膜测厚仪 thicknessGAUGE C.C
涂层薄型材料固定式

膜测厚仪 - thicknessGAUGE C.C - MICRO-EPSILON/米铱 - 涂层 / 薄型材料 / 固定式
膜测厚仪 - thicknessGAUGE C.C - MICRO-EPSILON/米铱 - 涂层 / 薄型材料 / 固定式
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产品规格型号

应用
涂层, 薄型材料, 用于膜
类型
固定式
所用技术
非接触式, 彩色共聚
校准
带自动校准功能
其他特性
精准, 紧凑型, 高解析度, 非接触式, 在线, 智能
测量范围

2.5 mm
(0.1 in)

测量精度

0.4 µm

测量频率

最多: 10,000 Hz

最少: 1 Hz

测量宽度

最多: 600 mm
(23.6 in)

最少: 0 mm
(0 in)

分辨率

40 nm

环境温度

最多: 45 °C
(113 °F)

最少: 5 °C
(41 °F)

产品介绍

概述
thicknessGAUGE 传感器系统用于在线测量带材的厚度。针对具有不同表面特性的薄膜厚度测量,提供多种型号,具有不同的传感器类型、测量范围和测量宽度。该系统采用两个距离传感器,可高精度检测带材厚度。传感器相互精确对准并已在出厂时校准。通过线性轴可移动 thicknessGAUGE 传感器系统,以测量整个带材宽度上的厚度。其极其紧凑的结构便于在狭小的安装空间内集成。

使用与变体
thicknessGAUGE 可用于固定轨测量,例如中心线(中心厚度)或边缘厚度测量。作为替代,传感器系统也可用于横向(traverse)厚度测量。由于其多功能性,thicknessGAUGE 适用于间歇式薄膜和纵向涂布薄膜。

软件与控制
这些紧凑型系统配备了集成线性单元,包括电机控制、紧凑型总线端子箱、自动校准装置以及预装软件的多点触控 PC。软件支持多种测量模式:任意位置的固定轨厚度测量、厚度轮廓测量、多个纵向剖面测量、MSP/SPC 包以及测量系统能力的自动监控。

应用
  • 电极薄膜的在线厚度测量(涂覆和未涂覆)
  • 透明和半透明涂层的测量
  • 固定轨测量(中心线、边缘)与横向测量(跨宽度扫描)

特性 / 技术规格
  • 使用传感器:光谱共焦传感器 / 激光轮廓扫描仪 / 带小激光线的激光测距传感器
  • 适用于涂覆和未涂覆电池薄膜的高分辨率厚度测量
  • 亦适用于透明和半透明涂层
  • 厚度测量范围:2 mm
  • 精度:从 ±0.4 µm 起
  • 测量速率:最高可达 5 kHz
  • 全自动校准
  • 紧凑设计,带线性轴用于横向扫描
  • 集成线性单元包含电机控制、总线端子箱、自动校准装置及多点触控 PC
  • 软件模式:固定轨厚度测量、厚度轮廓测量、多个纵向剖面、MSP/SPC 包、自动能力监控

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* 显示价格为参考价,此价格不含税、不含运费、不含关税,也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。