霍尔效应测量系统 DX-1000L

同心度电阻率用于半导体

DX-1000L 低温霍尔效应测试系统由电磁铁、电磁铁电源、高精度恒流源和高精度电压表、霍尔效应样品支架、标准样品、高低温杜瓦、温度控制器和系统软件组成。 DX-1000L 低温霍尔效应测试系统用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率和霍尔系数等重要参数。要了解半导体材料的电气特性，必须事先控制这些参数。因此，霍尔效应测试系统是了解和研究半导体器件以及半导体材料电气特性的重要工具。 实验结果由软件自动计算，可同时获得块状载流子浓度、片状载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数和磁阻等参数。