光学检查机 BM310B

用于半导体用于电子工业

BM310B 主要应用于半导体分立器件、集成电路和 LED 的外观检测，可测量芯片、引线、AI 带、夹片、键合点的尺寸，并检测其缺陷。 引线框架尺寸 25-100mm 误报率 ≤0.05% 高精度测量与检测 凭借高精度检测性能和可靠的自动化集成能力，赢得了客户的认可 卓越的精度 检测精度 ±3μm@3σ 高效率 DFN 产品检测量 ≥30K 强大的兼容性 支持 Au/Cu/Al 引线产品的检测；服务于半导体和 LED 行业 出色的可靠性 AI 算法助力将误报率控制在 ≤0.05%