产品概述surfaceCONTROL 3D 3560 是一款全集成的 3D 快照传感器平台,面向在线生产检验。它可在短时间内采集高密度、全视野的 3D 测量数据,支持 SMART 与 3D DATA 两种输出模式,便于快速评估与灵活的数据处理。
主要特点- 超高精度:Z 轴重复精度可达 0.25 µm
- 高速 3D 采集:采集时间可低至 0.2 s,适应短节拍生产
- 高数据密度:单次测量超过 1000 万个 3D 点
- SMART 全集成:传感器内置评估与软件,无需外部运算单元
- 可直接输出测量值以支持在线自动化
- 工业接口便于与机器直接集成
SMART 与 3D DATA 模式SMART 模式:内置评估在传感器控制器中直接运行。通过 3DInspect 创建的测量程序可保存在传感器上并在不依赖外部评估单元的情况下执行,从而实现直接的合格/不合格判定及测量值输出。
3D DATA 模式:传感器输出完整且已校准的 3D 点云,用户可通过千兆以太网和 Micro‑Epsilon 3D SDK 在客户软件中进行高分辨率处理。
接口与集成传感器支持常用工业现场总线与自动化接口以便直接与机器集成:PROFINET、EtherCAT 与 EtherNet/IP。测量值与评估结果可直接传输至设备控制器以实现在线自动化。
测量视场 / 型号(典型范围)SC3560-30-IE — Z 最大 130 ±6 mm;XY 最大 30.5 mm × 19.0 mm
SC3560-80-IE — Z 最大 130 ±20 mm;XY 最大 77.5 mm × 52 mm
SC3560-120-IE — Z 最大 206 ±35 mm;XY 最大 123.5 mm × 80 mm
SC3560-240-IE — Z 最大 440 ±100 mm;XY 最大 245 mm × 170 mm
适用场景 / 应用示例- 整件平面度测量(例如充电连接器)
- 印制电路板上的微小高度差检测
- 车身零部件的缺陷检测
- 高速产线上的在线质量控制与机器人辅助检测
技术规格- Z 轴重复精度:可达 0.25 µm
- 横向分辨率(典型):可达约 8 µm(与型号相关)
- 最短采集时间:约 0.2 s 起(视模式与测量视场而定)
- 数据密度:单次测量 >10,000,000 个 3D 点
- 测量模式:SMART(传感器内评估)与 3D DATA(完整校准点云)
- 集成软件:通过 3DInspect 创建测量程序并在传感器上运行
- 接口:PROFINET、EtherCAT、EtherNet/IP、千兆以太网
- SDK:提供 Micro‑Epsilon 3D Sensor SDK 以便客户集成
- 可选型号:SC3560-30-IE、SC3560-80-IE、SC3560-120-IE、SC3560-240-IE