晶圆用测量系统 SUMMIT200
用于半导体用于定标全自动

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产品规格型号

所测量的产品
晶圆用, 用于半导体
应用
用于定标
其他特性
全自动, 显微镜

产品介绍

新的Cascade SUMMIT200先进的200mm探针系统,对于收集单片或批量晶圆上的高精度测量数据至关重要;尽可能快。 SUMMIT200探针站设计用于研发、设备表征/建模或利基生产应用,可对超低噪声、直流、射频、毫米波和太赫兹应用进行精确的温度电气测量,具有半自动和现在的全自动操作,可在最快时间内获得准确数据。 新一代探针系统支持PureLine™技术,以实现市场上最低的噪音水平之一。获得专利的AttoGuard®和MicroChamber®技术大大改善了低泄漏和低电容测量。一个新的先进的200毫米快速平台,处理多达50个晶圆的盒,高产量的测试功能,以及-60°C至300°C的宽温度范围,为科学家、研发和测试工程师或生产操作员提供了快速完成工作所需的一切。 SUMMIT200探针台支持Contact Intelligence™ - 一种独特的技术,可实现自主的半导体测试。创新的系统设计和最先进的图像处理的强大组合,提供了一个独立于操作者的解决方案,在任何时间和温度下实现高度可靠的测量数据。 SUMMIT200具有广泛的应用,并有升级路径以满足未来的任何需求,它提供了最先进的200毫米探针台平台,可对现有和未来的器件和IC进行快速、高精度和大批量的测量。

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* 显示价格为参考价,此价格不含税、不含运费、不含关税,也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。