膜测厚仪 thicknessGAUGE O.IMS

薄型材料固定式非接触式

概述
thicknessGAUGE O.IMS 是用于隔膜涂层及电池涂层在线厚度测量的紧凑型传感器系统。该系统采用紧凑 O 型框架设计，使用穿透薄膜的白光干涉仪实现单侧非接触测量。两个传送滚轮用于稳定薄膜以保证测量可靠性。

测量模式与适用性
系统可在横向扫描（traversing）或定轨测量（例如中心线或边缘厚度）模式下运行。适用于间歇薄膜和纵向涂层薄膜，可在固定位置测量或生成纵向厚度轮廓。

软件与集成
紧凑单元包含集成线性单元（含电机控制）、紧凑型总线端子盒、自动校准装置以及预装软件的多点触控PC。随附软件支持数据采集、信号处理与自动化。支持的测量模式包括定轨厚度测量、轮廓测量、多条纵向趋势测量、SPC 套件以及测量系统能力的自动监控。

应用

• 对涂覆和未涂覆的电池薄膜及隔膜进行高分辨率厚度测量
• 定轨测量（如中心线）与横向轮廓测量
• 适用于间歇薄膜及纵向涂层工艺的在线质量控制

特征 / 技术规格

• 型号：thicknessGAUGE O.IMS
• 传感技术：白光干涉（单侧非接触测量）
• 用于在线厚度测量的紧凑完整解决方案
• 适用于涂覆和未涂覆的电池薄膜与隔膜
• 材料宽度：最高可达1250 mm
• 系统精度：±0.2 µm
• 测量模式：横向测量或定轨测量
• 带材稳定：两个传送滚轮
• 全自动校准功能
• 随附软件用于数据采集、信号处理与自动化