霍尔效应测量系统 DX-1000H

同心度电阻率用于半导体

DX-1000H 高温霍尔测量装置由电磁铁、真空泵、高温真空室、高斯计、恒流源、电磁铁电流源、温度控制器、计算机和软件组成。 DX-1000H 高温霍尔测量装置的工作原理 - 电磁电流源为电磁铁提供电流以产生磁场； - 高斯计测量电磁铁产生的均匀磁场值； - 恒流源一方面为样品提供霍尔效应测试电流，另一方面用于测量样品反馈的霍尔电压； - 将待测试样品置于高温真空室中，用高温胶固定，作为四个测试点； - 从高温真空室引出 4 根导线，其中两根连接到温度控制器，用于温度测量和控制，另一根是高温探头的引线，连接到高斯计，另一根是霍尔样品连接线，连接到恒流源； - 计算机连接高斯计、温度控制器、恒流源和电磁铁电流源，软件控制通过被测样品的电流值和磁场值，并获得测量的电压值。 霍尔测量装置的可测试材料： - 半导体材料：SiGe、SiC、InAs、InGaAs、InP、AlGaAs、HgCdTe 和铁氧体材料等；