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菲佐干涉仪
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... 50 多年来,移相干涉仪一直是高精度表面形状计量仪器的首选技术。 这些干涉仪可快速、可靠地测量光学元件、系统和组件的表面形状误差和透射波前。 从研究环境到广泛的工业应用,激光干涉仪都能为质量保证和生产后分析提供高水平的数据可追溯性。它们已成为制造过程中不可或缺的一部分。 Zygo 的 Qualifire 为此类仪器面临的已知挑战提供了解决方案,代表了激光干涉仪的一次飞跃。 移相干涉仪的新方法 在许多现代光学测量系统中,Fizeau 设计使用一个固定的轴上相干点光源来照亮干涉腔。 ...
Zygo
Verifire™ 干涉仪系统可快速可靠地测量光学元件、系统和组件的表面形状误差和透射波前。 Verifire™ 系统采用真正的激光菲索设计,建立在 ZYGO 在表面形貌计量方面无与伦比的经验的基础上。ZYGO 制造的 HeNe 激光源与 ZYGO 的专利采集算法和功能齐全的 Mx™ 计量软件相结合,实现了高精度的计量和易于使用的分析功能 车间里的可靠计量 近年来,光学计量技术取得了很大的进步。 在过去,人们需要小心翼翼地控制环境的影响,才能获得可靠的测量。 ...
Zygo
化繁为简 – 多个表面会产生复杂的条纹图案,Verifire™ MST 采用专利的波长调制技术,可同时采集多个表面的相位数据。 提供平行窗口各表面的关键参数、透射波前以及精确的面与面之间的信息,如总厚度变化(TTV)、楔角甚至是材料不均匀性。 Verifire™ MST 通过对薄至 0.5 mm 的测试件进行精确的表面和厚度变化测量,可满足移动设备显示屏玻璃、数据存储光盘和半导体晶圆等高要求应用的需求。 Verifire™ MST 可对光学元件和镜头系统的表面形貌和透射波前进行高精度测量。它是唯一一个可以同时测量多个表面形貌的商用干涉仪系统,可以保持相对表面信息,并快速提供多个表面的结果。 主要特点 同时进行表面和波前表征,还可进行精确的面与面之间的测量,如 ...
Zygo
... TOPOS 干涉仪根据光的放牧率原理运行。 也可以测量较粗糙的部件的平坦度,光学平面或菲佐干涉仪没有更多的条纹图案。 计算机根据干扰模式计算测试对象的平坦度。 在研磨或研磨部件旁边也可以测量抛光部件。 部件可以由多种材料组成: -金属(钢,铝,青铜,铜等) -陶瓷 (Al2O3, 碳化硅, 碳化硅等) -塑料材料 -等 干涉仪可放置在生产线上,靠近加工机。 在整个测量区域内,绝对精度高达 0.1µm。 TOPOS 50 是一款非接触式平坦度测量仪器,用于精确制造 的表面,具有亚微米精度。 ...
... TOPOS 100 是一款非接触式平坦度测量仪器,用于精密制造表面,具有亚微米精度。 TOPOS 平坦度测量仪器满足 客观工作测量工具的要求,用于精密部件(例如燃油喷射 系统、泵或阀门)的生产和质量控制。 TOPOS 干涉仪允许对研磨、 精加工和抛光精密部件进行非接触式平坦度测量。 TOPOS 干涉仪根据光的放牧率原理运行。 也可以测量较粗糙的部件的平坦度,光学平面或菲佐干涉仪没有更多的条纹图案。 计算机根据干扰模式计算测试对象的平坦度。 在研磨或研磨部件旁边也可以测量抛光部件。 ...
... - 菲佐干涉仪 - 测量直径从4英寸到12英寸 - 花岗岩底座 - 被动隔振系统 - 自动干涉评估 软件 监视器上的现场图 Windows 7的软件 自动生成程序文件 二维和三维图形 不同的数据显示方式 手动/自动生成图片 选项 缩放 系统质量:.../10 高分辨率相机 ...
LT Ultra-Precision Technology GmbH
OWI Desktop 60 mm 特征 非接触式镜片测量系统 坚固结实,带防震垫设计 结构紧凑,桌面放置 易于使用 带千分调节螺丝的三轴精调平台 已包含我公司高级干涉仪模块OptoTech Inspect Mini EL-F 选配件:带精密量具,集成半径测量功能;OptoTech Fringe OWI干涉条纹分析软件 性能数据 工作范围:Ø最大60mm(根据60mm参考球面) 工作范围半径取决于参考球面 OWI 150 XT invers 特征 高精度斐索干涉仪OWI ...
强大的 Fizeau 干涉仪. 最小的测量不确定性和优异的灵活性及多功能性 无接触形状和轴前测量 MarOpto FI 1100 Z 是一款功能强大的紧凑型干涉仪,孔径 100 mm,可以提供平面和球面以及波阵面非接触测量。 可以通过简单的干涉条纹检测、IntelliPhase 静态空间载波分析或标准相位盘来执行测量。MarOpto FI 1100 Z 可提供现在的工业应用需要的灵活性和优异的性能。除表面测试光学组件外,还可以测量曲率和波阵面的半径。 尺寸小,方便集成到 ...
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