干涉仪

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校准干涉仪
校准干涉仪
XL-80

XL-80系统快速、精确,而且非常轻便,因此它成为销量最好的激光校准系统丝毫不足为奇。XL-80采用先进的软件解决方案,具有优异的性能,可以帮助您显著提高企业效益。 雷尼绍设计、制造和提供激光系统已有超过25年的历史。XL-80正是多年设计和制造经验的结晶,具有真正领先的系统性能和操作优点。

差动干涉仪
差动干涉仪
RLD10

RLD10发射头内含有干涉镜组、独特的多通道条纹检测系统、激光光闸和内置的激光准直辅助镜。提供0°和90°两种RLD10发射头型号。 特性与优点 双轴解决方案 — 双轴平面镜系统是XY平台应用的理想解决方案。 高分辨率 — 与角锥反射镜系统相比,平面镜系统还可用于要求更高分辨率的应用。 敏感环境 — 还提供低功率型号的平面镜干涉仪发射头。适合其功耗要求低于标准RLD额定值(即 < 2 W)的应用。

激光干涉仪
激光干涉仪
Verifire™

... 验证 光学车间的计量工作主力军 Verifire激光干涉仪系统 Verifire™干涉仪系统可快速可靠地测量光学元件、系统和组件的表面形状误差和传输波面。 作为真正的激光Fizeau设计,Verifire™系统扩展了ZYGO在表面形状测量方面的无与伦比的经验。ZYGO制造的HeNe激光源与ZYGO的专利采集算法和全功能的Mx™计量软件相结合,实现了高精度计量和易于使用的分析功能。 车间里的自信计量 近年来,光学计量的技术有了很大的进步。 在过去,需要仔细控制环境影响以实现可靠的测量。 ...

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Zygo Corporation
激光干涉仪
激光干涉仪
DynaFiz®

... DynaFiz® 为动态世界提供可靠的计量服务 专为在振动频繁的环境中进行可靠的干涉测量而设计;通用性和灵活性足以满足广泛的应用需求,从高端望远镜测试到主动对准光学系统的实时相位反馈。 DynaFiz®的光效光学设计与ZYGO高功率氦氖激光源相结合,可在高相机快门速度下运行,从而 "冻结 "振动。这种动态能力在对传统的时空相移技术来说过于剧烈的环境中提供了可靠的测量。 主要特点 - 完全相干的光学设计可实现最高的光效,提高动态性能。 - 在易受振动的环境中进行测量的两种选择,ZYGO拥有专利的独特功能。 ...

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Zygo Corporation
平面度测量干涉仪
平面度测量干涉仪
Verifire™ MST

... Verifire™ MST 同步多面测试干涉仪 Verifire™ MST 激光干涉仪将复杂的情况简单化--多个表面会产生复杂的边缘图案,Verifire™ MST 采用专利的波长偏移技术同时采集多个表面的相位数据。 报告来自平行窗口单个表面的关键指标、传输波前,以及精确的表面到表面的信息,如总厚度变化(TTV)、楔形甚至材料不均匀性。 Verifire™ MST通过对薄至0.5毫米的测试部件进行精确的表面和厚度变化测量,满足移动设备显示屏玻璃、数据存储盘和半导体晶片等高要求的应用。 Verifire™ ...

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Zygo Corporation
激光干涉仪
激光干涉仪
XD Laser

可一次测量六个参数的激光干涉仪 80 米 线性测量范围 0.5 PPM 测量精度 6自由度 高效测量 4.2 KG 整机重量 多轴加工中心的校准 XD Laser激光干涉仪,一次安装可测得六个参数(包括x、y、z、俯仰角、偏摆角、滚动角),可实现对多轴加工中心的精准测量与评估。 快速测量 与传统干涉仪相比,XD激光干涉仪可以更加快速、准确地测量机床的定位和轴向数据,迅速完成整机的性能评估,停机时间可减少80%。 实时分析 API激光干涉仪软件系统可对XD激光干涉仪采集的数据进行实时分析处理并生成测量报告。 快速测量 与传统干涉仪相比,XD激光干涉仪可以更加快速、准确地测量机床的定位和轴向数据,迅速完成整机的性能评估,停机时间可减少80%。 6自由度测量 XD激光干涉仪,一次安装即可测得包括x、y、z、俯仰角、偏摆角、滚动角在内的6个参数,大幅提升测量效率。 适用于多种参数的测量 XD激光干涉仪可测量多种机床参数,包括速度、加速度、平行度、垂直度和平面度误差等等。 紧凑式设计 XD ...

菲佐干涉仪
菲佐干涉仪

... - Fizeau干涉仪 - 测量直径从4英寸到12英寸 - 花岗岩基座
-被动隔振系统 - 自动干扰评估 规格 系统: - 基于激光的、非接触式的、3D光学的。 相移干涉仪 平整度特性的测量 超精加工、高反射表面和 光学器件(还有附加的元件,也有表面覆盖的)。 进样。 - 横向(可选:纵向) 系统质量:-/8 分辨率相机 - 768 x 576像素。 (选项:更高的分辨率) 镭射光谱仪(Laser Spezifikation) 类型:-氦-氖二类 波长:- 632,8纳米 输出功率:-1.5毫瓦 光束极化: ...

菲佐干涉仪
菲佐干涉仪

... - Fizeau干涉仪 - 4″-系统 - 台式系统 - 自动干扰评估 规格 系统: - 基于激光的Fizeau干涉测量法。 镜头:-可更换球面参考 卡口锁 标准系列:- 0.75 / 1.0 / 1.5 / 3.3 / 7.2。 系统质量:-/10 数控轴:-X-Y-水平仪。 数控轴:-Z-粗/细调整。 分辨率: - 768 x 576 像素 Z-行程:-500毫米 尺寸:950 x 330 x 400 - 950 x 330 x 400 重量:-约40公斤 激光规格 类型:-氦-氖二类 波长:- ...

菲佐干涉仪
菲佐干涉仪

... - Fizeau干涉仪 - 测量孔径6英寸 - 花岗岩底座 - 被动隔振系统 - 自动干扰评估 规格 系统: - 基于激光的Fizeau干涉仪 平整度特性的测量 超精加工、高反射表面和 光学器件(还有附加的元件,也有表面覆盖的)。 系统质量:-/10 进样。 - 横向(可选:纵向) 分辨率: - 768 x 576 像素 尺寸:800毫米×800毫米×2000毫米 - 800毫米x800毫米x2000毫米 激光规格 类型:-氦-氖二类 波长:- 632,8纳米 输出功率:-1.5毫瓦 光束极化: ...

校准干涉仪
校准干涉仪
SP 5000 TR

... 三光束干涉仪 SP 5000 TR • 传感器头可以由铝制、不锈钢制成,可以使用 Windows 和 Linux 技术数据下的 OEM 软件开放接口: • 测量范围:5 米 • 光束距离:12 毫米 • 角分辨率:0.002 弧秒 •使用反射镜进行角度测量:直至 ±12.5° 应用: • 在导轨和翻译、显微镜、测量和定位台上进行激光干涉测量 • 在双轴或多轴长度测量过程中进行高精度间距和偏航 校正 •计量设备和机床 • 差分测 量(扩张测量,材料测试)• ...

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SIOS Meßtechnik GmbH
激光干涉仪
激光干涉仪
SP 5000 NG

... 新一代激光干涉仪 用于长度测量的激光干涉仪,范围从一纳米到几米。 对移动范围超过数米的坐标测量机、机床和定位设备的精度要求越来越高,这对测量系统的验收和校准提出了挑战。在这种情况下,新一代激光干涉仪具有独特的性能,将大长度测量范围与超高的分辨率相结合。通过使用He-Ne激光器的波长作为长期稳定的测量标准,测量系统可以追溯到国家标准,因此,非常适合于计量学中的校准和任务。干涉仪的基础是SIOS Meßtechnik GmbH的单光束概念,它将整个测量范围内的出色线性与简单的校准相结合。 SP-NG系列的基本系统是基于SIOS ...

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SIOS Meßtechnik GmbH
激光干涉仪
激光干涉仪
SP 5000 DI

... 超稳定的差分激光干涉仪 SP 5000 DI 具有独特的热稳定性,可用于研发中的长期测量,如材料测试。 由于其设计,通过参考光束进给,测量系统可以放置在距测量位置更远的距离,而不会显著影响测量的分辨率或稳定性。 干涉仪的长度分辨率为下午 5 点,由于测量系统具有相同光束长度的差分原理,即使在正常的实验室条件下也能实现这一目标。 如果使用倾斜不变反射器进行测量,长度测量的测量范围为几米。 该系统采用模块化设计,因此可以适应特定的测量任务。 可以简单地进行调整,并具有长期稳定性。 ...

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SIOS Meßtechnik GmbH
Fabry-Perot法布里-珀罗干涉仪
Fabry-Perot法布里-珀罗干涉仪
FFP-SI

... 微米光学 FFP-SI 光纤法布里-珀罗扫描干涉仪是一种无透镜的平面法布里-珀罗干涉仪,在两个高反射多层反射镜之间采用单模光纤波导,直接沉积在光纤上。 该腔完全由光纤波导组成,允许非常宽的可能自由光谱范围 (FSRs),无需对齐或模型匹配。 波长扫描是通过使用堆叠压电执行器对腔内的短片光纤进行轴向应变来实现的。 扫描频率达到 100 Hz 或更高,可直接测量瞬态光学现象,例如激光颤抖和抖动。 在较长时间内实现稳定和可重复的扫描,可直接测量缓慢变化的光学现象,例如激光漂移。 ...

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Micron Optics
光学干涉仪
光学干涉仪
202758

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OVIO INSTRUMENTS
干涉仪
干涉仪
0 - 200 mm | LMS-200

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Pratt & Whitney
激光干涉仪
激光干涉仪
2100C

... 2100C 激光干涉仪概述 2100C 激光干涉仪取自最初设计并投入实际使用的 2100 激光干涉仪,而帕洛玛科技公司则隶属于休斯飞机工业产品部。 电线连接校准工具 2100C 激光干涉仪是通过测量微英寸运动测量超声探头偏移(或峰值振幅)的工具。 该工具最初设计用于校准帕洛玛科技公司的线材粘合系统。 由于其通用的测量质量和卓越的校准和测量精度,它已发现其他行业的用户,需要低成本替代昂贵得多的激光振动计。 导线接合机需要 校准校准校准,因为其压电驱动器随时间而变化。 ...

动力干涉仪
动力干涉仪
PhaseCam 6000

... PhasCam® 6000 是一款极其紧凑、轻巧的动态激光干涉仪,用于测量光学和光学系统。 PhaseCam 6000 具有易于定位的光纤耦合测量头和电动控制器,非常适合测量大型焦光学系统,如凹面望远镜镜和透镜系统,以及小口径无焦元件,如平面镜和准直器。 PhaseCam 6000 采用动态干涉测量技术,使用单台摄像头、高速光学相位传感器,在 30 微秒内进行波前测量,比时相移干涉仪快 5000 倍以上。 由于采集时间非常短,PhaseCam 可以在没有隔振或湍流控制的情况下使用,因此非常适合在生产设备、洁净室和环境测试室中使用。 ...

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4D Technology
激光干涉仪
激光干涉仪
LDM600, LDM1300

... LDM600 模块设计用于共聚焦测量,基于波长 650 nm 的红色激光器和内部硅二极管检测器。 激光器和探测器通过内部 50-50 耦合器连接到两个光端口。 对于光学测量(如共聚焦显微镜部分),LDM600 还包含第二个独立的检测器端口。 所有光端口都是用于单模光纤的FC/APC连接器,检测器输出由 BNC 连接器提供。 激光功率可在每个输出端口的 500 µW 至 33 µW 之间调节。 LDM 600 模块将与 ACC100 机箱结合使用,用于电源(不包括,单独项目)。 ...

光学干涉仪
光学干涉仪

... 精密干涉仪 • 模式:米歇尔森、法布里-珀罗和特威曼-格林 • 大型精密光学 • 5 公斤加工铝底座, 任何干涉测量研究都不应忽视米歇尔逊干涉仪的历史重要性。 然而,在实验室中,法布里-珀罗和特威曼-格林干涉仪可以成为更重要的工具;第一种用于高分辨率光谱学,第二种用于测试和生产具有像差的光学元件,这些光学元器件可以以波长分数进行测量。 干涉仪是一种高精度移动镜面干涉仪,可用于执行米歇尔森、法布里-佩罗和特威曼-格林干涉测量。 后视镜配有拇指螺丝,因此易于设置和更改配置,包括用于空气实验折射率的真空泵。 ...

波前分割干涉仪
波前分割干涉仪
WaveMaster® COMPACT

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TRIOPTICS
菲佐干涉仪
菲佐干涉仪
OWI series

OWI Desktop 60 mm 特征 非接触式镜片测量系统 坚固结实,带防震垫设计 结构紧凑,桌面放置 易于使用 带千分调节螺丝的三轴精调平台 已包含我公司高级干涉仪模块OptoTech Inspect Mini EL-F 选配件:带精密量具,集成半径测量功能;OptoTech Fringe OWI干涉条纹分析软件 性能数据 工作范围:Ø最大60mm(根据60mm参考球面) 工作范围半径取决于参考球面 OWI 150 XT invers 特征 高精度斐索干涉仪OWI ...

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OptoTech
干涉仪
干涉仪
SI series

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Thorlabs
激光干涉仪
激光干涉仪
µLine-F1

µLine® - 激光干涉仪测量系统 激光干涉仪测量系统的特点: 激光干涉仪中内置补偿单元 易编程的输入和输出端 温度、气压和湿度传感器与激光干涉仪之间是无线通信 测量速度高达6m/s 设计紧凑,便于携带 (携带箱尺寸:350 x 200 x 250mm) 二维90°角度器 (精度:5µm/m) 三维90°角度器 (精度:5µm/m – 同样适用于直线度激光测量系统)

平面度测量干涉仪
平面度测量干涉仪
TOPOS 50

... TOPOS 干涉仪根据光的放牧率原理运行。 也可以测量较粗糙的部件的平坦度,光学平面或菲佐干涉仪没有更多的条纹图案。 计算机根据干扰模式计算测试对象的平坦度。 在研磨或研磨部件旁边也可以测量抛光部件。 部件可以由多种材料组成: -金属(钢,铝,青铜,铜等) -陶瓷 (Al2O3, 碳化硅, 碳化硅等) -塑料材料 -等 干涉仪可放置在生产线上,靠近加工机。 在整个测量区域内,绝对精度高达 0.1µm。 TOPOS 50 是一款非接触式平坦度测量仪器,用于精确制造 的表面,具有亚微米精度。 ...

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Lamtech Lasermesstechnik GmbH
白光干涉仪
白光干涉仪

... 分布式偏振串扰 (X-Talk) 分析仪 (PXA-1000) 是白光干涉仪的增强版本,旨在通过沿偏振保持 (PM) 光纤分析应力引起的偏振交叉耦合来获取空间分辨应力信息。 其正在申请专利的光学设计消除了强烈的零阶干扰,并降低了传统白光干涉仪中常见的多耦合干扰,这两种干扰都可能导致测量信号出现鬼峰值。 去除鬼峰可使 PXA-1000 明确识别实际 x-talk 峰的幅度和位置,从而实现比传统白光干涉仪更高的测量灵敏度、更高的动态范围和更高的空间测量精度。 PXA-1000 ...

白光干涉仪
白光干涉仪
interferoMETER

... Micro-Epsilon公司的白光干涉仪针对工业用途进行了优化,其精度为光学距离和厚度测量提供了前所未有的精确性。该产品组合包括三种不同的干涉仪版本,适用于不同的应用领域。这些系统可实现稳定的测量结果,分辨率在亚纳米范围内。 - Micro-Epsilon创新的interferoMETERs分辨率<30皮米,在光学测量技术上达到了一个新的精度水平。根据不同的应用,有三种不同的版本可供选择。IMS5400-DS适用于高精度和工业距离测量;IMS5400-TH适用于精确的厚度测量;IMS5600-DS采用真空适用设计,适用于亚纳米精度的距离测量。 高精度IMS5400-TH用于薄型透明材料的厚度测量。无论与被测物的距离有多远,只用一个传感器就可以进行测量,可以承受被测物的颤动或移动。近红外光源也可用于防反射镀膜玻璃的厚度测量。 IMS5400-DS用于工业距离测量。该测量系统提供绝对的测量值,并能可靠地检测到例如台阶和边缘,而不会有信号损失。 IMS5600-DS设计用于无尘室和真空环境(最高可达UHV)中的距离测量。特殊的控制器校准可实现亚纳米级的分辨率,例如,在对准传感器或定位平台时,需要这样的分辨率。 ...

光学干涉仪
光学干涉仪
FI 1040 Z

全提供平面或球面测量的全功能40 mm斐索干涉仪。 MarOpto FI 1040 Z是全功能的干涉仪,能够提供平面或球面的非接触式测量以及光学组件和部件的发射波阵面。MarOpto FI 1040 Z是用于测量光学组件的理想设备,例如测量平面、棱镜、透镜以及如轴承、密封面这样的精密金属零件、抛光陶瓷制品等。使用简易的基础目视波纹检查、IntelliPhase静态空间载波分析,或者调相干涉图分析就能够进行测量。 MarOpto FI 1040 Z为当今的工业应用提供了灵活性及前所未有的性能。 利用6倍放大功能可以小到直接为1.5 ...

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MAHR/马尔
激光干涉仪
激光干涉仪

... PICOSCALE 干涉仪控制器 控制器包含激光器、检测电子元件,并通过多个接口提供所有数据。 PICOSCALE干涉仪是一个功能强大的无接触位移测量系统。PICOSCALE 干涉仪控制器包含一个激光源和所有必要的电子元件,用于评估光学信号。这些信号在通过光纤连接到控制器的传感器头中产生。分光器将激光束分为参考光束和测量光束,分别从参考镜(通常在传感器头内)和目标上反射。由于米歇尔森原理,只需要考虑目标反射率的问题。强大的固件模块、便捷的软件和多功能附件允许将PICOSCALE干涉仪控制器轻松集成到新的或已有的测量设置中。 ...

平面度测量干涉仪
平面度测量干涉仪
SJ6000

... 项目编号: SJ6000 产品名称:SJ6000激光干涉仪测量系统 线性测量范围。0~80m 分辨率。1纳米 激光频率精度:0.05ppm 使用温度:(0-40)℃。(0-40)℃ 动态捕获率。50kHz 制造商Chotest Technology Inc. 职能 1.测量精度高。基于激光干涉测量技术,分辨率高达纳米级;采用高精度环境补偿单元,消除了环境温度、压力、湿度和材料温度对测量结果的影响;采用激光热稳频控制系统,可保证激光的长期频率稳定;干涉镜与主机分离的设计,避免了干涉镜的热变形,保证了干涉光路的稳定。 2.可测量直线度、角度、直线度、垂直度等几何参数;可测量数控机床、坐标测量机等精密运动设备导轨的直线定位精度和重复定位精度;可测量导轨的俯仰角、摆动角、垂直度和直线度,此外还可对机床的旋转轴进行校准。 3.根据用户的补偿设置,系统自动生成误差补偿表,用于机床的校准。 ...

光学干涉仪
光学干涉仪
PicoMove

... Teem Photonics 已经开发并提供了一种新的紧凑型、稳定和高性能的干涉仪,用于测量皮表尺度位移和振动。 Teem 光子学的 PicoMoVe 干涉仪基于高稳定性架构的单芯片集成,可实现具有固有超低噪声的测量。 1.55µm 工作波长可实现与商业电信源的兼容性。 传感器设计还可处理可见波长,以方便光束对齐。 Teem 为低热膨胀材料和 UHV 环境提供包装选择。 测量系统的电气部件(激光源,探测器)通过可靠的光纤附着来远程进行。 ...

激光干涉仪
激光干涉仪
LEM-CT-670-G50

... 该系统通过基于周期监测干扰强度来计算被监测区域的蚀刻和涂层速度,从而从规定的薄膜厚度和沟槽深度检测终点。 基于这一理论,该系统非常稳定,可用于复杂的多层薄膜。 提供 两种类型的激光器,可兼容各种薄膜,包括 SIN、SiO2、GaAs、InP、AlGaAs 和 GaN。 该系统由一个紧凑的干扰测量部分组成,其中包括激光源、光接收器、光学元件以及照明和 CCD 成像摄像机,允许使用显微图像监测晶圆表面的任何区域。 该系统使用可见激光器(670 ...

紧凑型干涉仪
紧凑型干涉仪
SLI 202, ALI 202

... 信息 紧凑的车间干涉仪可以安装在生产车间,提供随时接触眼镜师并提高生产率。 垂直隔振设计需要最小的占地面积。 完整的外壳可以在不太理想的环境中保护仪器。 边缘图案的实时监视器显示使得对齐变得容易。 相位测量功能可生成精确的波前图,您可以通过用户友好的分析软件进一步研究。 可选的精密距离测量设备可实现镜头的精确定位。 此外,全自动对齐功能还使用电动平移和旋转阶段来移动镜头,对于白杨,计算机生成的全息图 (CGH),以获得非常可重复的测量结果。 干涉仪提供 ...