X射线测量系统

12 个企业 | 29 个产品
平台入驻

& 任何时间、任何地点都可以与客户联系

平台入驻
{{#pushedProductsPlacement4.length}} {{#each pushedProductsPlacement4}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}} {{#each product.productTagAssociationList}}
{{/each}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement4.length}}
{{#pushedProductsPlacement5.length}} {{#each pushedProductsPlacement5}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}} {{#each product.productTagAssociationList}}
{{/each}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement5.length}}
形状测量系统
形状测量系统
Axion® T2000

... Axion® T2000 X 射线尺寸量测系统可对先进的3D NAND 和 DRAM 芯片中使用的高深宽比结构进行高分辨率、快速、准确、精确、无损的 3D 形状测量。利用创新的 X 射线技术,Axion T2000 可识别可能影响存储器件性能和良率的细微结构变化(弯曲、突出、CD 轮廓、蚀刻深度、椭圆率、倾斜等)。Axion T2000 采用非破坏性在线测量,可帮助存储器制造商在研发期间达到快速学习周期,以替代 FIB-SEM、TEM ...

厚度测量系统
厚度测量系统
RAYEX® D series

... X射线测量仪,用于测量 低压、中压和高压电缆的 壁厚、偏心度、直径和椭圆度 特点 用于测量壁厚、偏心度、直径和椭圆度的测量系统 可以检测的壁厚薄至0.3 mm 可测量15 mm … 140 mm的产品 同时测量3层 独特的 X射线源设计理念,集成高压源和微束光路 独特的自适应集成解决方案,适合热轧和冷轧应用 可通过集成的各种接口通信,例如Ethernet IP、Profinet IO或Ethernet TCP/IP 所有处理器版本中都集成有Web服务器 优势 • ...

X射线测量系统
X射线测量系统
RAYEX® S series

... X射线测量仪,用于测量 电缆、管材和软管的 壁厚、偏心度、直径和椭圆度 特点 可以检测的壁厚薄至0.3 mm 可测量4 mm …100 mm的产品尺寸 多层测量选项 安全设计理念可以确保辐射安全 长效的 X射线源 可通过集成的各种接口通信,例如Ethernet IP、Profinet IO或Ethernet TCP/IP 所有处理器版本中都集成有Web服务器 产品工艺配方简单. 优势 • 一体化多功能系统!用于测量壁厚、椭圆度、偏心率和直径的完整系统 • ...

坐标测量系统
坐标测量系统
metroVoxel

... 高精度三维测量与分析,实现内部无损分析和全尺寸测量。 工业测量正从以往传统的外部测量,向内部无损分析及全尺寸测量转变。 X射线 CT技术凭借断层成像并配合先进的测量分析软件,在无损情况下,以二维断层图像或三维立体图像的形式,清晰、准确、直观地展示被检测物体的内部结构、材料构成及缺损状况。计量型 CT是具有高测量精度的 CT系统,也被称为 X射线三坐标测量系统,借助三英精密的metroVoxel计量 CT技术,您只需一次扫描,就可以成功获得内部和外部所有的结构并进行尺寸测量。 特点与优势 ●配备光栅尺闭环控制系统 ...

涂层厚度测量系统
涂层厚度测量系统

... 用于锂离子电池生产的 X 射线基重测量法 X 射线基重测量装置是一种高精度、非接触式在线测量系统,用于电极生产过程中的连续质量监控。它能可靠地测量涂覆电极材料的表面密度(面积重量),从而实现对涂覆质量的实时无缝控制。 X 射线技术特别用于检查阴极涂层。它可确保涂层材料的均匀分布,并对工艺的稳定性和电池的性能做出重要贡献。对于阳极涂层,我们还提供另一种基于 beta 的系统,可精确满足特定材料的要求。 由于采用了专利的 ...

表面重量测量系统
表面重量测量系统
BOARDSCALE HF

... 通过 BOARDSCALE HF 和实验室中对实验室切片进行平行测量和比较 结合测厚仪计算原始密度 可选配与GreCon MATCONTROL HF连接,实现自动调节 测量方法 BOARDSCALE HF 采用吸收测量方法。一个或多个 X 射线源安装在物料流上方,物料流下方的高精度检测器测量未被材料吸收的残余辐射。单位面积的重量和材料分布可以通过所接收辐射的衰退记录来确定。 面板重量根据面板尺寸测量出的单位面积重量计算得出。 对面板进行在线且连续称重,薄板和短板也可以称重,不受生产速度影响 ...

查看全部产品
Fagus-GreCon/格雷康
X射线测量系统
X射线测量系统
Xstress Robot

... Xstress 機器人通過 x光衍射對大小複雜的零件進行應力測量簡單靈活。 • 無損的 • 精確的6軸工業機器人(可選額外的軸) • 複雜零件(如渦輪葉片)的自動繪圖是可能的 • 易於更換 x光管(鉻、銅、鈷、鐵、釩、鈦、錳),可測量不同的材料 • 三個標準測量距離: 50、75和100毫米 • 兩個NMOS位置敏感探測器 • 暫態可調2θ角 • 運行測量和計算殘餘應力和殘餘奧氏體含量的XTronic軟體(可選) • ...

直径测量系统
直径测量系统
iXRAY

... 标准系统可用于测量管径范围1到63毫米的管道。iXRAY系列操作方便,操作人员只需选择管道、软管或电缆配方即可开始测量。通过将其与重力计量系统和其他已验证过的iNOEX产品结合使用,生产线可实现最高生产效率,同时节省原材料。这使得 X射线测量系统iXRAY为挤出线的自动化运行提供了完整的解决方案。此外, X射线测量系统不会对操作人员造成任何危害。辐射量远低于法律允许的下限,以及其他方面的安全规定,确保了安全使用。 更多可选项: ...

查看全部产品
iNOEX GmbH
裂纹测量机
裂纹测量机
Inspex IN

... Inspex IN- X射线检测仪 组装产品内部的无损检测。 工业 X射线检查系统 INSPEX IN X射线检测仪是基于 X射线源、探测器、控制产品的自动系统、图像处理软件和控制点算法的组合。 辐射防护是由铅制护服来保证的。 应用 INSPEX IN X射线检测仪适合检测无法无损打开的组装完成产品。它适用于航空航天、汽车、制表、电子、医疗设备或家庭自动化系统的多材料系统或子系统。 为什么我们与众不同? 无损多样化检测 -装配不正确(螺钉、连接器等缺失或位置错误)、材料故障 ...

带厚测量机
带厚测量机

... Vollmer的辐射测量仪采用无接触操作,并在安全距离内进行测量。它们的特点是极其精简的设计。有些系统的C型架只有120毫米宽。 孚尔默公司的 X射线系统采用数字探测器,使其噪音值极低。孚尔默公司为这些系统提供高质量的陶瓷管和必要的冷却器。 同位素系统也有数字检测器。孚尔默系统的一个特点是,辐射源位于一个特殊的钨制抽屉中,可以很容易地从量具中取出。 合金补偿是以传统的方式使用校准板进行的,或者根据客户的化学合金分析在计算机上进行,或者简单地使用一个小型的接触式测厚仪,该测厚仪在通过开始时测量绝对厚度 ...

定向测量系统
定向测量系统
YX-2 series

... YX-2 系列 X 射线定向仪器采用 X 射线衍射原理,将光、机械、电力设计合并为一个精密单元,可快速测量自然和人造晶体(蓝宝石、压电晶体、光学晶体、半导体晶体)的表面,如果与 切割机也可用于晶体定向切割。 现在,该仪器已成为制造晶体组件的必要设备。 它已被广泛应用于晶体材料的研发、制造企业,尤其适用于研究实验室、学校、公司。 特点: X 射线晶体定向仪器操作简单,不需要太专业的认可或技术,数字显示屏测量角度便于观察。 ...

查看全部产品
Liaodong Radioactive Instrument
X射线测量系统
X射线测量系统
PREXISION

... 普雷西昂 PREXISION是一种测量传感器( X-Soft), X射线低发射,是最流行和有效的薄膜和片材控制方法之一。 主要特点 高保护容器,坚固而紧凑,适用于任何类型的工业应用,甚至在危险环境中。 使用低发射的辐射 高精度标准,可靠且使用简单。 配备微处理器:测量处理和转换,在通过 "Profibus "进行数据传输时提供支持。 类别。传感器。 标签:Biax挤压, 吹膜, 流延膜, 非织造布, 片材和薄膜。 描述 PREXISION系列测量传感器可以在没有拘留和使用辐射源的标准授权的情况下使用 ...

形状测量系统
形状测量系统
Rayons X

... OCM 系统为加工商提供关于胴体组成和重量分布的准确实时数据,支持切割选择和定价决策。

功能

  • X射线:专利 X 射线系统用于判定骨骼结构并识别将前部、中部与后部分割的最佳切点。系统在一次切割前自动测量主切块重量,并可与动物/胴体识别及追踪系统对接。
  • DEXA:双能 X 射线吸收法(DEXA)用于测量骨密度与体成分。在红肉加工中,DEXA
...

平台入驻

& 任何时间、任何地点都可以与客户联系

平台入驻