膜测厚仪 thicknessCONTROL BTG 8702 C.C

用于干燥膜涂层固定式

概述
Micro-Epsilon 提供多种用于涂布线的厚度测量系统，可满足不同的需求与应用场景。thicknessCONTROL C 型支架专为干涂层等苛刻环境设计。其坚固的框架和集成温度补偿可在较高环境温度下仍保证高测量精度。系统可根据应用定制，支持不同薄膜宽度并最多扩展至 8 条测量通道。

主要特点

• 用于涂覆阳极/阴极薄膜的高精度厚度测量系统
• 传感器技术：光谱共焦（confocal）传感器
• 适用于干涂层过程的厚度测量与控制
• 坚固设计，具有集成温度补偿
• 厚度测量范围起始约 10 µm
• 系统精度可达 ±0.3 µm 起
• 包含用于数据采集、信号处理与自动化的完整软件包
• 可配置通道数：1 | 2 | 3 | 4 | 6 | 8

应用 / 工作模式
适用于固定通道测量（如中心线或边缘厚度）以及涂覆电池薄膜的横向（遍历）厚度测量。系统可配备多个传感器，实现最多 8 通道的同步测量，从而支持在线过程控制与 SPC 监测。

系统组成与软件功能
thicknessCONTROL 系统通常由集成线性单元（含电机控制）、紧凑型总线端子盒、自动校准单元以及预装软件的多点触控 PC 组成。软件支持的测量模式包括任意位置的固定通道厚度测量、厚度剖面测量、多个纵向趋势测量、SPC 工具和测量系统能力的自动验证。

典型配置示例（BTG8702 2C.4K）
示例型号 BTG8702 2C.4K 由两个坚固的测量框架组成，每个框架配备共焦传感器。该系统可监测总宽度达 1.6 m 的 8 条涂覆轨道。其坚固设计在干涂层工艺中提供长期稳定的高精度测量，且在全自动校准时测量框架可回到停放位置。

特征 / 技术规格

• 产品系列：thicknessCONTROL
• 传感器类型：光谱共焦传感器
• 测量对象：涂覆的阳极/阴极薄膜（干涂层工艺）
• 测量范围（示例起始值）：约 10 µm 起
• 系统精度：约 ±0.3 µm 起
• 可配置通道数：1、2、3、4、6、8（最多 8 通道）
• 最大监测总宽度（示例配置）：约 1.6 m（双框架、8 通道示例）
• 系统组成：集成线性单元（含电机控制）、紧凑型总线端子盒、自动校准单元、多点触控 PC（预装软件）
• 软件功能：固定通道厚度测量、厚度剖面测量、横向厚度测量、纵向趋势、SPC 套件、测量能力自动验证等