校准干涉仪 SP 15000 NG
OEM应用亚纳米级位移测量长度测量

校准干涉仪 - SP 15000 NG - SIOS Meßtechnik GmbH - OEM应用 / 亚纳米级位移测量 / 长度测量
校准干涉仪 - SP 15000 NG - SIOS Meßtechnik GmbH - OEM应用 / 亚纳米级位移测量 / 长度测量
校准干涉仪 - SP 15000 NG - SIOS Meßtechnik GmbH - OEM应用 / 亚纳米级位移测量 / 长度测量 - 图像 - 2
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产品规格型号

应用
长度测量, 校准, OEM应用, 亚纳米级位移测量
技术参数
激光, 光学, 紧凑型, 高精度, Michelson

产品介绍

用于远距离高精度长度测量的激光干涉测量系统 - 灵活的高精度长度测量系统 - 长距离高精度长度测量 - 易于调整和操作 - 测量范围可达 80 米 - 设计紧凑 - 广泛的触发选项 - 为 Windows 和 Linux 下的 OEM 软件提供开放式接口 SP 15000 NG 长距离激光干涉仪是在 SP 5000 NG 产品系列的基础上专门为长距离长度测量而设计的。传感头带有附加光学镜组,可使激光束以最佳状态适应大长度测量。大型三坐标测量机和机床、长直线轴和校准距离是这种精密直线光栅的主要应用领域。

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* 显示价格为参考价,此价格不含税、不含运费、不含关税,也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。