光学测量系统 C12562-04
厚度通用量规用于薄膜

光学测量系统
光学测量系统
添加到我的收藏夹
添加到产品对比表
 

产品规格型号

物理量
厚度
所用技术
光学, 通用量规
所测量的产品
用于薄膜
其他特性
非接触型, 紧凑型, 高速

产品介绍

Optical NanoGauge 膜厚测量系统 C12562 是一款紧凑、节省空间的非接触式薄膜膜厚测量系统,可根据需要轻松安装在设备中。在半导体行业,因为硅穿孔技术的流行,硅厚度的测量至关重要;在薄膜生产行业,粘合层薄膜越来越薄,以满足产品规格。因此,这些行业现在需要更高的厚度测量精度,测量范围从 1 μm 到 300 μm。C12562 允许在 500 nm 至 300 μm 的宽厚度范围内进行精确测量,包括薄膜涂层和薄膜基板厚度以及总厚度。C12562 还提供高达 100 Hz 的快速测量,是高速生产线测量的理想选择。 特点 • 可测量从薄膜厚度到总厚度的整个范围 • 缩短周期时间(最高 100 Hz) • 增强型外部触发器(适用于高速测量) • 软件中添加了简化的测量 • 能够同时进行表面分析 • 精确测量起伏不定的薄膜 • 分析光学常数(n、k) • 提供外部控制 详细参数 • 型号 : C12562-04 • 可测量的薄膜厚度范围(玻璃) : 500 nm 至 300 μm*1 • 测量重现性(玻璃) : 0.02 nm*2 *3 • 测量精度(玻璃) : ±0.4%*3 *4 • 光源 : 卤素光源 • 光斑尺寸 : 约 φ1 mm*3 • 工作距离 : 10 mm*3 • 可测量层数 : 最多 10 层 • 分析 : FFT 分析、拟合分析、光学常数分析 • 测量时间 : 3 ms/point*5 • 光纤连接器形状 : FC • 外部控制功能 : RS-232C,以太网 • 电源 : AC100 V 至 AC240 V,50 Hz/60 Hz • 功耗 : 约 80 VA

PDF产品目录

展厅

该卖家将出席以下展会

ACHEMA 2024
ACHEMA 2024

10-14 6月 2024 Frankfurt am Main (德国) 展会 11.1 - 展台 F62

  • 更多信息
    * 显示价格为参考价,此价格不含税、不含运费、不含关税,也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。