HAMAMATSU/滨松公司测量系统

362 个企业 | 1,034 个产品
局部放电测量系统
局部放电测量系统
LDS-6

... Dobles LDS-6 是一个复杂的PD/RIV数字测量系统,根据国际公认的标准,如 IEC 60270、VDE 0434、ICEA T-24-380 以及其他 IEEE 标准执行 PD 检测。 LDS-6 包括 Doble Lemke 分析和诊断软件,提供完整的 PD/RIV 评估工具。 ...

扭矩测量系统
扭矩测量系统

... 高精度的车内测量 专为车辆实际应用而设计 GREENMOT已经开发了各种扭矩测量系统,在 "车内 "实际使用中提供高动态精度。这些定制传感器的敏感部件经过内部设计和验证,在实际使用中对温度、不对中或科里奥利效应等外部扰动的敏感度较低。它们完美地适应有关部件:飞轮、传动轴或皮带轮。因此,它们允许你为你的车辆发展收集一套相关数据。 ...

局部放电测量系统
局部放电测量系统
GDYT series

... GDYT系列局部放电测试系统 产品说明 GDYT主要用于测试各种绝缘材料、绝缘结构和电气产品的频率电压绝缘水平,也可作为变压器、互感器、避雷器等测试对象的局部放电频率测试电源。广泛应用于电气制造、电力运行部门、科研院所和高等院校。 它包括以下组成部分。 1.Hipot测试控制单元GDYD 2.无PD气体型变压器YDQW。 3.耦合电容器 4.保护电阻 5.隔离过滤器LBQ 6.部分放电检测器 特点 先进的无PD环氧绝缘管,局部放电容量小。 ...

机械手测量系统
机械手测量系统

... 机器人测量-控制装置和自动装置 机器人手臂系统和机器人,我们正在做相应的夹具的设计和生产。在这个系统中,人力被转化为机器的力量;在更短的时间内,更完美的,我们获得更多的美学和更多的功能数据。 ...

灯光测量系统
灯光测量系统
Raman

... 物理性质和光谱。整个系统轻巧、便携,适合现场快速检测和材料鉴定等。 特征 - 根据不同类型的样品排列成对的不同探头、支架或定制的适合应用的探头。 - 根据各种样品调整激光功率,有多种波长,如532nm、633nm、671nm、785nm、830nm、1064nm等。 - 一键式采集,无需直接接触透明或半透明容器(如玻璃、塑料袋或瓶子等)中的样品,快速且无损伤。 - 优化的自动杂交分析算法,对混合物的识别更有效 - 手持式拉曼光谱仪可直接以PDF格式导出检测报告,并可在云系统上进行数据搜索和管理 ...

查看全部产品
LiveStrong Optoelectronics Company
视频测量系统
视频测量系统
OpenSYS series

... OpenSYS 25 Compact 视频测量系统 这款入门级系统提供了极大的测量便利。小巧的体积和重量使其在车间里特别实用。其简单的使用方式是所有操作者的财富。 N°:MA 331-075-14 规格: - 铸铁底座。 - 铸铁底座。 - 手动X-Y工作台MA 142-2,范围25 x 25mm。 机械精度0.005mm/25mm。 集成旋转台。 - ...

查看全部产品
Marcel Aubert S.A.
光学测量系统
光学测量系统
ONESHOT

... 包括ONESHOT VISIONBOX 远心镜头测量系统 100毫米直径双电心镜头。最大限度地减少图像失真 每次测量直径为90毫米的物体。 深度聚焦深度。一次测量大的高度差距 即使改变了焦点位置,图像的大小也是一样的。 平行传输照明 同轴上照明 应用 创新性地更换投影仪、测量显微镜。 ...

通用量规测量系统
通用量规测量系统
Standard

查看全部产品
BLOWERDOOR
厚度测量系统
厚度测量系统

... 面对半导体产业链上游的原材料生产企业,自主研发的光谱共聚焦测量系统用于检测半导体原片和外延片的尺寸和平整度。 产品优势。 应用范围广 用于各种材料和抛光条件的4-8英寸原片、基片和外延片的检测 测量精度高 厚度范围。0-1mm 测量精度:± 1 μ M 重复精度:0.2 μ m 测量时间短 测量时间。30s/PCS(根据客户的检测轨迹) ...

温度测量系统
温度测量系统
Datapaq® Reflow Tracker®

... DATAPAQ 回流跟踪仪热阻范围 结构紧凑、重量轻的隔热箱可在空间狭小的回流炉中保护温度数据记录器。其不锈钢外壳和微孔陶瓷绝缘层可确保最大程度的保护和使用寿命。最受欢迎的型号仅重 0.7 千克(1.6 磅),可在 300 °C (572 °F) 的温度下工作 8 分钟以上。 用于 6 通道数据记录器 DP5660 的隔板 - TB2015 标准 - TB2064 低高度 - TB2065 用于长时间或快速重复使用 用于窄型 ...

灯光测量系统
灯光测量系统
TRA 100 series

... TRA 100是一种透射测量适配器,可用于测定各种材料在正常入射光下的光谱透射特性。这种附件适配器的一些应用包括玻璃和光学滤光片的表征。 所有Instrument Systems公司的光谱仪都与TRA 100兼容。它可以通过两种方式连接到光谱仪上并耦合透射光。一是用多模光纤和SMA连接器,二是用光纤束。 为TRA 100提供光源有两种选择。第一个选择是固定在测头上的紧凑型10W卤素灯。第二种是光纤连接器,与Instrument ...

磁性测量系统
磁性测量系统
MPI-R10

... IP54,请参阅 EN 60529 表。 IP67,请参阅 EN 60529 表格。 功能和应用 MPI-R10 测量系统连接到一个特定的传感器 FC-MPI, 结合磁带 M-BAN-10, 是一个完整的系统,用于测量线性和角位移 (最小半径 65 毫米). 它的特点是非常简单的装配,可实现精确的对准和定位,从而最大限度地减少时间和加工过程。 ...

光学测量系统
光学测量系统
C12562-04

... NanoGauge 膜厚测量系统 C12562 是一款紧凑、节省空间的非接触式薄膜膜厚测量系统,可根据需要轻松安装在设备中。在半导体行业,因为硅穿孔技术的流行,硅厚度的测量至关重要;在薄膜生产行业,粘合层薄膜越来越薄,以满足产品规格。因此,这些行业现在需要更高的厚度测量精度,测量范围从 ...

查看全部产品
HAMAMATSU/滨松公司
光学测量系统
光学测量系统
C10178-03E

Optical NanoGauge 膜厚测量系统 C10178 是一种利用光谱干涉法的非接触式膜厚测量系统。通过光谱干涉法以高灵敏度和高精度快速测量薄膜厚度。我们的产品使用多通道光谱仪 PMA 作为探测器,可以测量量子产率、反射、透射/吸收和各种其他点,同时测量各种滤光片和涂层膜的厚度等。 特点 • ...

查看全部产品
HAMAMATSU/滨松公司
反射率测量系统
反射率测量系统
C11295

Multipoint NanoGauge 膜厚测量系统 C11295 是一种利用光谱干涉法的薄膜膜厚测量系统。作为半导体制造过程的一部分,它旨在测量薄膜厚度,以及用于对安装在半导体制造设备上的 APC 和薄膜进行质量控制。允许实时进行多通道测量,可在薄膜表面同时进行多通道测量和多点测量。同时,它还可以测量反射率(透射率)、物体色及其随时间的变化。 特点 • ...

查看全部产品
HAMAMATSU/滨松公司
厚度测量系统
厚度测量系统
Accuthik

... 最好的自动厚度控制解决方案 专为航空航天领域设计,Accuthick使加工部件成为可能,在低重量和该领域必要的结构强度之间实现最佳折衷。 ...

弧形切割测量系统
弧形切割测量系统
CMS748i-0960-0560-0720.R

... 电子狗 CMS700 订货说明 - 更多型号请咨询 功能 - 用于最低物体高度 ≥ 50 mm 检测距离 - 0.1 ... 4.5 m 检测距离, 透明介质 - 0.1 ... 1.75 m 测量区长度 1 - 960 mm 测量区长度 2 - 560 mm 测量区长度 3 - 720 mm 光束数 - 光束 光束距离 - 5 ...

弧形切割测量系统
弧形切割测量系统
CMS708i-0640-0480-0480

... 电子狗 CMS700 订货说明 - 更多型号请咨询 功能 - 用于最低物体高度 ≥ 50 mm 检测距离 - 0.1 ... 4.5 m 检测距离, 透明介质 - 0.1 ... 1.75 m 测量区长度 1 - 640 mm 测量区长度 2 - 480 mm 测量区长度 3 - 480 mm 光束数 - 光束 光束距离 - 5 ...

弧形切割测量系统
弧形切割测量系统
CMS708i-ENC1-0640-0960

... 旋转传感器 1x 电子狗 CMS700 订货说明 - 更多型号请咨询 功能 - 用于最低物体高度 ≥ 5 mm 检测距离 - 0.1 ... 4.5 m 检测距离, 透明介质 - 0.1 ... 1.75 m 测量区长度 1 - 640 mm 测量区长度 2 - 960 mm 光束数 - 光束 光束距离 - 5 mm 输出电流, 每个通道的最高持续电流 - 100 ...

停止时间测量系统
停止时间测量系统
NMG2

... 参照EN ISO 13855,用于测量机器的停机时间的系统 集成点阵打印机,RS232 安全距离的计算 校准证书(ISO 9001)。 ...

角向测量系统
角向测量系统
E-Bend L

平面度测量机
平面度测量机
Tropel® FlatMaster®

... Tropel® FlatMaster® 为精密组件制造商提供行业领先的表面形状测量性能。 我们的非接触式光学技术在几秒钟内记录整个表面。 FlatMaster® 提供 5 纳米分辨率和 50 纳米(2.0 μ”)的标准精度。 它可以快速准确地测量各种表面的平坦度、线轮廓、半径和其他表面参数。 FlatMaster® 的多种标准版本可用于优化不同元件尺寸范围内的精度。 FlatMaster® ...

温度测量系统
温度测量系统
Understrip

Understrip 是 AMETEK Land 针对平板钢产品的热轧工艺开发的温度测量方案。Understrip 是一种坚固,精确的系统,适用于从钢材的底部进行测量。该系统能免除顶侧表面上的水分和少量氧化皮所造成的影响。此外,针对较低的温度,在靠近卷取机的底部位置用短波长进行测量就能避免环境照明干扰。USTS ...

3D测量系统
3D测量系统
Zoom3D

... X-PAD 和 Zoom3D — 您的完美系统 X-PAD 以其用户友好性和易于设置而闻名。 X-PAD 总计划是专门设计的,使您的工作与 Zoom3D 尽可能简单。 Zoom3D 和 X-PAD 总体规划系统是您新的布局合作伙伴,使工作更快、更轻松、更高效。 该软件包括一套完整的工具,以检查距离,斜坡和角度在施工现场。 只需几个步骤,您就可以测量了。 无论是在黑暗或阳光照射条件下,瞄准隐藏点,或远距离长达 ...

力测量系统
力测量系统
PRMS

... 如果人和机器人接触时,碰撞力依然在定义的范围内,则应用符合标准。因此,在每个人机应用中必须进行相关测量。观看视频,了解更多关于PRMS的信息! 碰撞测量系统的功能 力测量测量装置带有弹簧和传感器,用以测量施加在人体上的力。 九只不同的弹簧分别具有不同的弹力常数,可在力测量中用于重建各个身体区域。 压强的测量 压强指示膜用于测量局部压强并将其同相关标准中规定的极限值进行比较。 您可使用一款便捷的软件工具对力测量值进行评估和数字化处理,并生成试验报告。 ...

水平调节仪测量系统
水平调节仪测量系统
PowerCEMS100

... 面向未来的投资,因为系统可以很容易地进行调整以满足未来的需要 调试容易,主管部门对测量系统的现场批准无困难 由于电气和分析器组件的明确分离,易于维护 采用CAN总线技术的模块更换方便快捷,可用性高 PowerCEMS100连续排放监测系统(CEMS)是经济上和技术上完美的萃取测量任务的解决方案。这个多合一系统包括高质量的标准组件和部件,由于其模块化的系统设计,可以适应具体的应用要求。改装分析器模块或气体调节器很容易,而且成本很低。创新的PowerCEMS100系统通过了欧洲标准EN ...

温度测量系统
温度测量系统
ContiPressureCheck™

... ContiPressureCheck™能立即检测到轮胎压力和温度的任何变化。 ContiPressureCheck™是一个直接安装在轮胎内部的测量系统。如果充气压力下降,轮胎在滚动时可能会受到更大的压力,导致轮胎发热,从而损坏轮胎,甚至导致爆胎的发生。ContiPressureCheck™使用轮胎内部的传感器持续监测充气压力和轮胎温度,以防止这种情况发生。 更多信息 ContiPressureCheck™适用于哪些车辆? ContiPressureCheck™具有高度的兼容性和通用性。 ...

查看全部产品
Continental Tires
位置测量系统
位置测量系统
IMS2I-KWD

通过将测量技术集成在线性导轨中可以得到一个机电一体化的系统,将机械荷载的导向功能和长度测量结合在一个产品内。外部测量系统即不再需要。 滑块 带已安装适配板和测量头的滑块 ▶ 与标准滑块相同的钻孔图和连接尺寸。 ▶ 通过适配板可以在维修时无需滑块的拆卸进行测量头1)的更换。 导轨 内置钢制测量刻度的导轨。 ▶ ...

查看全部产品
Bosch Rexroth - Linear Motion Technology
自动测量系统
自动测量系统
05804

... 大体积的样品流过 水循环 可与SCHMIDT + HAENSCH的蠕动泵相连接 可靠的自动测量适配器 以下规格中的ID-N° 用于SCHMIDT + HAENSCH ATR-P型号的额外的完整的特殊样品室盖,允许大样品量的流过,带有漏斗和漂洗器,水循环的连接,或使用泵的自动测量的流过。 ...

平台入驻

& 任何时间、任何地点都可以与客户联系

平台入驻