定向测量系统

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位置测量系统
位置测量系统
The PlanAssistant

... 操作简单 有了 ...nAssistant,每个人都可以进行专业测量或打桩。只需进行简短的介绍即可,无需具备测量方面的知识! 图形显示 原则上,布局和点总是以图形显示。这可以减轻工作现场的定位工作。 PC 接口 每台 PC 均可在眨眼间下载总计多达 40.000 个读数的布局。反之亦然,测量的布局也可以上传,以便进一步处理。...nAssistant 支持使用大地测量点和手动输入布局。 内置 CAD 功能 内置的 CAD 功能非常实用,可以现场绘制弧线、圆、直线、角度、切线、平行线、交点等。 自由站位 借助 ...

视频测量系统
视频测量系统
iNEXIV VMA-6555

iNEXIV VMA系列具有大视场、长工作距离和宽XYZ行程,为各种3D部件的自动测量提供超强适用性。 通过宽视场进行各种测量应用 iNEXIV VMA系列提供3大类机型,带有宽视场光学器件和接触式探头接口,是使用视觉和接触式测量的各种工业测量、检查和质量控制应用的理想选择。 长工作距离 73.5 mm长工作距离。最适用于高度变化大、凸台高、细孔、深孔等的深度测量。 接触式测量(选配) 能够测量不可见特征的尺寸和角度,例如零件侧面的孔。

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Nikon Metrology
视频测量系统
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NEXIV VMZ-K3040

能够进行高速/高分辨率3D检测。 突破性的多功能共聚焦影像测量系统 融合了共焦技术,具有15倍变焦的明视野和激光自动对焦。 无论需要什么样的几何测量,二维或三维,检查和评估都异常快速和准确。 共焦光学系统可实现清晰显示,便于准确检测高对比度样品边缘。 精细凸点和基板图案 在同一视场内结合15倍变焦明场图像的2D测量和3D高度测量,可以实现多样化测量。 探头卡 可以根据位置数据一键式地进行编程。可以使用独家的图像处理工具自动测量探头卡上的XYZ坐标和共面接触探头销。 精密PCB图案 尼康独家的共焦成像技术可以精确扫描高反射和低反射率表面。

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厚度测量系统
厚度测量系统
NEXIV VMZ-K6555

能够进行高速/高分辨率3D检测。 突破性的多功能共聚焦影像测量系统 融合了共焦技术,具有15倍变焦的明视野和激光自动对焦。 无论需要什么样的几何测量,二维或三维,检查和评估都异常快速和准确。 共焦光学系统可实现清晰显示,便于准确检测高对比度样品边缘。 精细凸点和基板图案 在同一视场内结合15倍变焦明场图像的2D测量和3D高度测量,可以实现多样化测量。 探头卡 可以根据位置数据一键式地进行编程。可以使用独家的图像处理工具自动测量探头卡上的XYZ坐标和共面接触探头销。 精密PCB图案 尼康独家的共焦成像技术可以精确扫描高反射和低反射率表面。

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高速测量系统
高速测量系统
ZeroTouch® ZTM

... 高速、非接触式测量和检测平台,比传统的三坐标测量机更快地处理复杂的几何形状。 提高精度 ZeroTouch采用独特的5轴结构和一流的传感器,提高了测量质量。 提高吞吐量 ZeroTouch可在几分钟内捕捉复杂的尺寸测量。 垫资生产 ZeroTouch可同时快速执行多项测量。 ZeroTouch是一个强大的非接触式测量平台,它可以快速捕捉数百万个数据点,创建一个高精度的3D点云,从而实现对复杂零件几何形状的快速测量,并以低GRR对最复杂的零件进行精确检测。 最小化堆栈误差 ZeroTouch独特的平面空气轴承设计将公差堆叠误差降至最低。通过为精密级提供极其平滑的高速运动,这种近乎零摩擦的设计确保了更稳定的性能,最大限度地减少了机械磨损,提高了GRR。 高级分析集成 通过业界公认的分析软件,可以通过比较点云扫描与标称CAD模型和GD&T控制来分析零件。统计过程控制(SPC)数据可以驱动警告,以降低变异性和废品率。 图形化零件检测规划 图形化、菜单驱动的零件检测计划工具,消除了对专业编程的需求。通过从MES中调用程序或通过可选的条码阅读器,可以轻松启动计划。 特点和优势 - ...

双折射测量系统
双折射测量系统
Exicor® OIA

... Hinds™ Instruments Exicor® OIA是主要的双折射测量系统,用于评估正常和斜入射角的透镜、平行面光学器件和曲面光学器件。该系统建立在Hinds Instruments获奖的基于Exicor双折射测量技术的光弹性调制器(PEM)上。这个新一代的双折射测量系统为行业提供了分析和开发下一代光刻镜头、镜坯和高价值贵重光学器件的新能力。 该系统利用PEMs来调制光束的偏振状态,并利用先进的检测和解调电子技术来测量光学器件如何改变偏振状态。这导致测量一个偏振状态相对于另一个偏振状态的90°的光延迟。双折射和快轴方向,以及理论上的残余应力,都可以通过这些数据进行评估。 Hinds仪器和Exicor斜入射角技术已被平版印刷透镜毛坯和成品透镜的世界领导者选中,用于评估研究和生产中的光学双折射。我们的系统是没有人可以超越的! 标准功能。 - ...

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Hinds Instruments
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Exicor® MT series

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Hinds Instruments
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YX-2 series

... YX-2 系列 X 射线定向仪器采用 X 射线衍射原理,将光、机械、电力设计合并为一个精密单元,可快速测量自然和人造晶体(蓝宝石、压电晶体、光学晶体、半导体晶体)的表面,如果与 切割机也可用于晶体定向切割。 现在,该仪器已成为制造晶体组件的必要设备。 它已被广泛应用于晶体材料的研发、制造企业,尤其适用于研究实验室、学校、公司。 特点: X 射线晶体定向仪器操作简单,不需要太专业的认可或技术,数字显示屏测量角度便于观察。 其显示器可以在任何角度设置为零,便于读取晶体板的角度误差值。 ...

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Liaodong Radioactive Instrument
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YX-6D/6DA

... 该仪器专门用于硅单晶棒取向测量,可与 YX-5Z/6Z和多线切割装置配合使用。 其最大的特点是,在取向测量后,可以直接计算晶棒的 l 偏转角、X & Y 值,并能精确测量部分晶圆的角值。 结构: YX-6D 硅单晶定向仪器由 X 射线控制器、角度装置、录音机、电磁光快门、微控制、键盘、输入信息、屏幕菜单显示、数据打印、角度显示、峰值强度计等组成。 计数软件适用于国际通用计算方法,具有度单位,显示最小精度为 0.001 度,测量定义为 ± 0.008 度(± 30 ...

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YX-5D/5DA

... 该仪器专门用于硅单晶棒取向测量,可与 YX-5Z/6Z和多线切割装置配合使用。 其最大的特点是,在取向测量后,可以直接计算晶棒的 l 偏转角、X & Y 值,并能精确测量部分晶圆的角值。 结构: YX-5D 硅单晶定向仪器由 X 射线控制器、角度装置、录音机、电磁光快门、微控制、键盘、输入信息、屏幕菜单显示、数据打印、角度显示、峰值强度计等组成。 计数软件适用于国际通用计算方法,具有度单位,显示最小精度为 0.001 度,测量定义为 ± 0.008 度(± 30 ...

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YX-5Z

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YX-6Z

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YX-10 crystal boule goniometer

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YX-9

... YX-9 型蓝宝石定向拼接仪:主要用于蓝宝石晶棒的定位和拼接,在切割前,它通过专业设计的夹具调整晶棒的 X 轴和 Y 轴,校准晶棒的偏离角度,然后用接片进行拼接。展示台为外摆式,双工位,还配有带高精度轴承直线导轨的样品夹板。它可以测量直径 2 英寸、长度 50-140 毫米的晶体棒。 ...

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YX-11C

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YH-2H8

... YX-2H8 型大晶棒定向仪是在标准定向仪的基础上,针对多晶体(单晶硅、蓝宝石、镓等)而设计的,主要用于测量晶体圆板、晶棒,其显示装置置于外部,在样品台上增加了轴承导轨。 标准配置:GA、GC 角向仪 GA 角位仪的一个面可以测量¢2-8 英寸直径的晶体圆板,如硅(111)蓝宝石 C 面的角度;同时可以测量晶棒的基准面或 OF 面,如硅(110)蓝宝石 A 面和其他晶体的角度。 GC 角测量仪的另一个表面可以测量晶棒端面,操作员可以通过改变辊棒的宽度来测量直径¢5-8nches、长度 ...

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YX-4

... YX-4 型高精度指示器是根据晶体的高测试精度而专业设计的。它采用预置石英晶体单色器,通过双衍射方式提高了测试清晰度。其精度为±15〃,显示器采用单芯片六位显示,最小读值为1〃,适合工厂使用工艺晶体。 ...

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