表面重量测量机 MARVELOC CURTAIN O-frame

厚度毫米波用于控制

交钥匙 CURTAIN 设备集成了工业用 M-Ray 测量技术。作为工业生产线的一部分，这些机器可全天候进行测量。每个 CURTAIN O 型架和 C 型架都包含一个或多个基于 M-Ray 的测量头。这些传感器头可测量各种平面半成品的基重、厚度或异常。由于 M-Ray 技术的特性，测量间距可高达 30 厘米。高间距有利于测量厚材料，并避免材料上的划痕和缺陷。 除了基于 M-Ray 技术的 Marveloc 传感器头，Hammer-IMS 还可以将其他类型的传感器（参见传感器融合页面）集成到移动或固定的 CURTAIN 系统中。 Hammer-IMS 为 Marveloc-CURTAIN 在线系统的 O 型框架开发了一种新的机械设计。由于采用了新的超薄设计，这种 O 型框架在机器方向上的宽度仅为 300 毫米，因此几乎可以安装在任何生产线上。尽管框架现在更细了，但设计的更新也大大增强了框架的刚性，从而进一步提高了测量精度。 视频中的框架配备了 4 个 M-Ray 传感器头，但 Marveloc-CURTAIN 在线系统可根据您的需求配备一系列测量技术和任意数量的传感器头。 CURTAIN O 型框架 - 适用于宽幅生产线的坚固系统 右图所示的 CURTAIN O 型框架机器由一个坚固的金属框架组成。框架安装在精确的线性驱动机械装置上，具有极高的测量可靠性和坚固性。