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厚度测量干涉仪 interferoMETER 5400-TH光学白光高精度
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产品规格型号
- 应用
- 用于厚度测量
- 技术参数
- 光学, 高精度, 白光
产品介绍
白光干涉仪用于亚微米精度的稳定厚度测量
新型 IMS5400-TH 白光干涉仪为工业厚度测量开辟了新的前景。该控制器具有智能评估功能，能够以最高精度测量透明物体的厚度。
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