线性位移传感器 confocalDT IFC2465/66
非接触式彩色共聚EtherCAT

线性位移传感器 - confocalDT IFC2465/66 - MICRO-EPSILON - 非接触式 / 彩色共聚 / EtherCAT
线性位移传感器 - confocalDT IFC2465/66 - MICRO-EPSILON - 非接触式 / 彩色共聚 / EtherCAT
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产品规格型号

类型
线性
接触型/无线型
非接触式
所用技术
彩色共聚
输出信号
4-20mA, 数字输出式, 以太网, ProfiNet, EtherCAT, 0-10V
测试件
金属, 透明, 反映, 白炽
防护指数
IP40
应用
工业, OEM应用, 用于流程自动化
其他特性
高精度, 高解析度, 高速, 矩形, 多通路, 单管道
测量范围

最多: 30 mm
(1.18 in)

最少: 0.1 mm
(0 in)

线性度

0.03 %

测量频率

最多: 30,000 Hz

最少: 100 Hz

电源电压

24 V

环境温度

最多: 50 °C
(122 °F)

最少: 5 °C
(41 °F)

产品介绍

产品概述
confocalDT 2465 和 2466 共焦点控制器用于快速、高精度的距离与厚度测量,能够实现纳米级分辨率。多峰(multi-peak)型号可同时测量多达5层透明层的厚度。控制器将高发光强度与最高30 kHz 的测量速率相结合,即使在暗色或粗糙表面也能获得高信号强度。快速曝光控制可补偿表面变化。

型号
  • IFC2465:单通道控制器
  • IFC2466:双通道控制器

兼容性
控制器兼容所有 IFS 系列传感器,可为多种测量任务提供可靠解决方案。

通过网页界面简便配置
配置通过以太网访问的用户友好网页界面完成,无需额外软件。网页界面提供设置与配置选项,并包含可扩展的材料数据库以存储材料参数。

性能与技术规格
  • 分辨率:纳米级
  • 多峰测量:多峰型号可同时测量多达5层透明层的厚度
  • 测量速率:最高 30 kHz
  • 高发光强度,确保在暗色或粗糙表面也能获得强信号
  • 快速曝光控制以补偿表面条件变化
  • 提供单通道(IFC2465)与双通道(IFC2466)选项
  • 兼容所有 IFS 系列传感器
  • 通过以太网访问的网页界面进行配置
  • 网页界面中包含可扩展的材料数据库

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展厅

该卖家将出席以下展会

InnoTrans 2026
InnoTrans 2026

22-25 9月 2026 Berlin (德国) 展会 27 - 展台 170

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    * 显示价格为参考价,此价格不含税、不含运费、不含关税,也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。