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测量范围: 10 mm - 25 mm
测量精度: 2 µm - 5 µm
测量频率: 4 kHz - 4 kHz
... thicknessGAUGE C.L传感器系统使用激光三角测量传感器进行厚度测量。这些激光传感器能在高速下实现高测量率。thicknessGAUGE.laser系列以良好的性价比给人留下深刻印象，最好用于普通表面的厚度测量，如塑料、木材和金属。 thicknessGAUGE传感器系统可用于带材加工和板材生产，以连续测量单个工件的厚度。 在单个测量点上连续测量厚度。这些系统的设计方式使其既可作为初始设备，又可用于现有设施的改造。这些传感器系统以高精度为基础，配备了智能传感器技术，被应用于各个行业。 强大的分析和控制软件。 thicknessGAUGE系统配备了一个多点触摸的软件包，用于 分析、展示和归档监测的生产数据。这个软件能够 不同的测量模式，如在任何位置的固定轨道厚度测量。 测量厚度曲线，测量几个纵向趋势，SPC 包和自动验证测量系统的能力。它可以确保轻松 它确保了对测量系统能力的简单和快速的验证，该系统可单独调整。 用于记录和过程控制的功能。 - ...
MICRO-EPSILON/米铱
测量范围: 2 mm
测量精度: 4 µm
测量宽度: 200 mm - 400 mm
... thicknessGAUGE C.C传感器系统使用共聚焦色度位移传感器进行厚度测量。这些传感器使测量工作具有出色的准确性和高测量率。此外，这种创新的测量技术可以测量反射和闪亮的表面，以及（半）透明的测量对象。 厚度GAUGE传感器系统被用于带材加工和板材生产，以便在个别地方连续测量厚度。 为了连续测量各个测量点的厚度。这些系统的设计方式使其既可作为初始设备，又可用于现有设施的改造。这些传感器系统以高精度为基础，配备了智能传感器技术，被应用于各个行业。 强大的分析和控制软件。 thicknessGAUGE系统配备了一个多点触摸的软件包，用于 分析、展示和归档监测的生产数据。这个软件能够 不同的测量模式，如在任何位置的固定轨道厚度测量。 测量厚度曲线，测量几个纵向趋势，SPC 包和自动验证测量系统的能力。它可以确保轻松 它确保了对测量系统能力的简单和快速的验证，该系统可单独调整。 具有记录和过程控制的功能。 文章数据库 生产档案 统计评估 返回生产的极限值监测（可选现场总线接口） 测量系统能力的验证 ...
MICRO-EPSILON/米铱
测量范围: 3 mm
测量精度: 0.3 µm
测量频率: 3.9 kHz
... thicknessGAUGE O.EC是一个紧凑的在线测量系统，用于精确测量厚度不超过3毫米的塑料薄膜和板材。 用于精确测量塑料薄膜和板材的厚度，其材料厚度最大为3毫米。这个 这个紧凑的系统由一个坚固的底架、一个集成控制柜和一个测量辊组成。 测量辊，在combiSENSOR KSS6430的基础上工作。它根据功能原理检测 它根据右侧解释的功能原理检测测量对象的厚度。它与制造过程中的 在制造过程中与测量辊相匹配，以便提供最高的精度，即使在这个设备级别中也是如此。 thicknessGAUGE O.EC可以生成材料厚度的横向剖面图，即使是在这个设备级别中。 和任何宽度位置的纵向轮廓。 测量数据显示在供货范围内的触摸屏IPC上。 通过可选的网络或现场总线接口， ...
MICRO-EPSILON/米铱
... 测量层压板、金属和金属化基材上的薄膜涂层 专门设计用于测量铝或金属化薄膜、印刷薄膜或铝箔基材上的薄、透明或浅色有机涂层。 • 高性能测量 — SR710S 具有 7.5 毫秒的测量速度（比其他红外测量仪快 10 倍），可提供高速测量性能和精确度，以便在快速移动的网络上实现稳健可靠的测量 • 在任何环境下均经过验证的性能 —— 不受影响过程和环境条件的变化，如照明波动，温度，相对湿度，空气质量（灰尘，蒸发，含量等），卷状扑动和批次对批次的基材变化 • 非核技术-不需要特殊许可证或保护防护装置 • ...
测量范围: 0 mm - 20 mm
测量精度: 0.02, 0.002, 0 mm
... 这款刻度盘指示器测厚仪可以测量带有平面接触点的管壁厚度、薄膜/纸张等，以及镜片厚度或凹槽深度。 ...
测量范围: 2.25 µm - 360 µm
重量: 195 g
... 适合测量半透明湿膜的厚度，例如清漆 , 油等 提供不锈钢, 该仪器由2个同心圆筒组成 ，一个圆筒可在另一个圆筒内滑动。球形玻璃透镜安装在筒中心底部 ，当在湿膜上按压 ，会留下痕迹。 测量透镜痕迹的直径，然后利用随供的转换表便可轻易获知涂层的厚度。 测量范围2.25 - 360μm(0.09 - 14.17mils). ...
测量范围: 0 mm - 12 mm
分辨率: 0.1 µm
重量: 32 kg
... 应用 — 薄膜和箔片测试、纸张和纸板测试、纺织和非织布测试、金属板测试、食品包装 测试性能 — 厚度 测试方法 — 表型接触方法 标准 — ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、ASTM 产品 特点 — 自动提升压脚 — 实时显示测试结果 — 最大值、最小值和平均值 — 自动统计和打印功能 — 带液晶的微型计算机控制 — RS 232 规格 -测试范围 0 〜 2 毫米（标准），0 〜 6 毫米，12 毫米（可选） -分辨率：0.1 ...
... 应用 — 薄膜和箔片测试、纸张和纸板测试、纺织和非织布测试、金属板测试、食品包装 测试性能 — 厚度 测试方法 — 表型接触方法 标准 — ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、ASTM 产品 特点 — 自动提升压脚 — 实时显示测试结果 — 最大值、最小值和平均值 — 自动统计和打印功能 — 带液晶的微型计算机控制 — RS 232 规格 -测试范围 0 〜 2 毫米（标准），0 〜 6 毫米，12 毫米（可选） -分辨率：0.1 ...
测量范围: 0 mm - 12 mm
分辨率: 0.1 µm
重量: 30 kg
... 测厚仪THK-01是一款测试准确的全自动测厚仪，测厚仪被广泛应用于质检单位、薄膜生产厂家、光伏厂等单位。 测厚仪THK-01采用机械接触式测量方式，符合多项国际标准，广泛应用于塑料薄膜、薄片、纸张、橡胶、电池隔膜、箔片、无纺布、土工布、硅片等各种材料的厚度测量,,也称为机械接触式测厚仪、台式厚度测量仪。 产品特点 1.严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制 2.高精度测厚传感器，精度高、重现性好 3.多种测试量程可选，支持非标定制 ...
测量范围: 12 mm
分辨率: 0.1 µm
环境温度: 23 °C
... THK-02 厚度测试仪采用机械接触法，适用于塑料薄膜、薄片、纸张、橡胶、隔膜、铝箔、纺织品、无纺布、硅片等的厚度测量。 产品特点 标准接触面积和测试压力。可根据非标准测试要求进行定制 采用光栅传感器，检测精度高，响应速度快，重复精度可达 0.2μm 可选择多种测试范围 自动升降压脚，最大程度减少测试过程中人为因素造成的系统误差 嵌入式微电脑芯片，简化高效的用户界面为用户提供舒适流畅的操作体验 手动或自动操作模式，方便测试 标准化、模块化、系统化设计，满足用户个性化需求 7 ...
测量范围: 12 mm
测量精度: 0 mm
... MICROTECH 薄膜测厚仪有不同的测量范围 薄膜厚度测量仪可配备计算机、数字或刻度盘指示器，分辨率为 10、1 或 0.1 微米。 电脑测厚仪可通过无线或 USB 将数据传输到 Windows、Android 和 iOS 系统。 根据客户要求，还可生产定制配置和范围的测厚仪。 所有 MICROTECH 厚度计均通过 ISO17025 认证实验室的计量控制。 ...
MICROTECH
测量范围: 0 mm - 10 mm
分辨率: 0.5 µm - 10 µm
... •陶瓷测头，金属壳体和手柄，结构紧凑牢固，操作简便，工作稳定 •大LCD屏快速显示数据 •自动电源开关 •任意位置清零 •公英制转换 •3v环保锂电池，电池寿命大于1年 •三种测头形式可供选择 •测量珠宝、皮革、金属薄板、纸张、薄膜、橡胶、织物及各种金属板材、玻璃板等的厚度 ...
... TQC 薄膜测厚仪是一种高精度薄膜和箔片测厚仪，专门用于测量所谓的 “复制胶带”（Testex®），主要用于测量表面轮廓。 大屏幕清晰的显示屏使得在任何条件下都能轻松读取测量结果。 值可以显示为微米或英寸。 为了最大限度地减少体温/手温的影响，仪器安装于支架上。 TQC 薄膜测厚仪完全按照 “ISO 8503-5 在涂抹油漆和相关产品之前制备钢基材-爆破清洗钢基材的表面粗糙度特性-第 5 部分：用于确定表面轮廓的复制胶带法。” 如本标准所述，闭合力为 1,5 N. 仪表必须具有 ...
测量范围: 15 µm - 1,500 µm
测量频率: 4,000 Hz
... CHRocodile 2K 光学传感器利用红外光对不透明或不反光塑料的壁厚进行精确的非接触式测量。 优势 • 塑料壁厚测量 CHRocodile 2 K 光学传感器利用红外光对塑料产品进行单面非接触测量，例如薄膜、挤出吹塑薄膜、预成型品、聚酯瓶、泡罩和气球，包括在线和离线测量。 • 高精确度 高动态响应和出色的信噪比确保了在大距离公差范围内的精确测量结果。 • 紧凑型设计 传感器的紧凑设计使其能够集成到生产环境的狭小空间中。 • 完全符合用户需求的探头 每个单点传感器由一个控制器、一根光纤和一个光学探头组成。我们从大量光学探头中精心选择，确保定制解决方案满足客户要求。 技术数据 • ...
... ECV Pro 系统的设计从头开始，消除了数据中所有依赖于操作员的变化。 产品概 述 ECV Pro 系统是测量半导体层中有源载波浓度曲线的行业标准。 该系统新设计的数字电子元件消除了漂移，并显著提高了信噪比。 ECV Pro 系统的独特设计消除了数据中所有依赖于操作员的变化。 推出第一台原位摄像机 EcVision，使用户能够成像半导体/电解质接口。 它还提供了在蚀刻过程中的薄膜去除或缺陷揭示的新的见解。 ECV Pro 系统软件基于行业标准的 SEMI E-95 指南。 该软件支持自动分析，并可编程以生成过程控制图。 ...
Onto Innovation Inc.
分辨率: 0.001, 0.01 mm
重量: 4 kg
... 橡胶、热塑性弹性体、塑料薄膜、布料、纺织品、皮革等物理测试被测件的厚度测量方法由 JIS 或 ISO 详细规定。 相关标准 JIS K 6250 - 为物理测试方法准备和调节试片的一般程序 JIS K 6783 - 用于农业的乙烯/醋酸乙烯共聚物薄膜 JIS Z 1702 - 包装用聚乙烯薄膜 JIS Z1709 - 包装用热收缩塑料薄膜 JIS L 1086 - 可熔衬织物和复合织物的测试方法 JIS L 1096 - 机织物和针织物的测试方法 ISO 4591 - 塑料 - 薄膜和薄片 ...
Toyoseiki
... 在线监测材料的均匀性以及镀层的厚度 可自由选择测试点的数量，最多可定制45个测试点 双路的RS485通讯接口，MODBUS通讯协议 抗干扰强，测试数据稳定性好 LS152真空镀膜在线测厚仪利用材料的透过率（光密度）和材料的镀层厚度成一定比例关系这一原理，通过监测材料的光学透过率来达到监控材料镀层厚度及其均匀性的目的。 只要光能透过的材料，都可以通过监控透过率来监控产品的品质。因其可监测透过率和光密度两个参数，也称被为光密度在线检测仪。被广泛应用于卷绕式真空镀膜机、玻璃镀膜生产线、太阳膜涂布线等场合。 ...
... Metrix FILM 用于测量静态或动态薄膜或部件的厚度，可离线或在线测量。 用于非接触式厚度控制 METRIX FILM传感器是LVDT和气动传感器的独特组合。 它们可以进行非接触式测量，具有很高的精度和准确性，并兼容在线使用。 应用 METRIX FILM的应用包括塑料薄膜和橡胶条挤出生产线的厚度控制。它也适用于各种形式的产品（如板、膜、垫、片、粒）。 它与材料的颜色或亮度无关。 为什么它是独一无二的？ 精确、准确的厚度测量。 低至微米级或更高，低R&R量规。 可变性测量 适用于各种形式（如板、膜、垫、片、颗粒），且与材料的颜色或亮度无关。 材料友好型控制 与非接触式气动传感器，可以保持材料的完整性。 在线测量选项 用于运动部件或薄膜的自动测量。 ...
... K-500 Rotomat KT是一款全新设计的厚度测量仪，用于吹膜生产线。 K-500的电容式厚度传感器由一个表面非常光滑的烧结陶瓷制成的盖子保护。尽管K-500经常与薄膜接触，但这使得厚度测量的磨损程度极低。 第三代Rotomat KT的标准配置是一个虚拟数据处理器。所谓的VDP程序在Windows PC的后台运行，类似于打印机的驱动程序。这个在Windows XP或更高版本上运行的Win32应用程序，构成了生产线控制系统和测厚仪以及最多两个可选的宽度测量单元FE-8之间的接口。 ...
HCH. KÜNDIG & CIE. AG
测量范围: 1 nm - 13,000,000 nm
... Filmetrics成立于1995年，其使命是让薄膜测量变得简单而实惠。它是世界知名的薄膜测量制造商，其系统被大型企业指定使用，并被知名学校科研单位广泛使用。通过反射率，或透射率，可以测量从tnm到13mm的薄膜厚度。而且没有活动部件，几秒钟就可以得到结果：薄膜厚度、颜色、折射率、甚至是粗糙度，是过程监控和提高生产产量的可靠工具。 特征 - 易于安装和操作 - 配置阵列检测器，稳定的光源，以实现快速、高稳定性的测量。 - 拥有至少1000个材料、库数据。Aleo用户可以创建自己的数据库。 - 根据不同的应用提供不同的配置，系统可轻松扩展。 - ...
... 晶振膜厚控制仪的传感器，可装载6个或12个晶振片 。 产品特点 用于测试镀膜过程中的膜厚及成膜速率。 主要特点 1. 晶振膜厚控制仪的传感器，可装载6个或12个晶振片。 2. 当晶体失效 (Crystal Fail)时，能自动转换到下一个晶振片，可以直接继续使用。 3. ...
测量范围: 0 µm - 300 µm
测量精度: 0.2 µm
测量宽度: 100 mm
... 产品描述
TSM 厚度剖面测量系统（GPA EVO II）是一款面向吹塑和浇铸薄膜制造商的离线实验室级薄膜厚度剖面分析仪。该系统结合了非接触电容式和千分表式传感器、自动校准功能以及集成的 GPA-Win 软件，可在整个薄膜剖面上提供微米级的可重复测量。适用于质量控制、实验室测试和工艺验证，支持独立的厚度核查以保障生产控制并满足 ISO/DIN 合规要求。
主要特点
- 测量类型：用于吹塑和浇铸薄膜的离线厚度剖面测量
- 测量精度：±0.2