箔片测量系统

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厚度测量系统
厚度测量系统
0 - 2mm(6mm,12mm) | 0.1 µm | CHY-CB

... 应用 — 薄膜和箔片测试、纸张和纸板测试、纺织和非织布测试、金属板测试、食品包装 测试性能 — 厚度 测试方法 — 表型接触方法 标准 — ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、ASTM 产品 特点 — 自动提升压脚 — 实时显示测试结果 — 最大值、最小值和平均值 — 自动统计和打印功能 — 带液晶的微型计算机控制 — RS 232 规格 -测试范围 0 〜 2 毫米(标准),0 〜 6 毫米,12 ...

厚度测量系统
厚度测量系统
C640

... C640测厚仪是一款高精度机械接触法测厚仪,可用于薄膜、薄板、纸张、瓦楞纸板、纺织品、无纺布、固体保温材料等的测厚。可选装自动取样器,是为多点连续测厚而设计的。 专业人员 Labthink兰光C640测厚仪经过创新研发,采用高精度位移传感器,辅以科学的结构和专业的控制技术,使C640在稳定性、重复性注1和准确性上有了很大的提高。 - 仪器符合机械接触法的标准。压脚可自动升降,最大限度地减少人为操作造成的误差。 - 可根据需要设定接触时间和测试速度。可定制多种接触面积和压力,满足各种试验条件的要求。 - ...

坐标测量机
坐标测量机
FlatScope®

作为测量仪器,该扫描仪是当今世界上测量二维工件最精确的二维扫描仪(专利申请中) 设计带有远心光学镜头的高质量矩阵扫描仪;全封闭式设计用于车间环境下的测量。 传感器系统Werth图像处理视频传感器 量程X=400-650毫米; Y=200-600毫米 最大允许长度测量误差2,5 µm 应用领域取代传统轮廓投影仪,对于车间环境下扁平样本可以快速,准确和可靠地控制。测量型材(如橡胶,塑料,铝合金型材),以及薄箔片,印刷电路板(PCB),激光切割的冲压件和精细冲压件等。

视频测量系统
视频测量系统
NEXIV VMZ-R3020

... 可对每个试样的放大倍率、自动对焦和照明条件进行精细调整。 VMZ-R3020 提供 300 x 200 mm 的冲程,适用于小型部件,如机械部件、模制部件和高密度 PCBs 的测量。 主要优点 六种光学变焦头 检测 0.1 mm 透明层 8 段环照明具有三个入射角 高测量精度 更快的吞吐量 15 倍高速变焦 应用 表面分析, 表面检查 塑料制造, 金属制造 裂纹和失效分析 SiSI 微电子、光电 电信、电子、天线、望远镜光学元件 ...

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角向测量系统
角向测量系统
NEXIV VMR-H3030

... NEXIV VMZ-H3030 能够以 NEXIV 系列的最高精度进行测量,以及先进的可用性和性能。 主要优势 5 种类型的光学变焦系统 8 段环照明器有三个入射角度, 易于使用,简化的软件 最高测量精度 先进的可用性和性能。 ...

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视频测量系统
视频测量系统
NEXIV VMZ-K3040

... 它结合了共聚焦技术,具有 15 倍变焦的亮场和 TTL 激光对焦。 无论您需要什么几何测量 — — 二维或三维 — — 通过这个系统,检测和评估都非常快速和准确! 共聚焦 NEXIV 可以最佳地用于高级 IC 封装(如晶圆级 CSP)的各种凸点高度的测量,以及检测 MEMS 和探头卡高度复杂的结构。 主要优点 与尼康专有的共焦光学器件同时进行广域高度 测量,具有 15 倍亮场变焦光学元件, 与半导体厂家的 300 mm 晶圆测量完全兼容。 通用型号适用于各种需求 IC ...

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视频测量系统
视频测量系统
NEXIV VMZ-R6555

... 可对每个试样的放大倍率、自动对焦和照明条件进行精细调整。 VMZ-R6555 提供 650 x 550 毫米冲程,适用于大型部件和舞台上多个部件的 “步进重复” 测量。 主要优点 六种光学变焦头 检测 0.1 mm 透明层 8 段环照明具有三个入射角 高测量精度 更快的吞吐量 15 倍高速变焦 应用 表面分析, 表面检查 塑料制造, 金属制造 裂纹和失效分析 SiSI 微电子、光电 电信、电子、天线、望远镜光学元件 ...

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厚度测量系统
厚度测量系统
NEXIV VMZ-K6555

... 尼康共聚焦 NEXIV VMZ-K6555 是在尼康领先的光机电一体化(光学、机械和电子学)技术的强大基础上开发的。 它集成了各种共聚焦光学元件,可快速准确地评估三维表面计量、图像处理技术和 TT L 激光自动对焦。 它允许在同一视场中进行 2D 和高度测量。 共聚焦 NEXIV VMZ-K6555 用于检测和测量高级半导体器件、探针卡、电路板上的基板图案、MEMS 和其他各种要求苛刻的应用中高度复杂结构的关键尺寸。 主要优点 与尼康专有的共焦光学器件同时进行广域高度 测量,具有 ...

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厚度测量系统
厚度测量系统
Essair™ Duplex

... Essair™ Duplex ESSAIR™ DUPLEX是电子系统公司的专利测量技术,是无接触直接测量厚度的理想选择。 主要特点 它不使用任何类型的放射源。 以微米或毫米为单位的直接厚度测量。 不与材料接触。 自动校准系统。 类别。传感器。 标签。复合材料,PVC压延,橡胶,板和箔。 描述 ESSAIR™ DUPLEX安装在标准的扫描仪上,以传输模式进行测量,特别适用于刚性材料或具有很高缠绕张力的材料。 缠绕张力测量。 该传感器可以根据应用所需的具体需求进行个性化定制。 - ...

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Electronic SYSTEMS
厚度测量系统
厚度测量系统
Digilayer TRX

... I.R. / Digilayer TRX DIGILAYER系列的红外测量传感器可以在线、无接触地测量多层薄膜内的阻隔层的厚度。 主要特点 是同时测量层压和/或多层材料中多个阻隔层的理想选择。 设计用于安装在可能有灰尘、烟雾等的工业环境中。 类别。传感器。 标签:Biax挤压, 吹膜, 流延膜, 片材和薄膜。 描述 红外线辐射是用来确定通常用作屏障的材料厚度的测量方法,例如EVOH和PA。测量模块由一个发射器和一个接收器组成,安装在一个标准的扫描仪上,以传输模式进行测量,单独或与其他设备相匹配,例如ß或X传感器,以便在测量总重量/厚度的同时,对阻隔层进行横向读取。传感器的管理和测量系统操作台上的轮廓显示完全与总体测量的显示相结合。该传感器可以根据应用的具体需要进行个性化定制。 - ...

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Electronic SYSTEMS
湿度测量系统
湿度测量系统
Microwaves

... 微波 MICROWAVES是适合测量各种不同成分材料中水含量的在线传感器。 在这一范围内,它通过水在电磁波谱的S波段中的特征相互作用而获利。 主要特点 该传感器由两个不同的部分组成,以一定的距离相对放置,待测的材料箔通过这两个部分。 这两个部分对用于测量的微波信号起着谐振腔的作用。 该传感器适用于测量所有非金属箔的水含量。 类别。传感器。 描述 有三种不同的型号可供选择,以涵盖广泛的应用。 - MICROWAVES低湿度范围 -MICROWAVES H ...

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厚度测量系统
厚度测量系统
SWAN S.A.

... Swan S.A. SWAN S.A.是一个为直接测量厚度而设计的反射系统。 该系统由以下元素组成。 - 带有轴承结构的单光束扫描仪 - 参考辊 - SWAN气吹式测量传感器 该系统有以下部分。 主要特点 自动参考辊跟踪系统。 极其耐用和机械稳定的传感器移位系统。 防止与被测材料的意外接触。 结构简单、紧凑、抗震性强 抗冲击性。 适用于最大宽度为3000mm的工业应用 机器宽度为3000毫米。 类别。扫描器。 标签:涂料和层压,PVC压延,橡胶,板材和金属箔。 描述 轴承结构配备了一个固定在两个支架上的钢管梁。支架可以以最适合安装的配置安装在机器结构上,而不需要对结构进行任何改动。 主梁具有特殊的滑动导轨和联轴器,测量元件安装在其中,而测量元件又配备有传感器支架,垂直于基准辊。 ...

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