X射线测量系统

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灯光测量系统
灯光测量系统
XMS

... 用于工业自动化的在线XRF 用于工业XRF自动化的仪器 XMS是一种用于在线XRF测量的坚固耐用的多功能传感器,专门为满足不同工业应用的要求而开发。 该系统重量轻(<2公斤),设计坚固,对于环境和操作条件要求便携的应用来说,它是完美的XRF分析仪,同时也提供了对冲击、振动、潮湿和灰尘的极端坚固性。 XMS带有一个基于XML的专用应用编程接口,可以方便地集成到几乎所有的编码语言(Python、C、VB等)中。 其他功能包括: 20平方毫米的SDD,带有CMOS放大器和基于石墨烯的窗口,用于检测光元素 ...

表面重量测量系统
表面重量测量系统
CHIPINSPECTOR

... -使用双能量X射线方法可靠地检测异物 -通过振动输送机实现均匀的材料分配 -通过精确的挡板转移异物,最大限度地减少好的材料被拒绝。 效益一目了然 -提高了质量 -通过卓越的面板质量使客户满意 -更少的投诉 -提高了产品的质量 -降低材料成本 -更少的废品 -高达55吨/小时的材料负荷。 -降低生产成本 -由于下游设施的压力较小,维护工作较少 -磨盘的寿命更长 测量方法 使用双能量方法,99%的异物可以在材料供应中被检测出来,并在它们到达下游工序之前被分流。由于不同材料的特定吸收行为,单位面积重量相同的材料 ...

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Fagus-GreCon/格雷康
表面重量测量系统
表面重量测量系统
BOARDSCALE T

... 持续监控材料分布和面板重量 * 适用于高生产速度 * 在有限空间条件下安装可能(例如压力扩展) * 使用均匀测试样品进行校准可实现精确测量 * 节省称重表 • 不依赖皮重-适用于薄板 测量方法 连续电路板秤以非接触方式运行。 为了测量,要称重的材料被 X 射线穿透。 根据材料的数量和材料的具体重量,传感器测量的辐射强度会发生变化。 这是单位面积(kg/m²)的重量度量。 用途 * 木基板:交叉切割前后锯 * ...

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Fagus-GreCon/格雷康
表面重量测量系统
表面重量测量系统
MATCONTROL HF

X 射线扫描仪GreCon MATCONTROL HF 确定生产线上无限材料宽度上的单位面积的重量。 与通常的称重系统相比,操作员在成型后直接获得无尽材料的材料分布的完整图像。 有关材料分布的信息可用于使用合适的工具(例如 FORATOR、调整表)干预成型过程。 由于高分辨率在平方毫米范围内,因此有可能精确确定异物的大小和位置。 检测到超出测量产品密度公差的金属和非金属材料(例如胶水或纤维块、塑料、轻金属零件或材料过度扩张)。 甚至可以检测到可能损害绝缘材料生产过程的热点和湿点。 ...

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Fagus-GreCon/格雷康
厚度测量系统
厚度测量系统
RAYEX® D XT

X射线测量仪,用于测量 低压、中压和高压电缆的 壁厚、偏心度、直径和椭圆度 特点 用于测量壁厚、偏心度、直径和椭圆度的测量系统 可以检测的壁厚薄至0.3 mm 可测量15 mm … 140 mm的产品 同时测量3层 独特的X射线源设计理念,集成高压源和微束光路 独特的自适应集成解决方案,适合热轧和冷轧应用 可通过集成的各种接口通信,例如Ethernet IP、Profinet ...

X射线测量系统
X射线测量系统
RAYEX® S

X射线测量仪,用于测量 电缆、管材和软管的 壁厚、偏心度、直径和椭圆度 特点 可以检测的壁厚薄至0.3 mm 可测量4 mm …100 mm的产品尺寸 多层测量选项 安全设计理念可以确保辐射安全 长效的X射线源 可通过集成的各种接口通信,例如Ethernet IP、Profinet IO或Ethernet TCP/IP 所有处理器版本中都集成有Web服务器 产品工艺配方简单 优势 • ...

直径测量系统
直径测量系统
iXRAY

... 范围内的重复性,该系统能够可靠地生成精确的测量数据。在高速生产线上,X 射线系统(可选两轴或三轴)可提供精确的测量结果。标准系统可用于 1 至 63 毫米的管道尺寸。iXRAY 系列操作简便,生产线操作员只需选择管材、软管或电缆配方即可开始测量。 其他优势/特点 - 测量壁厚分布、内外直径、椭圆度和偏心率 - 管道或软管圆周上最多 6 个壁厚值 - 3 个直径轴呈 120° 角 - 高重复性 - 阳极电压高达 60 kV 的高精度 ...

厚度测量系统
厚度测量系统
X-ray

... X射线技术是一种坚固和高度精确的测量仪器。它被用于单层和多层管道和软管以及电缆和橡胶应用的壁厚和直径测量。现代X射线组件与最新的半导体传感器技术相结合,可实现精确的空间分辨率和µm范围内的可重复性。该技术可用于多层管道,如铝制复合管、带织物嵌件的压力软管、橡胶软管、发泡产品、医用软管和管道以及电缆。产品的µm精确的可重复性和挤压过程中的质量保证是这里的重点。 优势: 单层和多层管道和软管的壁厚和直径测量 ...

坐标测量系统
坐标测量系统
metroVoxel

高精度三维测量与分析,实现内部无损分析和全尺寸测量。 工业测量正从以往传统的外部测量,向内部无损分析及全尺寸测量转变。X射线CT技术凭借断层成像并配合先进的测量分析软件,在无损情况下,以二维断层图像或三维立体图像的形式,清晰、准确、直观地展示被检测物体的内部结构、材料构成及缺损状况。计量型CT是具有高测量精度的CT系统,也被称为X射线三坐标测量系统,借助三英精密的metroVoxel计量CT技术,您只需一次扫描,就可以成功获得内部和外部所有的结构并进行尺寸测量。 特点与优势 ●配备光栅尺闭环控制系统 ...

涂层厚度测量系统
涂层厚度测量系统
FISCHERSCOPE® X-RAY

... 测量大型工件。 大型专用外壳,用于集成费舍尔 X 射线测量技术,测量大型工件的涂层厚度和材料分析。 用于超大型样品的 X 射线荧光分析。 FISCHERSCOPE® X-RAY 模块化箱体将大型箱体与 Fischer 成熟的 X 射线荧光测量技术相结合。您可以选择将测量技术安装在适合您需求的箱体内。可集成 FISCHERSCOPE® ...

涂层厚度测量系统
涂层厚度测量系统
FISCHERSCOPE® 4000 Series

• 使用XRF進行快速可靠的測量 • 所有硬體和軟體元件均已開發用於在線式測量目的 • 易於操作和自動校正確保最小的設置時間 • 可適應不同的鍍層系統和頻寬(從幾毫米到一米)靈活使用 • 系統符合DIN ISO 3497和ASTM B 568標準 • 衝壓和實心帶材上的鍍金層,例如Au,Ag,Pd,Ni,Cu等 • 帶材上的電接點 • 熱風焊平整鋼及有色金屬盤繞線 • 光電行業的功能性鍍層 FISCHERSCOPE® ...

晶圆用测量系统
晶圆用测量系统
XDV®-µ SEMI

... 用於自動測量直徑從 6 到 12 英吋晶圓上的薄鍍層和多層系統的專用儀器 • 超微焦點鎢陽極管,可在最小斑點下進行更高性能的µ-XRF;鉬陽極可選 • 4 種可更換過濾器 • 多毛細管光學元件允許 10 或 20 µm FWHM 的特別小的測量點和最佳的局部分辨率 • 50 mm² 矽漂移探測器,可在薄鍍層上實現最大精度 • 全自動晶圓處理和測試提升效率 • XRF系統具有出色的檢測器靈敏度和高解析度 • ...

形状测量系统
形状测量系统
Axion® T2000

Axion® T2000 X 射线尺寸量测系统可对先进的3D NAND 和 DRAM 芯片中使用的高深宽比结构进行高分辨率、快速、准确、精确、无损的 3D 形状测量。利用创新的 X 射线技术,Axion T2000 可识别可能影响存储器件性能和良率的细微结构变化(弯曲、突出、CD 轮廓、蚀刻深度、椭圆率、倾斜等)。Axion T2000 采用非破坏性在线测量,可帮助存储器制造商在研发期间达到快速学习周期,以替代 ...

裂纹测量机
裂纹测量机
Inspex IN

Inspex IN-X射线检测仪 组装产品内部的无损检测。 工业X射线检查系统 INSPEX IN X射线检测仪是基于X射线源、探测器、控制产品的自动系统、图像处理软件和控制点算法的组合。 辐射防护是由铅制护服来保证的。 应用 INSPEX IN X射线检测仪适合检测无法无损打开的组装完成产品。它适用于航空航天、汽车、制表、电子、医疗设备或家庭自动化系统的多材料系统或子系统。 为什么我们与众不同? 无损多样化检测 -装配不正确(螺钉、连接器等缺失或位置错误)、材料故障 ...

带厚测量机
带厚测量机

... Vollmer的辐射测量仪采用无接触操作,并在安全距离内进行测量。它们的特点是极其精简的设计。有些系统的C型架只有120毫米宽。 孚尔默公司的X射线系统采用数字探测器,使其噪音值极低。孚尔默公司为这些系统提供高质量的陶瓷管和必要的冷却器。 同位素系统也有数字检测器。孚尔默系统的一个特点是,辐射源位于一个特殊的钨制抽屉中,可以很容易地从量具中取出。 合金补偿是以传统的方式使用校准板进行的,或者根据客户的化学合金分析在计算机上进行,或者简单地使用一个小型的接触式测厚仪,该测厚仪在通过开始时测量绝对厚度 ...

形状测量系统
形状测量系统
VBP

... VBP 系列的系统是离线触觉测量系统,用于评估从线圈切割的带材样品上的横截面(无论是什么合金)。 它们经常用于铝和钢的热轧轧机,因为正是在这里设置了横截面以适用于钢带的所有后续用途;交叉剖面测量在这一点上具有重要意义。 在轧制过程中,X 射线仪通常使用,不管合金如何运行,而且由于测量点的高温和其他环境条件,精度有限。 然后使用 VBP 系统离线执行高精度交叉剖面测量,测量精度低至 ± 1 µm。通过这种方式,铣削操作员可以实现较高的工艺可靠性。 ...

定向测量系统
定向测量系统
YX-2 series

... YX-2 系列 X 射线定向仪器采用 X 射线衍射原理,将光、机械、电力设计合并为一个精密单元,可快速测量自然和人造晶体(蓝宝石、压电晶体、光学晶体、半导体晶体)的表面,如果与 切割机也可用于晶体定向切割。 现在,该仪器已成为制造晶体组件的必要设备。 它已被广泛应用于晶体材料的研发、制造企业,尤其适用于研究实验室、学校、公司。 特点: X 射线晶体定向仪器操作简单,不需要太专业的认可或技术,数字显示屏测量角度便于观察。 ...

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Liaodong Radioactive Instrument
几何特征测量系统
几何特征测量系统
PREXISION

... 普雷西昂 PREXISION是一种测量传感器(X-Soft),X射线低发射,是最流行和有效的薄膜和片材控制方法之一。 主要特点 高保护容器,坚固而紧凑,适用于任何类型的工业应用,甚至在危险环境中。 使用低发射的辐射 高精度标准,可靠且使用简单。 配备微处理器:测量处理和转换,在通过 "Profibus "进行数据传输时提供支持。 类别。传感器。 标签:Biax挤压, 吹膜, 流延膜, 非织造布, ...

X射线测量系统
X射线测量系统
Xstress Robot

Xstress 機器人通過x光衍射對大小複雜的零件進行應力測量簡單靈活。 • 無損的 • 精確的6軸工業機器人(可選額外的軸) • 複雜零件(如渦輪葉片)的自動繪圖是可能的 • 易於更換x光管(鉻、銅、鈷、鐵、釩、鈦、錳),可測量不同的材料 • 三個標準測量距離: 50、75和100毫米 • 兩個NMOS位置敏感探測器 • 暫態可調2θ角 • 運行測量和計算殘餘應力和殘餘奧氏體含量的XTronic軟體(可選) • ...

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