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... 微型干涉仪 VI-direct 将平面度测试范围扩展到最小直径领域。菲佐型干涉仪能够测量直径在 0.8 毫米到 3.6 毫米之间的光学部件的表面平面度。微型干涉仪 VI-direct 性价比高，可用于测试微型棱镜、激光晶体、光纤末端等光学部件。 - 通过 USB 3 端口直接连接电脑，无需图像采集器 - 高分辨率数码相机（3088x2076 像素） - 曝光时间短，对振动不敏感 - 多种光学和机械附件 - 可用于垂直、水平或倾斜方向。这使得该仪器在客户的特定应用中具有极高的通用性 ...
... 测量站 Interferometer VI-direct 28 SUL 可以快速检测球形表面的形状或半径偏差。可选择使用 INTOMATIK-S 软件对干涉图进行评估。 - 通过 USB 3 端口与视频微型计算机直接连接 - 高分辨率数码相机（3088x2076 像素） - 曝光时间短，对振动不敏感 - 半径测量显示单元 - 一组光圈挡块 - 样品支持 XY 移位 - 用于快速预对准的查找器模式 - 易于使用 - 使用 INTOMATIK-S ...
... 平面干涉仪 VI-direct 50 PUL 可以快速测试无涂层和镜面涂层的平面。由于其特殊的布局，在插入试样后，可直接使用选配的 INTOMATIK-S 软件对干涉图进行评估。无需重新调整。 - 通过 USB 3 端口直接连接到视频微型计算机 - 高分辨率数码相机（3088x2076 像素） - 曝光时间短，对振动不敏感 - 带倾斜功能的样品支架 - 一组光圈挡板 - 用于快速预校准的寻像器模式 - 操作简便 - 直接显示干涉图，无需重新校准 ...
... 准确性标准 您的垂直测量解决方案是 Laseruler，它以激光干涉仪为基础，精度极高。 您可以完全放心地测量精密薄膜、零件和量具的高度和厚度。 我们独有的数字干涉仪通过比较测量探头的位置和氦氖（He-Ne）激光光源的波长来测量试样的尺寸，有效地将光的波长与被测件耦合。我们获得专利的激光路径与测量轴一致，消除了阿贝偏移误差。 操作员只需按下按钮或脚踏开关，其余的工作就由仪器来完成。 Laseruler® 可测量 -薄膜厚度 -光学元件 -量块 -球/球体 -球轴承 -涂层厚度 -涂层厚度标准 -插销量规 -螺纹丝 -航空航天零件 -汽车零件 -医疗器械 Laseruler® ...
... HPI-3D 线性激光测量系统是一种激光干涉仪，安装快速简便，可同时进行动态 3DOF 测量。HPI-3D 能够以非常高的速度进行测量，并以高精度返回测量结果。该设备是高精度激光干涉仪领域 20 多年经验的结晶。该干涉仪代表了激光测量领域的 "专有技术 "和最佳参数。所有这些都与最高的质量、丰富的附件和选项、易用性和紧凑性密切相关。 测量不再受限！线性测量系统 HPI-3D 优化了现代激光系统的可用参数。极高的移动速度、超高分辨率和高采样率使该设备甚至适用于非常苛刻的应用。 虽然目前还没有通用的测量设备，但 ...
MSI 50 特征 配有刚性花岗岩底座和无源空气阻尼减震器。 Z轴配置高精度径向滑轨。 B轴配置倒置干涉仪模块。 B轴配置高分辨率旋转轴，用于精确调节干涉仪单元使其垂直于基片表面。 C轴配置直接驱动旋转轴，用于旋转大口径球面和平面元件。 可选多种工件支架：筒夹夹头，三爪卡盘，HD12、HD25液压膨胀夹头。 配置OptoTech Inspect Mini EL-F Digital 2”斐索干涉仪模块。 紧凑型设计，集成计算机工作站。 操作：常规（手动）或使用μStitch ...
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