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极化测量系统
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... 汽车行业的电子产品制造商对质量标准要求很高。SMT生产线上的上料验证和图像处理系统可确保物料得以正确设置,在视觉上元件与其描述相符。但是如果元件的电气属性本身是错误的,那会发生什么呢? 错件的常见原因包括来料错误,或将物料安装或拼接到了错误的供料器上。由于供应链问题,料盘上的元件来自不同批次或不同的供应商,这也可能导致错误。即使看起来完美的元件也可能具有错误的电气属性,或者甚至是错件。SIPLACE测量供料器能提供有效的保护,预防错误贴装。 性能 •按需进行CRDL测量或者对元件的电阻、电容、二极管或者电感进行验证 •通过接料作业或者换线操作自动触发测量周期 •占用空间最小 •通过标准的供料器接口进行数据通信 •可在SIPLACE ...
... Hinds™ Instruments Exicor® OIA是主要的双折射测量系统,用于评估正常和斜入射角的透镜、平行面光学器件和曲面光学器件。该系统建立在Hinds Instruments获奖的基于Exicor双折射测量技术的光弹性调制器(PEM)上。这个新一代的双折射测量系统为行业提供了分析和开发下一代光刻镜头、镜坯和高价值贵重光学器件的新能力。 该系统利用PEMs来调制光束的偏振状态,并利用先进的检测和解调电子技术来测量光学器件如何改变偏振状态。这导致测量一个偏振状态相对于另一个偏振状态的90°的光延迟。双折射和快轴方向,以及理论上的残余应力,都可以通过这些数据进行评估。 Hinds仪器和Exicor斜入射角技术已被平版印刷透镜毛坯和成品透镜的世界领导者选中,用于评估研究和生产中的光学双折射。我们的系统是没有人可以超越的! 标准功能。 - ...
Hinds Instruments
... - 测量所有硬磁材料(铝镍钴、铁氧体、钐钴、钕铁硼、塑料复合材料) - 恒定磁通量变化 d/dt 测量 - 使用 J 补偿周围线圈、磁极线圈或磁场线圈进行测量 - 在高达 200°C 的高温下进行测量 - 完全由计算机控制的测量系统 - 测量过程中实时显示磁滞 - 用于测量、显示和集成到 QM 系统中的 BROCKHAUS® MAG Expert 软件 - 视窗桌面 工作原理 测定硬磁材料的磁性能。测量程序符合 IEC 60404-5。 该过程以恒定的磁通量变化 d/dt 运行,避免了涡流和磁场强度与极化测量之间的相位偏移造成的干扰。 测量精度高,重现性好。由处理器控制对电流增加进行监测和调节。 通过 ...
Brockhaus
... 从 2001 年发布的最初的多应用平台 (MAP) 系统,到全新的第三代 MAP-300 系列,MAP 系统是 VIAVI 光学测试解决方案的核心,用于实验室和制造应用。我们的解决方案具有无与伦比的可扩展性,能够满足用户当前和未来的需求,让他们的发展无虞 新的 MAP-300 建立在 MAP 系统已被证明的优势之上,同时在对客户最重要的领域增加了创新功能。对已安装的自动化基础的向后兼容支持,再加上若干新特性,包括适用于多用户环境的基于 HTML 的 GUI,助力客户实现他们的目标。我们迫不及待地想看看您使用全新的 ...
... PolawisetM 是一种先进的偏振测量系统,用于精确表征光源和光学材料的所有偏振相关特性。 PSGA-101-A 基于通用光子学专利的磁光偏振生成和分析技术,专为光纤应用而设计,可轻松完成多种功能,包括偏振状态生成 (PSG)、偏振状态分析 (PSA)、偏振状态分析 (PSA)、偏振化等。 消光比 (PERE) 测量, 偏振相关损耗 (PDL) 测量和偏振模式色散 (PMD) 测量. 该仪器的另一个引人注目的特点是其大型翻盖 LCD 图形显示设计,这是业界首创,允许在紧凑的便携式外壳上拥有大观景区。 ...
... RDG4000 TR是Gilardoni的解决方案,通过 "声学双折射 "来测量铁路车轮的内部残余应力。事实上,这种测量方法显示了超声波的传输速度是如何受制于被测车轮部分的不同应力状态的。 该设备使用了EMAT探头,它的优点是不需要凝结液体。 EMAT探头的标准配置是两个相等的换能器,在两个垂直的平面上产生线性偏振的横向波,所以传输方向是: ■ 一束:水平极化的传播方向与车轮的滚动平面平行; B波束:垂直极化的传播方向垂直于车轮的滚动平面; 对于每个换能器,通过与第一个后壁相关的飞行时间来测量声学双折射。 回声。对于每个测试点,测量冠轮深度旁边的圆周应力的平均值。 EMAT探头可以通过一个机械支架沿径向扫描,该支架可以很容易地放在轮子上,并用两个磁铁锁定;扫描允许从位于径向扫描的不同点收集数据。探头支架的扫描由运行在同一台电脑上的SW程序管理。残余应力是根据两个不同参考平面上剪切波速度的变化(如果有的话)来测量的。如果速度变化可以忽略不计,那么残余应力就近乎不重要。 ...