霍尔效应测量系统 DX-60

同心度电阻率用于半导体

DX-60 霍尔效应测量仪由电磁铁、电磁铁电源、高精度恒流源、高精度电压表、霍尔效应样品架、标准样品和系统软件组成。 DX-60 霍尔器件测量仪可测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率和霍尔系数等重要参数。要了解半导体材料的电气特性，必须事先控制这些参数。因此，霍尔效应测试系统是了解和研究半导体器件和半导体材料电特性所必需的工具。 通过该软件，可以自动计算体载流子浓度、表面载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数、磁阻等实验结果。