霍尔效应测量系统 DX-70

同心度电阻率用于半导体

DX-70 霍尔测量系统用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率和霍尔系数等重要参数。要了解半导体材料的电气特性，必须事先控制这些参数。因此，霍尔效应测试系统是了解和研究半导体器件和半导体材料电气特性的重要工具。 DX-70 霍尔效应测量系统由电磁铁、电磁铁电源、高精度恒流源、高精度电压表、矩阵卡、霍尔效应样品支架、标准样品和系统软件组成。 该 HMS 系统测试采用最新的 KEITHLEY 进口测试源表，结合配套的低延迟、高带宽矩阵卡，大大提高了样品电源电流和测试样品霍尔电压的量程和精度。宽电流电源和宽电压测试范围可覆盖市场上绝大多数半导体器件。 实验结果由软件自动计算，可同时获得块状载流子浓度、片状载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数和磁阻等参数。