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... - 测量所有硬磁材料（铝镍钴、铁氧体、钐钴、钕铁硼、塑料复合材料） - 恒定磁通量变化 d/dt 测量 - 使用 J 补偿周围线圈、磁极线圈或磁场线圈进行测量 - 在高达 200°C 的高温下进行测量 - 完全由计算机控制的测量系统 - 测量过程中实时显示磁滞 - 用于测量、显示和集成到 QM 系统中的 BROCKHAUS® MAG Expert 软件 - 视窗桌面 工作原理 测定硬磁材料的磁性能。测量程序符合 IEC 60404-5。 该过程以恒定的磁通量变化 ...
... - 测量所有磁性材料（硬磁性 AlNiCo、铁氧体、SmCo、钕铁硼、塑料复合材料；软磁性：电工钢、铁氧体......等） - 使用恒定磁通量变化 d/dt 或正弦极化进行测量 - 使用 J 补偿环绕线圈、磁极或磁场线圈或带状测量线圈、环形磁芯传感器、冲压件传感器、爱泼斯坦框架、片状测量线圈进行测量 - 在高达 200°C 的高温下进行测量 - 完全由计算机控制的测量系统 - 在测量过程中实时显示滞后情况 - 用于测量、显示和集成到 QM 系统中的 BROCKHAUS® ...
... - 监控和记录电工钢的软磁特性 - 连续在线质量控制 - 在线测量特定磁滞损耗和感应峰值 - H 和 J 并行数据采集系统 - 绝对同步测量过程 - 高重复性和测量精度 - 程序控制操作 - 布洛克豪斯® EBA-Expert 软件，用于测量、显示和集成到 QM 系统中 工作原理 测量系统包括一个测量和处理单元，以及一个带有所有所需线圈（激励线圈、次级线圈、切向场线圈）的双线圈系统。双线圈系统安装在生产线上。需要测量的材料通过该装置送入。 为了将测量值和记录值明确分配到一个钢线圈上，测量系统可以管理材料识别数据。测量开始和结束的数字信号可通过测量系统本身进行处理，以便在生产过程中对材料进行跟踪。 纳入极化和磁场值；计算磁滞损耗值。以图形显示整个钢带长度上的数值。将达到的值与标称值进行比较。所有不允许的值都将作为统计异常值保存。 通过操作软件，可以为任意数量的测量程序设置参数，也可以校准任意类型的板材。该软件可快速集成到质量数据文档中。 ...
SG 3000专为全尺寸汽车天线测量和OTA测试而设计。其系统配置可以变更, 以满足您的具体需求和安装条件: 我们可以为您设计不同尺寸的拱桥，其结构既可以是固定式 (F型号), 也可以是移动式 (M型号); 因此, 您既可以将其永久安装在电波暗室中, 也可以将其移入电波暗室中。被测装置的旋转由高精度定位系统控制，可实现离散和/或连续的实时测量。 测量能力 • 增益 • 方向性 • 波束宽度 • 交叉极化鉴别率 ...
... RDG4000 TR是Gilardoni的解决方案，通过 "声学双折射 "来测量铁路车轮的内部残余应力。事实上，这种测量方法显示了超声波的传输速度是如何受制于被测车轮部分的不同应力状态的。 该设备使用了EMAT探头，它的优点是不需要凝结液体。 EMAT探头的标准配置是两个相等的换能器，在两个垂直的平面上产生线性偏振的横向波，所以传输方向是： ■ 一束：水平极化的传播方向与车轮的滚动平面平行； B波束：垂直极化的传播方向垂直于车轮的滚动平面； 对于每个换能器，通过与第一个后壁相关的飞行时间来测量声学双折射。 回声。对于每个测试点，测量冠轮深度旁边的圆周应力的平均值。 EMAT探头可以通过一个机械支架沿径向扫描，该支架可以很容易地放在轮子上，并用两个磁铁锁定；扫描允许从位于径向扫描的不同点收集数据。探头支架的扫描由运行在同一台电脑上的SW程序管理。残余应力是根据两个不同参考平面上剪切波速度的变化（如果有的话）来测量的。如果速度变化可以忽略不计，那么残余应力就近乎不重要。 ...
... Hinds™ Instruments Exicor® OIA是主要的双折射测量系统，用于评估正常和斜入射角的透镜、平行面光学器件和曲面光学器件。该系统建立在Hinds Instruments获奖的基于Exicor双折射测量技术的光弹性调制器（PEM）上。这个新一代的双折射测量系统为行业提供了分析和开发下一代光刻镜头、镜坯和高价值贵重光学器件的新能力。 该系统利用PEMs来调制光束的偏振状态，并利用先进的检测和解调电子技术来测量光学器件如何改变偏振状态。这导致测量一个偏振状态相对于另一个偏振状态的90°的光延迟。双折射和快轴方向，以及理论上的残余应力，都可以通过这些数据进行评估。 Hinds仪器和Exicor斜入射角技术已被平版印刷透镜毛坯和成品透镜的世界领导者选中，用于评估研究和生产中的光学双折射。我们的系统是没有人可以超越的! 标准功能。 - ...
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... 选项 抗反射涂层（ARC）-定制 磁场兼容（MFC） 特殊频率选项(SFO) 无干扰选项(NIO) -NIO-1，I/FS50上的标准配置 -NIO-2，在I系列光学器件上为客户定制 真空兼容头定制 Hinds Instruments是世界领先的基于偏振调制原理的技术开发商。光弹性调制器（PEM）是各种光子学应用中的关键部件。因此，Hinds已成为广泛的基于偏振的关键测量的主要贡献者。 在此了解我们的光弹性调制器的工作原理、独特功能和工作模式。 PEM是由各向同性的光学材料制成的，在谐振频率下工作。PEM的独特特性包括。 -偏振纯度高 -大孔径 高的功率处理能力--某些设备可达到5 ...
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... 双PEM系统提供了进行实时偏振分析测量的能力。当只使用一个PEM时，必须在第一次测量后将样品旋转45°进行两次测量。然而，使用两个PEM彼此呈45°安装，就可以进行实时测量。 Hinds仪器有四种标准的双PEM选择，用于需要不同有用孔径和不同光谱区域测量的应用。 I/FS50-60（和I/FS50-55，I/FS47-50）系统使用I系列PEM。l系列PEM有一个矩形的光学元件，实质上限制了PEM的有用孔径。当光源具有较小的光束直径时，这些小型系统是实用的。因此，如果双PEM的应用涉及到只由一个激光器组成的光源，这是一个可行的选择。 II/FS20-23和II/FS42-47系统也采用高质量的熔融石英作为光学材料，其传输范围为170纳米至2.6微米。这两个型号在可见光和近红外光谱区都具有完全的功能。然而，II/FS20-23系统的好处是有一个更大的孔径。如果光源的光束直径较大或需要容纳一个以上的光源，这一点尤其有用。这种双PEM通常用于斯托克斯偏振计系统，测量从注入托卡马克等离子体的氘原子束中发射的光的线性分量的方向。II/42-47也用于斯托克斯偏振仪的测量，并提供一个更紧凑的光学头配置。 ...
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... PolawisetM 是一种先进的偏振测量系统，用于精确表征光源和光学材料的所有偏振相关特性。 PSGA-101-A 基于通用光子学专利的磁光偏振生成和分析技术，专为光纤应用而设计，可轻松完成多种功能，包括偏振状态生成 (PSG)、偏振状态分析 (PSA)、偏振状态分析 (PSA)、偏振化等。 消光比 (PERE) 测量, 偏振相关损耗 (PDL) 测量和偏振模式色散 (PMD) 测量. 该仪器的另一个引人注目的特点是其大型翻盖 LCD 图形显示设计，这是业界首创，允许在紧凑的便携式外壳上拥有大观景区。 ...
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