厚度测量干涉仪 interferoMETER 5400-TH

光学白光高精度

白光干涉仪用于亚微米精度的稳定厚度测量 新型 IMS5400-TH 白光干涉仪为工业厚度测量开辟了新的前景。该控制器具有智能评估功能，能够以最高精度测量透明物体的厚度。