半导体测量系统

... VX1100 适用于机械、电子、模具、注塑成型、五金、橡胶、低压电器、磁性材料、精密冲压、连接器、接插件、端子、手机、家电、印刷电路板、医疗设备、手表、切削工具等领域的精密尺寸测量。 ...

... 显微测量机 MX3200 将显微成像与传统视频测量相结合，实现了微小特征的大范围测量。它配备了电动转塔，可通过切换不同镜头测量各种微观二维尺寸，包括点、线、圆和几何公差等。 ...

... 霍尔效应测量系统用于测量什么？ 霍尔效应测量系统用于测量霍尔元件的散装载流子浓度、片状载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数、磁阻等。 霍尔效应测量系统的工作原理： 霍尔效应是指在导体上产生的电位差（霍尔电压），该电位差与导体中的电流和垂直于电流的外加磁场成反比。霍尔效应由埃德温-霍尔于 1879 年发现。 霍尔效应的本质：当固体材料中的载流子在外加磁场中运动时，由于洛伦兹力的作用，运动轨迹发生偏移，材料两侧发生电荷积累，形成垂直于电流方向的电场；最后，载流子的洛伦兹力与电场斥力相平衡，从而在两侧形成稳定的电位差，即霍尔电压。 霍尔效应测量系统的可测试材料： 半导体材料：SiGe、SiC、InAs、InGaAs、InP、AlGaAs、HgCdTe ...

... DX-70 霍尔测量系统用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率和霍尔系数等重要参数。要了解半导体材料的电气特性，必须事先控制这些参数。因此，霍尔效应测试系统是了解和研究半导体器件和半导体材料电气特性的重要工具。 DX-70 霍尔效应测量系统由电磁铁、电磁铁电源、高精度恒流源、高精度电压表、矩阵卡、霍尔效应样品支架、标准样品和系统软件组成。 该 HMS 系统测试采用最新的 KEITHLEY 进口测试源表，结合配套的低延迟、高带宽矩阵卡，大大提高了样品电源电流和测试样品霍尔电压的量程和精度。宽电流电源和宽电压测试范围可覆盖市场上绝大多数半导体器件。 实验结果由软件自动计算，可同时获得块状载流子浓度、片状载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数和磁阻等参数。 ...

... DX-50 霍尔效应测量系统是了解和研究半导体器件和半导体材料电气特性的必要工具。 霍尔测量系统由电磁铁、电磁铁电源、高精度恒流源、高精度电压表、霍尔效应样品支架、标准样品和系统软件组成。 霍尔效应系统用于测量载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等重要参数。这些参数对于了解半导体材料的电气特性十分必要。 ...

... 它主要用于测量液体与固体的接触角，即液体与固体的润湿性。它还可以测量作为外相的液体的接触角。该仪器可以测量各种液体对各种材料的接触角。在手机制造、玻璃制造、表面处理、材料研究、化学工程、半导体制造、涂料油墨、电子电路、纺织纤维、医学生物等领域，接触角测量已成为评估表面性质的重要仪器。 ...