问题
- 焊点缺陷:焊缝高度;焊料体积%;焊料过多;焊料不足;桥连;通孔引脚;引脚翘起;金手指划痕/污染
尺寸WxDxH:1200 x 2020 x 2000 mm(不含信号塔;信号塔高度 488 mm)
重量:1720 kg
配置与选项配置:1)Top 12 MP 10 µm / Bottom 6.5 MP 10 µm;2)Top 12 MP 15 µm / Bottom 6.5 MP 12.5 µm。
可选:用于底部向上检测的Z轴;线性编码器模块;双丝杠 + 伺服电机。
智能工厂与软件AI驱动算法与计量级测量用于精密检测。智能工厂就绪:支持MES连接及标准 IPC-CFX、IPC-DPMX、IPC-HERMES-9852。
技术规格- 品牌:TRI (Test Research, Inc.)
- 型号:TR7700Q TB SII
- 最大成像速度:57 cm²/s
- 顶端相机:12 Mpix(10 µm 或 15 µm)
- 底部相机:6.5 Mpix(10 µm 或 12.5 µm)
- 最大3D高度范围:40 mm
- 3D技术:Quad digital fringe projectors(顶)
- 照明:多相真彩LED
- X-Y-Z轴分辨率:1 µm
- 最大PCB尺寸:510 x 510 mm
- PCB厚度:0.5 - 6 mm
- 最大PCB重量:3 kg(可选 5 kg)
- 顶端净空:50 mm;底部净空:40 mm
- 传送线内置高度:880 - 920 mm(可选 940 - 965 mm)
- 尺寸(WxDxH):1200 x 2020 x 2000 mm
- 重量:1720 kg
- 支持标准:IPC-CFX、IPC-DPMX、IPC-HERMES-9852
- AI辅助检测与计量级测量