光学干涉仪

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校准干涉仪
校准干涉仪
XL-80

XL-80系统快速、精确,而且非常轻便,因此它成为销量最好的激光校准系统丝毫不足为奇。XL-80采用先进的软件解决方案,具有优异的性能,可以帮助您显著提高企业效益。 雷尼绍设计、制造和提供激光系统已有超过25年的历史。XL-80正是多年设计和制造经验的结晶,具有真正领先的系统性能和操作优点。

差动干涉仪
差动干涉仪
RLD10

RLD10发射头内含有干涉镜组、独特的多通道条纹检测系统、激光光闸和内置的激光准直辅助镜。提供0°和90°两种RLD10发射头型号。 特性与优点 双轴解决方案 — 双轴平面镜系统是XY平台应用的理想解决方案。 高分辨率 — 与角锥反射镜系统相比,平面镜系统还可用于要求更高分辨率的应用。 敏感环境 — 还提供低功率型号的平面镜干涉仪发射头。适合其功耗要求低于标准RLD额定值(即 < 2 W)的应用。

车用干涉仪
车用干涉仪
LSV-1000

对于连续材料和无尽的货物的制造,例如在轧钢厂或造纸厂,生产线的准确长度以及速度是过程控制、过程优化和成本优化的决定性因素。LSV-1000激光表面测速仪光学编码器以卓越的非接触式测量原理取代了接触式编码器和传感器,特别是在具有挑战性的生产环境和在线测量中提供了出色的测量精度、坚固性和可靠性。通过使用光学测量原理,避免了机械磨损和移动部件,将维护成本降到最低。 关于定制的传感器解决方案,个别编码器配置,关于测量领域的深度和精度或在线集成和现场支持,请联系我们。 快速、激光精确和可靠:基于激光的LSV编码器解决方案为过程控制提供精确的长度和速度值,用于切割长度控制(切割长度测量)到过程控制系统。优化您的工艺,减少维护成本和废品。对于钢铁、光亮的铝、油性金属板、电线、电缆或非金属表面(如木材、纸板、建筑材料和纺织品)的所有测量,LSV基于激光的传感器系统几乎可以在任何表面测量长度、速度、速度差、剪切长度、伸长率等。

激光干涉仪
激光干涉仪
Verifire™

... Verifire™干涉仪系统对光学元件、系统和组件的表面形状误差和传输波前进行快速和可靠的测量。 Verifire™系统是真正的激光Fizeau设计,它扩展了ZYGO在表面形状测量方面无与伦比的经验。ZYGO制造的HeNe激光源与ZYGO的专利采集算法和全功能的Mx™计量软件相结合,实现了高精度计量,并具有易于使用的分析能力。 车间里的自信计量 近年来,光学计量的技术有了很大的进步。 在过去,需要仔细控制环境影响以实现可靠的测量。 今天,ZYGO提供的技术能够在恶劣的环境中进行可靠的测量,在这些环境中,振动和空气湍流会使传统的光学计量学变得困难或不可能。 光学元件的表面形状和平面度测量以及光学系统和子组件的波前,如窗户、镜子、透镜、棱镜--甚至是精密加工的金属和陶瓷表面。 包括标准功能,如QPSI振动强力采集、功能齐全的Mx™软件,用于强大但易于使用的测量、分析和自动化,以及ZYGO制造的HeNe激光源无可比拟的3年保修。 ...

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Zygo
光学干涉仪
光学干涉仪
DynaFiz®

... 专为易受振动的环境中的可靠干涉测量而设计;功能多样且灵活,足以满足从高端望远镜测试到光学系统主动对准的实时相位反馈等广泛的应用需求。 DynaFiz®的高效光学设计与ZYGO高功率氦氖激光源相结合,能够在 "冻结 "振动的高相机快门速度下运行。这种动态能力在对传统时间移相技术来说过于激烈的环境中提供了可靠的计量。 - 完全相干的光学设计实现了最高的光效率,提高了动态性能 - 在容易发生振动的环境中进行计量的两种选择,这是ZYGO专利的独特能力 - QPSI™技术,仅ZYGO提供,可在易振动环境中进行可靠测量 - ...

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Zygo
光学干涉仪
光学干涉仪
Verifire™ HD/HDX

... 干涉仪的分辨率已经被推到了极致。Verifire HD和Verifire HDX干涉仪系统为光学表面提供了无可比拟的中空频率特性分析。 仅仅在系统中加入更多的像素是不够的 - 需要进行严格的光学设计,以确保干涉仪的像素限制性能,并捕捉最苛刻的应用所需的表面细节。 ZYGO专有的仪器传递函数(ITF)表征方法确保性能符合设计要求,以提供您的应用所需的能力。 ZYGO的Verifire HD和Verifire HDX是为极端性能的光学元件和系统的中空间频率内容表征而设计和制造的。 ...

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Zygo
激光干涉仪
激光干涉仪
SP 5000 NG

... 新一代激光干涉仪 用于长度测量的激光干涉仪,范围从一纳米到几米。 对移动范围超过数米的坐标测量机、机床和定位设备的精度要求越来越高,这对测量系统的验收和校准提出了挑战。在这种情况下,新一代激光干涉仪具有独特的性能,将大长度测量范围与超高的分辨率相结合。通过使用He-Ne激光器的波长作为长期稳定的测量标准,测量系统可以追溯到国家标准,因此,非常适合于计量学中的校准和任务。干涉仪的基础是SIOS Meßtechnik GmbH的单光束概念,它将整个测量范围内的出色线性与简单的校准相结合。 SP-NG系列的基本系统是基于SIOS ...

校准干涉仪
校准干涉仪
SP 5000 TR

... 三光束干涉仪 SP 5000 TR • 传感器头可以由铝制、不锈钢制成,可以使用 Windows 和 Linux 技术数据下的 OEM 软件开放接口: • 测量范围:5 米 • 光束距离:12 毫米 • 角分辨率:0.002 弧秒 •使用反射镜进行角度测量:直至 ±12.5° 应用: • 在导轨和翻译、显微镜、测量和定位台上进行激光干涉测量 • 在双轴或多轴长度测量过程中进行高精度间距和偏航 校正 •计量设备和机床 • 差分测 量(扩张测量,材料测试)• ...

激光干涉仪
激光干涉仪
SP 5000 DI

... 超稳定的差分激光干涉仪 SP 5000 DI 具有独特的热稳定性,可用于研发中的长期测量,如材料测试。 由于其设计,通过参考光束进给,测量系统可以放置在距测量位置更远的距离,而不会显著影响测量的分辨率或稳定性。 干涉仪的长度分辨率为下午 5 点,由于测量系统具有相同光束长度的差分原理,即使在正常的实验室条件下也能实现这一目标。 如果使用倾斜不变反射器进行测量,长度测量的测量范围为几米。 该系统采用模块化设计,因此可以适应特定的测量任务。 可以简单地进行调整,并具有长期稳定性。 ...

光学干涉仪
光学干涉仪
202758

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OVIO INSTRUMENTS
菲佐干涉仪
菲佐干涉仪
OWI series

OWI Desktop 60 mm 特征 非接触式镜片测量系统 坚固结实,带防震垫设计 结构紧凑,桌面放置 易于使用 带千分调节螺丝的三轴精调平台 已包含我公司高级干涉仪模块OptoTech Inspect Mini EL-F 选配件:带精密量具,集成半径测量功能;OptoTech Fringe OWI干涉条纹分析软件 性能数据 工作范围:Ø最大60mm(根据60mm参考球面) 工作范围半径取决于参考球面 OWI 150 XT invers 特征 高精度斐索干涉仪OWI ...

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OptoTech
平面度测量干涉仪
平面度测量干涉仪
TOPOS 50

... TOPOS 干涉仪根据光的放牧率原理运行。 也可以测量较粗糙的部件的平坦度,光学平面或菲佐干涉仪没有更多的条纹图案。 计算机根据干扰模式计算测试对象的平坦度。 在研磨或研磨部件旁边也可以测量抛光部件。 部件可以由多种材料组成: -金属(钢,铝,青铜,铜等) -陶瓷 (Al2O3, 碳化硅, 碳化硅等) -塑料材料 -等 干涉仪可放置在生产线上,靠近加工机。 在整个测量区域内,绝对精度高达 0.1µm。 TOPOS 50 是一款非接触式平坦度测量仪器,用于精确制造 的表面,具有亚微米精度。 ...

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Lamtech Lasermesstechnik GmbH
光学干涉仪
光学干涉仪

... 精密干涉仪 • 模式:米歇尔森、法布里-珀罗和特威曼-格林 • 大型精密光学 • 5 公斤加工铝底座, 任何干涉测量研究都不应忽视米歇尔逊干涉仪的历史重要性。 然而,在实验室中,法布里-珀罗和特威曼-格林干涉仪可以成为更重要的工具;第一种用于高分辨率光谱学,第二种用于测试和生产具有像差的光学元件,这些光学元器件可以以波长分数进行测量。 干涉仪是一种高精度移动镜面干涉仪,可用于执行米歇尔森、法布里-佩罗和特威曼-格林干涉测量。 后视镜配有拇指螺丝,因此易于设置和更改配置,包括用于空气实验折射率的真空泵。 ...

白光干涉仪
白光干涉仪
interferoMETER

... Micro-Epsilon公司的白光干涉仪针对工业用途进行了优化,其精度为光学距离和厚度测量提供了前所未有的精确性。该产品组合包括三种不同的干涉仪版本,适用于不同的应用领域。这些系统可实现稳定的测量结果,分辨率在亚纳米范围内。 - Micro-Epsilon创新的interferoMETERs分辨率<30皮米,在光学测量技术上达到了一个新的精度水平。根据不同的应用,有三种不同的版本可供选择。IMS5400-DS适用于高精度和工业距离测量;IMS5400-TH适用于精确的厚度测量;IMS5600-DS采用真空适用设计,适用于亚纳米精度的距离测量。 高精度IMS5400-TH用于薄型透明材料的厚度测量。无论与被测物的距离有多远,只用一个传感器就可以进行测量,可以承受被测物的颤动或移动。近红外光源也可用于防反射镀膜玻璃的厚度测量。 IMS5400-DS用于工业距离测量。该测量系统提供绝对的测量值,并能可靠地检测到例如台阶和边缘,而不会有信号损失。 IMS5600-DS设计用于无尘室和真空环境(最高可达UHV)中的距离测量。特殊的控制器校准可实现亚纳米级的分辨率,例如,在对准传感器或定位平台时,需要这样的分辨率。 ...

位移测量干涉仪
位移测量干涉仪
PICOSCALE V2

... 高精度的非接触式位移测量 对于位移的高精度测量,SmarAct提供PICOSCALE干涉仪。 - 3个平行激光干涉仪在一台仪器上进行3D测量 - 测量带宽高达2.5 MHz(10 MHz采样率),分辨率低至1 pm1 - 可在大多数材料(塑料、玻璃、金属甚至水)上进行测量 - 多种传感器头可用于不同的应用和环境(包括真空和低温)。 - 可通过可选的模块扩展为一个完整的实验室测量和控制仪器 - 经过验证的性能,有100多个满意的客户 1 在频域中分析周期性位移时 应用实例 压电式扫描仪的高分辨率光学位移测量 样品的精确定位在各种应用中都是最重要的。虽然采用粘滑压电技术的定位系统提供了多种可能性,但在某些应用中,滑移行为是不可取的。在这种情况下,压电扫描器充分显示了它们的潜力。 在这种情况下,压电扫描器显示了它们的全部潜力,因为它们可以在几微米的范围内非常准确地定位一个样品。在这个应用说明中,压电式扫描仪的步骤得到了验证。在使用光学编码器作为传感器的闭环操作中,采用PICOSCALE干涉仪来揭示单纳米的步骤。 DeepL ...

位移测量干涉仪
位移测量干涉仪

... 控制器包含激光器、检测电子装置,并通过几个接口提供所有数据。 PICOSCALE干涉仪是一个强大的系统,用于非接触位移测量。PICOSCALE干涉仪控制器包含一个激光源和所有必要的电子元件,以评估光学信号。这些信号在传感器头中产生,通过光纤连接到控制器上。分光器将激光束分为参考光和测量光,分别从参考镜(通常在传感器头内)和目标上反射出来。由于采用了迈克尔逊原理,只需考虑极少的目标反射率问题。强大的固件模块、方便的软件和多功能的附件使得PICOSCALE干涉仪控制器可以轻松地集成到新的或已经存在的测量设置中。 输出信号 通道数 ...

光学干涉仪
光学干涉仪
PicoMove

... Teem Photonics 已经开发并提供了一种新的紧凑型、稳定和高性能的干涉仪,用于测量皮表尺度位移和振动。 Teem 光子学的 PicoMoVe 干涉仪基于高稳定性架构的单芯片集成,可实现具有固有超低噪声的测量。 1.55µm 工作波长可实现与商业电信源的兼容性。 传感器设计还可处理可见波长,以方便光束对齐。 Teem 为低热膨胀材料和 UHV 环境提供包装选择。 测量系统的电气部件(激光源,探测器)通过可靠的光纤附着来远程进行。 ...

激光干涉仪
激光干涉仪
LEM-CT-670-G50

... 该系统通过基于周期监测干扰强度来计算被监测区域的蚀刻和涂层速度,从而从规定的薄膜厚度和沟槽深度检测终点。 基于这一理论,该系统非常稳定,可用于复杂的多层薄膜。 提供 两种类型的激光器,可兼容各种薄膜,包括 SIN、SiO2、GaAs、InP、AlGaAs 和 GaN。 该系统由一个紧凑的干扰测量部分组成,其中包括激光源、光接收器、光学元件以及照明和 CCD 成像摄像机,允许使用显微图像监测晶圆表面的任何区域。 该系统使用可见激光器(670 ...

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