- 计量设备、实验室仪器
- 计量和测试仪器
- 薄型材料测厚仪
- MICRO-EPSILON/米铱
膜测厚仪 capaNCDT TFG6220薄型材料台式电容
添加到我的收藏夹
添加到产品对比表
产品规格型号
- 应用
- 薄型材料, 用于膜
- 类型
- 台式
- 所用技术
- 电容
- 其他特性
- 精准, 带数据记录器, 高解析度, 智能, 质量控制
- 测量精度
0.2 µm
- 测量频率
100 Hz
- 分辨率
10 nm
- 环境温度
最多: 25 °C
(77 °F)最少: 18 °C
(64.4 °F)
产品介绍
产品概述
TFG6220 电容式系统用于高精度测量导电薄膜（例如电池薄膜）的厚度。外部真空装置将样品吸附并拉平，以提供无皱的参考面。系统为预装配设计，适用于离线随机抽样的质量检验，便于快速部署使用。
测量功能
应用
适用于导电薄膜厚度的离线快速检测，用于质量控制和工艺监测，例如电池薄膜。
特性 / 技术参数
TFG6220 电容式系统用于高精度测量导电薄膜（例如电池薄膜）的厚度。外部真空装置将样品吸附并拉平，以提供无皱的参考面。系统为预装配设计，适用于离线随机抽样的质量检验，便于快速部署使用。
测量功能
- 通过真空平整薄膜以消除褶皱并确保可重复的定位
- 测量支架配备上下两只电容传感器及集成测量插件以便于参考定位
- 通过 sensorTOOL（网页界面）进行数据采集与可视化
应用
适用于导电薄膜厚度的离线快速检测，用于质量控制和工艺监测，例如电池薄膜。
特性 / 技术参数
- 分辨率：10 nm
- 重复性：1 µm
- 可测薄膜厚度： < 1 mm
- 测量原理：两只电容传感器读数的补偿计算
- 样品处理：外部真空装置用于平整与夹紧
- 系统配置：预装配，开箱即用
- 软件：sensorTOOL 用于可视化与设置
