几何特征测量系统 PREXISION

X 射线用于薄膜用于控制

普雷西昂 PREXISION是一种测量传感器（X-Soft），X射线低发射，是最流行和有效的薄膜和片材控制方法之一。 主要特点 高保护容器，坚固而紧凑，适用于任何类型的工业应用，甚至在危险环境中。 使用低发射的辐射 高精度标准，可靠且使用简单。 配备微处理器：测量处理和转换，在通过 "Profibus "进行数据传输时提供支持。 类别。传感器。 标签:Biax挤压, 吹膜, 流延膜, 非织造布, 片材和薄膜。 描述 PREXISION系列测量传感器可以在没有拘留和使用辐射源的标准授权的情况下使用。辐射发生器的特性和它的电子检查允许人工发射的能量调制和测量优化的许多功能。容器的结构、发生器的质量、辐射屏蔽和几何形状以及所有其他细节，都经过了极其仔细的研究，以确保操作时的最高安全水平。该传感器可以根据应用所需的具体需求进行个性化定制。 - 边缘检测器 - 通过材料通道和测量点对间隙进行修改 - 用于空气补偿的温度探头 PREXISION传感器装配在以下筛分设备的板上，在电子系统产品系列中包含的参考辊之间有自己的参考辊。 - SLIM DUPLEX - HISCAN - twin™扫描