菲佐干涉仪

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激光干涉仪
激光干涉仪
Verifire™

... 验证 光学车间的计量工作主力军 Verifire激光干涉仪系统 Verifire™干涉仪系统可快速可靠地测量光学元件、系统和组件的表面形状误差和传输波面。 作为真正的激光Fizeau设计,Verifire™系统扩展了ZYGO在表面形状测量方面的无与伦比的经验。ZYGO制造的HeNe激光源与ZYGO的专利采集算法和全功能的Mx™计量软件相结合,实现了高精度计量和易于使用的分析功能。 车间里的自信计量 近年来,光学计量的技术有了很大的进步。 在过去,需要仔细控制环境影响以实现可靠的测量。 ...

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Zygo Corporation
平面度测量干涉仪
平面度测量干涉仪
Verifire™ MST

... Verifire™ MST 同步多面测试干涉仪 Verifire™ MST 激光干涉仪将复杂的情况简单化--多个表面会产生复杂的边缘图案,Verifire™ MST 采用专利的波长偏移技术同时采集多个表面的相位数据。 报告来自平行窗口单个表面的关键指标、传输波前,以及精确的表面到表面的信息,如总厚度变化(TTV)、楔形甚至材料不均匀性。 Verifire™ MST通过对薄至0.5毫米的测试部件进行精确的表面和厚度变化测量,满足移动设备显示屏玻璃、数据存储盘和半导体晶片等高要求的应用。 Verifire™ ...

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Zygo Corporation
激光干涉仪
激光干涉仪
Verifire™ XL

... Veriire™ XL 干涉仪是一个独立的工作站,专为简单可靠地测量直径最大 12 英寸(300 mm)的大型平面而设计。 示例包括前表面反射器、窗户和半导体晶圆或晶圆夹盘。 这种完全集成的系统易于使用,具有重型倾斜/倾斜台,可提供可重复的零件放置,而无需定制固定。 紧凑的占地面积,具有内置隔振功能,只需最小的生产车间空间。 振动稳 定性 Veriire XL 系统包括 ZYGO 专利的 QPSI™ 采集技术,可在发生振动时实现可靠的高精度测量。 QPSI ...

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Zygo Corporation
菲佐干涉仪
菲佐干涉仪

... - Fizeau干涉仪 - 测量直径从4英寸到12英寸 - 花岗岩基座
-被动隔振系统 - 自动干扰评估 规格 系统: - 基于激光的、非接触式的、3D光学的。 相移干涉仪 平整度特性的测量 超精加工、高反射表面和 光学器件(还有附加的元件,也有表面覆盖的)。 进样。 - 横向(可选:纵向) 系统质量:-/8 分辨率相机 - 768 x 576像素。 (选项:更高的分辨率) 镭射光谱仪(Laser Spezifikation) 类型:-氦-氖二类 波长:- 632,8纳米 输出功率:-1.5毫瓦 光束极化: ...

菲佐干涉仪
菲佐干涉仪

... - Fizeau干涉仪 - 4″-系统 - 台式系统 - 自动干扰评估 规格 系统: - 基于激光的Fizeau干涉测量法。 镜头:-可更换球面参考 卡口锁 标准系列:- 0.75 / 1.0 / 1.5 / 3.3 / 7.2。 系统质量:-/10 数控轴:-X-Y-水平仪。 数控轴:-Z-粗/细调整。 分辨率: - 768 x 576 像素 Z-行程:-500毫米 尺寸:950 x 330 x 400 - 950 x 330 x 400 重量:-约40公斤 激光规格 类型:-氦-氖二类 波长:- ...

菲佐干涉仪
菲佐干涉仪

... - Fizeau干涉仪 - 测量孔径6英寸 - 花岗岩底座 - 被动隔振系统 - 自动干扰评估 规格 系统: - 基于激光的Fizeau干涉仪 平整度特性的测量 超精加工、高反射表面和 光学器件(还有附加的元件,也有表面覆盖的)。 系统质量:-/10 进样。 - 横向(可选:纵向) 分辨率: - 768 x 576 像素 尺寸:800毫米×800毫米×2000毫米 - 800毫米x800毫米x2000毫米 激光规格 类型:-氦-氖二类 波长:- 632,8纳米 输出功率:-1.5毫瓦 光束极化: ...

激光干涉仪
激光干涉仪
AccuFiz 6MP

... AccuFIZ 6MP 激光干涉仪可提供最高的可用分辨率,用于测量陡坡、非球面表面和小直径光学元件。 它的 2400 x 2400 像素传感器使可测量的空间频率范围翻了一番,并使标准菲佐干涉仪的采样能力翻了四倍。 增加的分辨率使得在制造过程中早期测量表面形状并捕捉抛光痕迹成为可能,尽管条纹数量很高。 测量球面/非球面光学元件和模具,具有前所未有的精度。 使用 AccuFIZ 6MP 的高像素密度和可选的大功率对准激光器,精确测量较小的光学器件。 ...

菲佐干涉仪
菲佐干涉仪
OWI series

OWI Desktop 60 mm 特征 非接触式镜片测量系统 坚固结实,带防震垫设计 结构紧凑,桌面放置 易于使用 带千分调节螺丝的三轴精调平台 已包含我公司高级干涉仪模块OptoTech Inspect Mini EL-F 选配件:带精密量具,集成半径测量功能;OptoTech Fringe OWI干涉条纹分析软件 性能数据 工作范围:Ø最大60mm(根据60mm参考球面) 工作范围半径取决于参考球面 OWI 150 XT invers 特征 高精度斐索干涉仪OWI ...

平面度测量干涉仪
平面度测量干涉仪
TOPOS 50

... TOPOS 干涉仪根据光的放牧率原理运行。 也可以测量较粗糙的部件的平坦度,光学平面或菲佐干涉仪没有更多的条纹图案。 计算机根据干扰模式计算测试对象的平坦度。 在研磨或研磨部件旁边也可以测量抛光部件。 部件可以由多种材料组成: -金属(钢,铝,青铜,铜等) -陶瓷 (Al2O3, 碳化硅, 碳化硅等) -塑料材料 -等 干涉仪可放置在生产线上,靠近加工机。 在整个测量区域内,绝对精度高达 0.1µm。 TOPOS 50 是一款非接触式平坦度测量仪器,用于精确制造 的表面,具有亚微米精度。 ...

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Lamtech Lasermesstechnik GmbH
光学干涉仪
光学干涉仪
FI 1040 Z

全提供平面或球面测量的全功能40 mm斐索干涉仪。 MarOpto FI 1040 Z是全功能的干涉仪,能够提供平面或球面的非接触式测量以及光学组件和部件的发射波阵面。MarOpto FI 1040 Z是用于测量光学组件的理想设备,例如测量平面、棱镜、透镜以及如轴承、密封面这样的精密金属零件、抛光陶瓷制品等。使用简易的基础目视波纹检查、IntelliPhase静态空间载波分析,或者调相干涉图分析就能够进行测量。 MarOpto FI 1040 Z为当今的工业应用提供了灵活性及前所未有的性能。 利用6倍放大功能可以小到直接为1.5 ...

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MAHR/马尔