涂层厚度测量系统

重量X 射线自动

用于锂离子电池生产的 X 射线基重测量法 X 射线基重测量装置是一种高精度、非接触式在线测量系统，用于电极生产过程中的连续质量监控。它能可靠地测量涂覆电极材料的表面密度（面积重量），从而实现对涂覆质量的实时无缝控制。 X 射线技术特别用于检查阴极涂层。它可确保涂层材料的均匀分布，并对工艺的稳定性和电池的性能做出重要贡献。对于阳极涂层，我们还提供另一种基于 beta 的系统，可精确满足特定材料的要求。 由于采用了专利的 Reechi 技术，该系统可专门识别边缘减薄区域和薄点，而传统方法往往无法检测到这些区域和薄点。该系统可提供有关工艺能力的宝贵数据，并支持涂层工艺的稳定控制，这对现代锂离子电池的性能和使用寿命至关重要。 该系统专为满足电池制造商的要求而设计，可无缝集成到现有生产线中。 产品亮点 - 正极涂层的再现性为 ± 0.03 g/m² - X 射线还可同时测量边缘减薄区的厚度 客户受益 - 通过早期缺陷检测减少浪费 - 通过优化工艺提高效率 - 持续改进产品 - 产品质量高，投诉更少