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表面重量测量系统
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... Beta 传感器 Gravimat FMI/DFI 测量基重(每单位面积的质量)/厚度/密度 β传感器通过同位素射线来测量克重和材料厚度 该传感器可用于Qualiscan QMS-12卷材测量系统。 β射线的传输 重量监测和控制系统可连续测量重量,无需接触、无损和移动产品。该测量是基于放射性同位素的射线通过位于测量间隙的基体的衰减。这种强度的衰减是产品重量的一种指示。 Gravimat使用一个目标重量来减少不同平方米的重量范围,从而确保产品更加一致。 客户受益 非破坏性地连续测定产品卷材的单位面积重量 高度稳定和准确的测量,同时对校准的需求也很低 DFI允许更宽的测量间隙,避免了对软质卷材或湿涂层的损害 产品亮点 带有超快微处理器的智能传感器用于预处理测量 由于使用了极其有效的β辐射探测器,因此测量精确 四个温度补偿传感器以及气压补偿 ...
... 高精度重量测量系统BOARDSCALE HF,通过高分辨率并涵盖整个物料宽度,对压机和切割机后的成品材料(面板)的单位面积重量分布进行测量。通过这种方法,可以检测到单位面积重量分布的微小偏差。 优势概览 完全非接触式测量 检测和优化材料使用 高分辨率和净重测量确保高精度和高灵活性 可选分辨率下的整个面板的重量测量和网格评估 生产过程中重量波动可以立即被检测到并即时校正 配重不足的面板或配板部分确保高效检测出 可实现最佳标称值调整 安装空间小 通过快速校准实现测量可靠性 通过 ...
Fagus-GreCon/格雷康
... 连续电路板秤 GreCon BOARDSCALE T 可自动监控材料分布和面板重量。 连续板秤 BOARDSCALE T 非常适合生产速度非常高和空间有限条件下的生产线。 与通常使用称重表的电路板秤相反,BOARDSCALE T 显示测量面板内的重量分布在整个生产过程中。 连续板秤 BOARDSCALE T 可用于无限生产或单个面板的测量。 使用 Grecon 测厚仪的可选链接,也可以计算平均原始密度及其在面板内的分布,以优化工艺。 优势一览 * 防止制造故障板重量 * 保证产品质量和材料消耗优化 * ...
Fagus-GreCon/格雷康
... GreCon CHIPINSPECTOR可以自动分离各种异物,从而提高产品质量、优化材料分布、降低生产成本。迄今为止,市面上可用的测量系统还无法实现光谱范围外的异物检测。 使用双能X射线方法可靠地检测异物 通过振动输送机实现物料的均匀分布 通过精密闸门转移异物,最大程度地减少材料浪费 优势概览 提升产品质量 出色的面板质量,提高客户满意度 减少投诉 优化材料分布,降低材料消耗 降低废品率 高达55吨/小时的高物料负荷 降低生产成本 由于下游设施的压力减少,维护工作量减少 磨浆机磨盘寿命更长 测量方法 双能X射线方法能将材料中99%的异物检测到,并在它们到达下游生产之前进行移除。不同材料对X射线的接收程度不同,目前已经可以使用这项技术对单位面积重量相同的材料,如木材和橡胶,进行可靠的区分。 物料流是否有异物进入都可以使用此项技术进行识别,不受原料表面结构或含水率影响。即使是 ...
Fagus-GreCon/格雷康
... 采用高分辨率的全表面扫描系统,进行单位面积重量测量和异物检测 扫描、分析、保护 原材料的均匀分布以及后续成型是很多行业的标准生产步骤,比如人造板行业和矿物棉行业。 生产过程中需要对物料流进行精确控制,以确保其均匀分布。测量数据有着关键性作用,不仅决定了最终产品的质量,还决定了潜在的成本,如客户投诉、系统损坏或材料浪费。 单位面积重量检测系统 GreCon MATCONTROL HF 可对过程中的分布不均匀和偏差进行最佳检测。与竞争对手相比,板坯扫描仪是第一个全表面测量系统,不仅可以确定被测材料整个表面的材料分布,还具有极高的分辨率。 本测量系统还有另一个优势:MATCONTROL ...
Fagus-GreCon/格雷康
... Hammer-IMS 的 CURTAIN O 型框架是一种坚固耐用的高精度测量解决方案,专为宽生产线而设计,其特点是将耐用的金属框架安装在精确的线性驱动机械装置上。CURTAIN O 型框架可抵御恶劣的工业环境,确保以卓越的稳定性进行一致、精确的测量。这种行走框架采用无核、无放射性的 M-Ray 技术,可进行快速轮廓测量,材料覆盖率接近 100%。CURTAIN O 型框架的测量宽度超过 5 米,即使是最宽的生产线也能适应,因此非常适合高间距、高速测量,具有无与伦比的准确性和可靠性。 ...
Hammer-IMS
... Hammer-IMS 的 CURTAIN C 型框架是一种先进、灵活的测量系统,采用经典的 C 型框架设计,外形流线型,节省空间。它的臂长可达 1.5 米,可以轻松集成到任何材料宽度的生产线中,而不会影响操作。该系统不仅支持 M-Ray 技术,还可单独或组合配备 U-Ray 和 L-Ray 传感器,以创建强大的多头配置。这些无核、无放射性的传感器可确保安全、高精度、高距离的测量,其速度和精度令人印象深刻。CURTAIN C 型框架非常适合适应性强、可扩展的测量要求,是现代化高效生产线的理想选择。 ...
Hammer-IMS