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X射线检测系统 TR7600F3D SII
焦平面阵列拍照式3D

X射线检测系统 - TR7600F3D SII - TRI Test Research Europe GmbH - 焦平面阵列 / 拍照式 / 3D
X射线检测系统 - TR7600F3D SII - TRI Test Research Europe GmbH - 焦平面阵列 / 拍照式 / 3D
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产品规格型号

技术
拍照式, X射线, 3D, 计算机断层成像, 焦平面阵列
运行模式
自动化
类型
缺陷检测, 钎焊
应用
PCB印刷电路板
配置
在线
其他特性
高解析度, 电脑控制, 非接触式

产品介绍

简介
TR7600F3D SII 是一款用于高速PCB检测的在线自动X射线检验(AXI)系统,成像分辨率可达5 µm。LL SII 型号可检测最大至1000 x 660 mm 的大板,在不影响生产节拍的情况下降低漏检和误报率。

主要特点
  • 高精度成像:5 µm — 支持细小缺陷检测
  • 高产能:新一代机械设计,最高可达20 FOV/s
  • 在线微调:无需停线即可对多样品进行调整
  • 工厂互联:支持MES集成,SMEMA兼容,适用于智能工厂


成像系统
  • 相机:平板探测器
  • X射线源电压:60–130 kV
  • 成像分辨率范围:5 µm – 30 µm
  • 检测方法:2D、2.5D、3D切片;可选平面CT


运动平台与控制
  • X/Y/Z 轴:高精度滚珠丝杠 + 交流伺服控制器
  • 可选:高精度双驱动滚珠丝杠(TR7600F3D LL SII)
  • 机械设计针对高速度扫描进行了优化,确保稳定性


板材搬运
  • 最大PCB尺寸:TR7600F3D SII — 900 x 460 mm;TR7600F3D LL SII — 1000 x 660 mm
  • PCB厚度:SII 0.6–7 mm;LL SII 0.4–7 mm
  • 最大PCB重量:12 kg
  • 上下间隙:上侧 @20/25/30 µm = 50 mm;@15 µm = 45 mm;@10 µm = 25 mm;@5 µm = 5 mm。下侧 @30 µm = 55 mm;@5/10/15/20/25 µm = 70 mm
  • 边缘间隙:3 mm 或 5 mm
  • 输送高度:880–920 mm(可选 940–965 mm)
  • 兼容 SMEMA


检测功能
能力:
  • Missing
  • Misalignment
  • Tombstone
  • Billboard
  • 钽极性
  • Rotation
  • Floating
检测缺陷:
  • 锡量不足 / 过多
  • 桥连(Bridging)
  • 开路(Open)
  • 焊球
  • 未润湿(Non-wetting)
  • 空洞(Void)
  • 引脚翘起


尺寸与电源
  • 外形尺寸(W×D×H):SII 1470 x 1971 x 1974 mm;LL SII 1730 x 2300 x 1975 mm(不含信号塔高度502 mm)
  • 重量:SII 3850 kg;LL SII 4850 kg
  • 电源要求:200–240 VAC 单相,50/60 Hz,4 kVA


技术规格
  • 型号:TR7600F3D SII(可选:TR7600F3D LL SII)
  • 品牌:Test Research, Inc. (TRI)
  • 相机:平板探测器
  • X射线源电压:60–130 kV
  • 成像分辨率:5 µm – 30 µm
  • 检测方法:2D、2.5D、3D切片;平面CT(可选)
  • 最大PCB尺寸:900 x 460 mm(SII) / 1000 x 660 mm(LL SII)
  • PCB厚度:0.6–7 mm(SII) / 0.4–7 mm(LL SII)
  • 最大PCB重量:12 kg
  • 运动控制:高精度滚珠丝杠 + 交流伺服控制器(可选双驱动滚珠丝杠)
  • 产能:最高20 FOV/s
  • 电源:200–240 VAC,单相,50/60 Hz,4 kVA

展厅

该卖家将出席以下展会

ELECTRONICA 2026
ELECTRONICA 2026

10-13 11月 2026 Munich (德国) 展会 A4 - 展台 638

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    * 显示价格为参考价,此价格不含税、不含运费、不含关税,也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。