激光干涉仪 Verifire™

用于平面度测量光学菲佐

Verifire™ 干涉仪系统可快速可靠地测量光学元件、系统和组件的表面形状误差和透射波前。 Verifire™ 系统采用真正的激光菲索设计，建立在 ZYGO 在表面形貌计量方面无与伦比的经验的基础上。ZYGO 制造的 HeNe 激光源与 ZYGO 的专利采集算法和功能齐全的 Mx™ 计量软件相结合，实现了高精度的计量和易于使用的分析功能 车间里的可靠计量 近年来，光学计量技术取得了很大的进步。 在过去，人们需要小心翼翼地控制环境的影响，才能获得可靠的测量。 如今，ZYGO 提供的技术能够在振动和空气湍流使得传统光学计量仪器很难甚至无法进行测量的恶劣环境中进行可靠的测量。 光学元件的表面形貌和平面度测量，以及光学系统和组件（如窗口、反射镜、透镜、棱镜）的波前，甚至精密加工的金属和陶瓷表面的波前测量。 标准配置包括 QPSI 抗振采集技术、功能齐全、强大、易于使用的 Mx™ 测量软件、分析和自动化功能以及享 3 年质保的 ZYGO HeNe 激光源。 主要特点 ZYGO 制造的 HeNe 激光源 比市面上的激光器寿命更长，寿命长达 6 万小时，享 3 年质保！ 更高的功率，改善了抗振性能，适合微光应用 波长稳定在 0.0001 nm ZYGO 独有的 QPSI™ 采集技术，可在振动较常见的环境中实现可靠的测量 连续可变的 1X-5X 光学变焦