光学干涉仪 PicoMove
子皮米级位移测量紧凑型高解析度

光学干涉仪
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产品规格型号

应用
子皮米级位移测量
技术参数
光学, 紧凑型, 高解析度

产品介绍

Teem Photonics公司已经开发并提供了一个新的紧凑、稳定和高性能的干涉仪系列,用于测量皮米级的位移和振动。 Teem Photonics的PicoMove干涉仪是基于单芯片集成的高稳定性架构,其测量结果具有内在的超低噪声。 对眼睛安全的1.55µm工作波长提供了与商业电信源的兼容性。 该传感器的设计还可以处理可见光波长,以方便光束对准。Teem提出了使用低热膨胀材料和UHV环境的封装选项。测量系统的电气部分(激光源、检测器)通过可靠的光纤尾纤进行远程控制。 > 激光信号(来自输入光纤)被分成两个臂:一个是具有光刻定义的恒定长度的参考臂,另一个是自由空间测量臂,光在移动目标上被反向反射。 > 后一臂的长度随目标位置的变化而变化。这两个臂是在芯片上重新组合的。 > 两个光纤输出提供正交干扰信号,以及两个功率参考信号,以实现矢量位移计算。

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* 显示价格为参考价,此价格不含税、不含运费、不含关税,也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。