光学轮廓测量仪

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光学轮廓测量仪
光学轮廓测量仪
Opticline CA series

业纳专为自动化应用环境设计了 Opticline CA、AMV 和 WMS 系列光学测量系统。通过智能硬件和软件接口,可以将这些系统灵活无缝地集成到您的自动化生产过程中。我们的系统提供高精密且可靠的测量结果– 即使在恶劣的生产环境下长期操作后,也可以做到这一点。 轴测量系统的测量周期只有几秒,令人印象深刻。这意味着您可以高效检测生产,并减少浪费。这些系统采用多种设计,因此可以水平或垂直装载。我们还针对特别大型和重型的轴提供了特殊的测量系统。如有必要,我们可以针对您的具体需求量身定制我们的系统。 我们的测量和评估软件具有全面的功能,并且提供了用于控制校正值的额外选项,还可以轻松集成在制造过程中。该程序易于理解且易于操作。 优点 • ...

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OPTICLINE AMV SERIES

AMV 系列的光学测量系统专为生产中的自动化级联而设计。这些系统非常坚固耐用且易于维护,可在形状和尺寸测量中以重复精度提供精密的测量结果。根据您的要求,这些轴测量系统可以水平或垂直布置,例如为了测量大型工件,如曲轴。这些系统可以轻松而灵活地集成到自动化生产过程中。 可使用 AMV 系列进行测试的工件最大长度为 900 毫米,且直径可达 230 毫米。测量速度非常快 – 即使工件几何形状复杂也一样。 优点 • 精密、快速:高测量精度;操作员对结果没有影响。该测量系统可以集成到加工过程中。 • ...

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光学轮廓测量仪
Opticline WMS series

Opticline WMS 系列专为特别大型和重型的工件而设计。这些系统可以处理最高 250千克的重量和最长 480毫米的直径,具体因型号而异。最大长度可达 2,500毫米。这些系统是市场上唯一可以处理这些尺寸的机器,可以分析特别大型和重型的工件,例如曲轴和齿轮轴。 这些轴测量系统可以用作 SPC 测量站;如有必要,可以通过智能硬件和软件接口集成到自动化生产运行中。这些系统采用多种设计,因此可以水平或垂直装载。这些系统非常坚固耐用,非常适合在恶劣的生产环境中进行持续的精密测量。 WMS ...

光学轮廓测量仪
光学轮廓测量仪
LJ-V7000 series

超高速轮廓测量仪 LJ-V7000 系列 业界超快速度64000个轮廓/秒,可以同时测量不同反光强度的材质,高速度,高精度,高稳定性。

光学轮廓测量仪
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TopMap Pro.Surf

形态参数和表面地形的三维和区域评价 TopMap Pro.Surf可快速确定大面积的形状偏差和表面形貌,并且具有极高的精度。TopMap Pro.Surf是一个高端光学表面轮廓仪系统,非常适合精密机械制造业的质量控制,无论是在线、在生产线上还是接近生产。TopMap Pro.Surf为所有表面表征任务提供定制的解决方案,只要评估表面参数,如平面度、台阶高度和平行度是基本的。其高空间分辨率和远心光学概念以及出色的测量速度使其成为生产层面上最可靠的非接触式传感器解决方案。 测量形状公差,如平面度、波浪度、台阶高度等。 Polytec白光干涉仪实现了区域性的三维测量,在一次拍摄中收集所有的表面细节。在44 ...

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光学轮廓测量仪
TopMap Micro.View+

新一代光学表面轮廓仪 TopMap Micro.View+ 是新一代光学表面轮廓仪。 该模块化工作站专为模块化设计,可进行定制和特定于应用的配置。 MICRO.VIEW +提供了最详细的表面粗糙度,纹理和微观结构形貌分析。 结合3D数据和颜色信息结合起来,实现惊人的可视化和扩展分析,如缺陷的详细文档。 高分辨率500万像素相机提供了令人难以置信的工程表面3D数据可视化。 启用自动化且可投入生产线 编码和电动转塔确保了物镜之间的无缝过渡。 Micro.View+ ...

3D轮廓测量仪
3D轮廓测量仪
TopMap Pro.Surf+

表面细节、形状参数和粗糙度的综合光学三维测量 TopMap Pro.Surf+为所有表面表征要求提供定制解决方案,评估形状参数,如平面度、台阶高度、平行度和表面粗糙度。其空间分辨率和远心光学系统可到达深层区域,加上无与伦比的测量速度,显示了这种生产计量工具的高性能。 TopMap Pro.Surf+ 使用诸如平面度、台阶高度、平行度和粗糙度等参数为所有表面特性要求提供定制解决方案。总之,空间分辨率、远心镜头和速度确实令人印象深刻。 白光干涉仪与色彩共焦技术的组合意味着不会忽略任何细节。几秒钟内就可完成 ...

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Nexview™ NX2

Nexview™ NX2 三维光学轮廓仪专为最苛刻的应用而设计,集卓越的精度、先进的算法、应用灵活性和自动化于一身,是 ZYGO 最先进的相干扫描干涉测量(CSI)轮廓仪。 这种完全非接触式技术可在所有放大倍率下提供亚纳米级的精度,并且能够比其他商用同类技术更快、更精确地测量更多的表面类型,优化了投资回报率。Nexview NX2 应用范围广泛,可以测量几乎任何表面和材料的平整度、粗糙度和波纹、薄膜、台阶高度等,是一款名副其实的轮廓仪。 作为最新一代的旗舰产品,Nexview™ ...

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Zygo
光学轮廓测量仪
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ZeGage™ Pro

... 生产就绪的三维光学轮廓仪系统 ZeGage Pro HR 三维光学轮廓仪 ZeGage™ Pro和ZeGage™ Pro HR三维光学轮廓仪为许多类型的表面的微观和纳米尺度的特征提供非接触式的测量和表征,确保在您的制造环境中进行质量控制和过程监控。 我们行业领先的ZeGage Pro系列为台式工业非接触式表面测量仪的性能、易用性、灵活性和精度设定了标准。基于ZYGO专有的CSI技术,ZeGage Pro提供创新技术,以实现精确、可靠、简单和自信的表面计量。 独家功能包括SureScan™技术,用于振动稳健的计量,Part ...

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NewView™ 9000

NewView™ 9000 三维光学表面轮廓仪在非接触式光学表面轮廓测量方面提供了强大的多功能性。该系统可以方便快捷地测量各种表面类型,包括光滑、粗糙、平坦、倾斜和台阶式表面。所有的测量都是无损、快速的,并且不需要准备样品。 该系统的核心是 ZYGO 的相干扫描干涉测量技术(CSI),它在所有放大倍率下都能提供亚纳米级的精度,并且能够比其他商用技术更快、更精确地测量更多的表面类型,可优化您的投资回报率。 高性能、高性价比和多功能性 灵活性是 ZYGO ...

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光学轮廓测量仪
SuperView W1-Pro

  SuperView W1-Pro光学3D表面轮廓仪是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器。它是以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像,通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析,并获取反映器件表面质量的2D、3D参数,从而实现器件表面形貌3D测量的光学检测仪器。 SuperView W1-Pro光学3D表面轮廓仪可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、国防军工、科研院所等领域中。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面,从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等,提供依据ISO/ASME/EUR/GBT四大国内外标准共计300余种2D、3D参数作为评价标准。 二、产品功能 1.系统光源及寿命:双LED光源(白光和绿光),10万小时超长寿命,终身无需更换; 2.测量模式:垂直扫描干涉模式(VSI),相移干涉模式(PSI),结合VSI和PSI的自适应通用测量模式(USI) 3.多区域自动分析:自动获取图案化形貌区域的三维信息(高度、宽度、面积、体积、粗糙度、倾角等),同时具有自动统计分析功能。 4.一体化操作的测量与分析软件,操作无须进行切换界面,预先设置好配置参数再进行测量,软件自动统计测量数据并提供数据报表导出功能,即可快速实现批量测量功能。 5.测量中提供自动多区域测量功能、批量测量、自动聚焦、自动调亮度等自动化功能。 6.测量中提供拼接测量功能。 7.分析中提供调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能,其中调整位置包括图像校平、镜像等功能;纠正包括空间滤波、修描、尖峰去噪等功能;滤波包括去除外形、标准滤波、过滤频谱等功能;提取包括提取区域和提取剖面等功能。 8.分析中提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能,其中粗糙度分析包括依据国际标准的ISO4287的线粗糙度、ISO25178面粗糙度、ISO12781平整度等全参数分析功能;几何轮廓分析包括台阶高、距离、角度、曲率等特征测量和直线度、圆度形位公差评定等功能;结构分析包括孔洞体积和波谷深度等;频率分析包括纹理方向和频谱分析等功能;功能分析包括SK参数和体积参数等功能。 9.分析中同时提供一键分析和多文件分析等辅助分析功能,设置分析模板,结合测量中提供的自动测量和批量测量功能,可实现对小尺寸精密器件的批量测量并直接获取分析数据的功能。 三、应用领域   对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。 恳请注意:因市场发展和产品开发的需要,本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改,恕不另行通知,不便之处敬请谅解。

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SuperView W3

  SuperView W3白光干涉仪是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器。它是以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像,通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析,并获取反映器件表面质量的2D、3D参数,从而实现器件表面形貌3D测量的光学检测仪器。 SuperView W3白光干涉仪可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、国防军工、科研院所等领域中。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面,从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等,提供依据ISO/ASME/EUR/GBT四大国内外标准共计300余种2D、3D参数作为评价标准。 ...

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SuperView W1

  SuperView W1光学3D表面轮廓仪是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器。它是以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像,通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析,并获取反映器件表面质量的2D、3D参数,从而实现器件表面形貌3D测量的光学检测仪器。  SuperView W1光学3D表面轮廓仪可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、国防军工、科研院所等领域中。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面,从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等,提供依据ISO/ASME/EUR/GBT四大国内外标准共计300余种2D、3D参数作为评价标准。 二、产品功能 1)系统光源及寿命:双LED光源(白光和绿光),10万小时超长寿命,终身无需更换; 2)测量模式:垂直扫描干涉模式(VSI),相移干涉模式(PSI),结合VSI和PSI的自适应通用测量模式(USI); 3)多区域自动分析:自动获取图案化形貌区域的三维信息(高度、宽度、面积、体积、粗糙度、倾角等),同时具有自动统计分析功能。 4)具备各种类型样品表面微观形貌的3D轮廓重建与测量功能; 5)具备表面粗糙度和微观轮廓的检测功能,粗糙度范围涵盖0.1nm到数十微米的级别; 6)具备校平、去除形状、去噪、滤波等数据处理功能; 7)具备粗糙度分析、轮廓分析、结构分析、功能分析等表面参数分析功能; 8)具备自动对焦、自动测量、自动多区域测量、自动拼接测量等自动化功能; 9)具备一键分析、多文件分析等快速、批量分析功能; 10)具备word、excel等数据报表导出功能。 三、应用领域   对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。 应用范例: 四、性能特色 1.高精度、高重复性 1)采用光学干涉技术、精密Z向扫描模块和优异的3D重建算法组成测量系统,保证测量精度高; 2)独特的隔振系统,能够有效隔离频率2Hz以上绝大部分振动,消除地面振动噪声和空气中声波振动噪声,保障仪器在大部分的生产车间环境中能稳定使用,获得极高的测量重复性。 2.一体化操作的测量分析软件 1)测量与分析同界面操作,无须切换,测量数据自动统计,实现了快速批量测量的功能; 2)可视化窗口,便于用户实时观察扫描过程; 3)几何分析、粗糙度分析、结构分析、频率分析、功能分析五大功能模块齐全; 4)一键分析、多文件分析,自由组合分析项保存为分析模板,批量样品一键分析,并提供数据分析与统计图表功能; 5)可测依据ISO/ASME/EUR/GBT等标准的多达300余种2D、3D参数。 3.精密操纵手柄   集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄,可快速完成载物台平移、Z向聚焦、找条纹等测量前工作。 ...

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Smart_Projector_Ruby

Smart_Projector_Ruby 用于微小零件检测的影像轮廓测量仪 “This Smart_Projector_Ruby 是测量手表零件等微小零件的完美解决方案” 高精度高重复性 Smart_Projector_Ruby 是一款全自动轮廓检测仪,结合高精度、客观性、高重复性、友好操作界面等特点于一体,由意大利智测公司技术团队倾力打造。 结构紧凑,功能强大 使用独一无二的小视野,结合可以移动的X/Y轴,使得该仪器适合超高精度检测要求的零件检测,如手表零件,小型电子零件、微小机械零件的快速检测。 测量精确 无论是图像对焦中心或零件从一端移动到另一端,该仪器确保测量非常稳定。采用高精度的双反射光源,和高精度的光学镜头相接合,取保测量精确无误。 工业等级,结构紧凑 Smart_Projector_Ruby ...

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Smart_Projector 224

Smart_Projector 224 快速工业级影像测量仪器 “智能轮廓检测仪可以自动、客观、可重复性的、简易、快速的进行零件尺寸测量” 操作简单,快速 意大利智测公司研制的智能轮廓检测仪是第一款用于实现零件全面的、自动的尺寸检测的仪器。可以便捷、快速的检测各类零件尺寸。 自动化,适于生产现场使用 是传统轮廓投影仪、卡尺等测量手段的革命性数字化换代产品,可以在几秒钟内检测大量数据,无须零件基准对齐、无须手动对焦,操作简单。该仪器内部没有运动部件,运行稳定。 测量准确 智能轮廓检测仪可以客观的、重复性的测量零件,简单的合格/不合格信号输出,操作员无法干涉测量结果,自动的输出多种报告格式,如Excel格式文件(csv,tsv,txt),打印格式文件(如pdf文件),或输出图像文件。 工业等级,结构紧凑 智能轮廓检测仪是一款高速、紧凑、稳定、易于操作、易于编程的仪器,适用于恶劣环境及检测任务繁重的工作环境。

光学轮廓测量仪
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IF-Profiler

... 如何测量粗糙度和表面光洁度 IF 轮廓仪是一种手持式 3D 粗糙度测量系统,用于高分辨率测量表面光洁度。 用户 仅用一个系统测量扁平和弯曲部件的粗糙度。 测量基于剖面(ISO 4287)和基于区域(ISO 25178)进行。 轻量级的 IF-Profiler 由三维测量传感器和坚固耐用的框架组成。 人体工程学设计结合了易用性和所要求的机械刚性。 IF-Profiler 可在高速测量条件下实现灵活的测量和应用。 各种位置和测量字段可追溯且直观地测量。 粗糙度测量系统还用于测量陡峭侧面和各种涂层的几何形状。 ...

光学轮廓测量仪
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Form Talysurf® PGI Freeform

PGI Freeform 用于表面粗糙度和形状测量的三维自由曲面光学轮廓测量仪 泰勒•霍普森 的 PGI Freeform(相位光栅干涉)是一款多功能、高分辨率的三维自由曲面轮廓测量仪,用于高精度的自由曲面光学测量。它可以对自由曲面光学器件进行表面粗糙度和形状分析。 灵活多样、高分辨率自由曲面测量系统 全新的PGI Freeform是一款灵活多样、高分辨率的光学测量系统,适用于高精密光学零件的自由曲面的测量。 能够为以下光学零件的提供栅格方向和径向的三维测量与分析: 球面 非球面 衍射面 自由曲面 PGI ...

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PGI Matrix

... PGI Matrix 是用于从小型手机镜头到大型天文光学的全自动 2D 和 3D 形式测量光学的全能仪器。 当测量速度和吞吐量是必备时,我们的生产力工具套件为批量测试提供了独特的优势。 集成的 PGI 量具技术加上先进的自动化软件和硬件,现在用户能够测量以前从未有过的自由光学。 ...

3D轮廓测量仪
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LuphoScan 260/420HD

... LuphoScan 260/420 HD 平台开启了光学表面高精度测量的新时代。 新一代器件首次提供优于 ± 50 nm (3σ) 至 90° 物体坡度的绝对测量精度。 同时具有超高的测量结果可重复性和低本底噪声。 该新型仪器是要求最高精度且对制造过程至关重要的应用的理想选择。 这对于坡度陡峭、音高方向不同以及小表面(如智能手机镜头的模具)的表面最为有利。 无@@ 与伦比的测量能力 HD = 高清晰度 快速、可靠的非接触式实际 3D 形状 测量最高精度-高达 ...

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S onix

在线 测量 解决方案 Sensofar拥有十四年的表面测量系统制造经验,线上3D光学测量头代表了最先进的制造工艺和测量技术。 简洁轻便、灵活的装配选择让它们适用于各种严苛的生产环境。无论是Smart还是Sonix在各种应用上都有着非常优秀的表现。 稳 定 坚 实 可 靠 生产环境有很多因素组成:不同的生产条件、震动环境、具有侵蚀性或破坏性的材料等等。很多情况下由于生产环境的影响,测量过程变的异常困难。Sensofar线上测量头有着非常好的密闭设计以保持测量组件的清洁。所有的光学组件都有着非常好的固定性并且在测量过程中不会产生任何位移,这使得测量头在严苛生产环境中也有着非常稳定可靠的测量表现。 多用 ...

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Sensofar Metrology
光学轮廓测量仪
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S mart 2

新一代 可集成 区域共聚焦 传感器 通过紧凑型设计和多功能性的完美结合,S mart 2 是市面上 独一无二的可集成的区域共聚焦传感器。 S mart 2 的设计非常易于集成,包括计算核心在内的所有电子设备都在测量头内部。这样的设计使得安装 Sensofar 系统从未如此简单:S mart 2 只有两个接口:网线和电源。 可集成头的形状经过精心设计,以改善系统的适配性。与早期型号相比,其设计更窄,进而允许集成头不会干扰到用户或制造操作。 S ...

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光学轮廓测量仪
光学轮廓测量仪
S neox

与无尘室兼容的最高灵活性 S neox 无尘系统是光学计量领域前所未有的技术里程碑。它允许在苛刻的生产环境中实现多种方式的光学测量。 S neox 采用 4 合 1 技术将多功能性推向极致,除此之外,S neox 允许用户从37 种不同的物镜中进行选择,并可以使用 DIC 增强与表面缺陷的对比度。 S neox 净室版本 是一款通过精心设计的产品,它通过了严格的 ISO 1 级无尘室的测试,以及静电放电(ESD)兼容性测试。 此外,兼容压电陶瓷驱动的 ...

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Sensofar Metrology
光学轮廓测量仪
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2D Manual series

... 二维手动 ELBO 可视化测量机有三种版本,适用于广泛的应用。 它们是高品质,精度和可靠的仪器已经生产成千上万台。 机械结构,慷慨设计,注重细节,已经使用的一流组件和灵活和完整的软件使他们非常有吸引力,从质量 vs 价格的角度来看。 • 具有图像处理功能的二维视觉测量机 ,用于高精度测量;• 轮廓和表面的照明系统可以窒息(4 个扇区,每个 90°); • 高分辨率和超低失真镜头; • 最终放大倍率从 20x 到 125x;(光学放大倍率 0,7x — 4, 5x, ...

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2D NC series

... NC ELBO 测量机具有两种版本,可以覆盖广泛的应用。 它们是高品质,精度和可靠的仪器已经生产成千上万台。 机械结构,慷慨设计,注重细节,已经使用的一流组件和灵活和完整的软件使他们非常有吸引力,从质量 vs 价格的角度来看。 • 二维数控视觉测量机具有图像处理 功能,用于高精度测量;• 教学在获得第一个测量路径后,可以召回它,以便对待测量的几何图形进行自动、顺序定位; • 照明系统 • 高分辨率和超低失真镜头; • 最终放大倍率为 20x 至 125x;(光学放大倍率为 ...

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2D CNC series

... 数控 ELBO 测量机涵盖了产品系列的高范围。 它们有两个版本,可以覆盖各种旅行测量。 它们是高品质,精度和可靠的仪器已经生产了数百台。 慷慨设计的机械结构,对细节的关注,已经使用的一流组件,以及灵活和完整的软件,使他们非常有吸引力,从质量 vs 价格的角度来看。 • 具有图像处理功能的二维视觉测量机,用于高精度测量; • 用于 “测量路径” 采集和常规测量操作的 CNC 操作; • 照明系统(用于轮廓和表面)可以窒息(4 个扇区,每个 90°); • 高分辨率和超低分辨率失真镜头; • ...

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NanoCam Sq

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WLICyl

... 应用 WLICyl * 白光干涉仪/WLI探头用于实验室和车间的质量控制。 * 缸孔 * 衬垫 规格 非接触式三维表面轮廓仪 * 可与转接板或用于底架的可变三爪卡盘结合使用,60-150。 WUCyl是一种基于白光干涉原理的高精度光学轮廓仪,设计用于后处理和统计过程控制。测量头可以手动移动,也可以通过在软件中输入坐标。 基架60-150的转接板或可变三爪卡盘确保了WUCyl在被测物上的定位参考,以便重复测量。无限的测量程序可以被保存和自动化。这种设计允许在进行摩擦学测试前后,在完全相同的位置进行比较。 WUCyl属于Breitmeier ...

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Dektak XTL™

Dektak XTL™ 手写笔专业计可容纳高达 350mm x 350mm 的样品,为大型晶圆和面板制造带来传奇的 Dektak ® 可重复性和可重复性。Dektak XTL 具有气动振动隔离和全封闭工作站,具有易于检通的联锁门,是当今苛刻的生产车间环境的的理想之选。其双摄像头架构可增强空间感知能力,其高自动化水平可最大限度地提高制造吞吐量。 鲁 棒 自动化设置和操作 对基准和无限测量站点进行程序,以最大限度地提高吞吐量并最大限度地减少错误。 双 摄像机控制 更快地简化测量设置和导航到感兴趣点。 容易 分析和数据收集 自动执行分析例程,仅报告复杂样本上所需的特征。 特征 业界最佳自动化和分析软件 增强的软件功能使 ...

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Bruker Nano Surfaces/布鲁克
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Alpha-Step D-500

Alpha-Step D-500探针式轮廓仪支持台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力的2D测量。 创新的光学杠杆传感器技术提供高分辨率测量,大垂直范围和低触力测量功能。 探针测量技术的一个优点是它是一种直接测量,与材料特性无关。 可调节的触力以及探针的选择都使其可以对各种结构和材料进行精确测量。 通过测量粗糙度和应力,可以对工艺进行量化,确定添加或去除的材料量,以及结构的任何变化。 Zoomed in image of solar cell roughness 主要功能 ...

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UA3P

... 松下UA3P轮廓仪系列设计用于测量非球面镜片和模具、半导体晶圆和任何其他需要纳米级精度的精密部件,范围高达200mm x 200mm。提供不同的机器型号以满足您的光学和高长径比计量需求。 UA3P-300、UA3P-4和UA3P-5都为用户提供AFM技术的精度和CMM的测量范围。我们的独特方法是在测针中使用原子力探针技术和基于HeNe激光的干涉式XYZ轴定位。 将这种技术与坚实的花岗岩基座结合起来,您就有了一个强大的测量系统,可以在工厂车间使用,并仍然提供0.1um级别的总不确定度。 主要特点 UA3P可测量非球面透镜和自由曲面镜及其模具,这对数字消费电子(如手机、DSC、DVD和蓝光刻录机)以及家庭安全、光通信和汽车等领域至关重要。 只需3分钟即可完成超精确的测量 自动生成NC程序 丰富的可选软件库 操作简单,支持加工的快速反馈 外部尺寸(宽x深x高)mm ...

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MMS Inspection SPG

讓表面測試成為一項簡單的任務 使用MMS® Inspection SPG,一度繁瑣的表面檢測可以在任何時間進行。這個儀器可以準確、快速地測定表面粗糙度。你可以透過LED燈、聲音和振動來判斷讀數是否在規格範圍內。測量符合ASTM 4417-B和sspc - pa17等標準。 即使在最不利的條件下,也可完全控制你的表面粗糙度測試儀:它的人體工程學設計和四個功能按鍵使它易於單手操作,即使戴著手套。有防塵防水外殼(IP65)的保護,不管你在什麼條件下工作,你總能得到可靠的測量結果。. ...

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IMOS

... IMOS 可实现精确、定量、符合 ISO 标准的非接触式表面测量和微和纳米尺度表面特征的表征,在短短几秒钟内捕获多达 200 万个数据点。选择合适的光学轮廓仪系统取决于您的应用需求,包括速度、精度、垂直范围、自动化和灵活性。 CMOS 光学表面剖面仪在非接触光学表面仿形中提供强大的多功能性。通过该系统,可以轻松快速地测量各种表面类型,包括平滑、粗糙、平坦、倾斜和阶梯。所有测量均无损、快速且无需特殊的样品制备。该系统的核心是部分相干光技术的干扰,该技术可提供亚纳米精度测量更广泛的表面,比其他市场上的技术更精确,从而优化您的投资回报。 ...

光学轮廓测量仪
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... 以不到AFM或3D测针轮廓仪一半的价格获得光学轮廓仪。Profilm30使用最先进的白光干涉测量法(WLI)来测量表面轮廓和粗糙度,测量精度低至0.05ym;增加PSI选项后,最小垂直特征尺寸可低至0.001pm。Profilm软件可以分析完整的图像,包括曲面和阶梯高度的表面纹理(粗糙度)。对于较大的图像,软件还可以将多个图像拼接在一起。 特征 - 100mm x 100mm的自动XY平台,运动范围为+1-5°的尖端倾斜。 - 自动Z-motion,100mm的射程 - ...

光学轮廓测量仪
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C41/C42

带有铁路车辆测量模块的非接触式 Calipri C4x 系列可满足铁路行业对简单轮廓测量仪的需求,用户能够独立获得测量结果,可以进行完整的轮对测试。 CALIPRI 功能齐全。非接触式测量技术能够使用同一个测量装置检测车轮轮廓、车轮直径、制动盘和轮背距离。获得专利的 CALIPRI 原理自动校正用户错误,从而获得可重复的测量结果。测量系统由一个传感器和一台平板电脑组成,用于定义测量顺序并输入极限值。信号灯系统会向用户指示超出的公差。然后可以打印测量数据或作为报告导出。 分为两种版本:适用于重型铁路车辆的 ...

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NEXTSENSE GmbH
光学轮廓测量仪
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TRACEiT®​

便携式光学三维形貌仪 三维形貌是产品材料及涂层性能的关键参数之一。 市场上广泛应用的光学式或接触式的三维形貌仪大多是台式的,而非便携式。 因此,手持非接触式形貌仪则具有独特的优势。 TRACEiT®手持非接触式形貌仪主要用于工厂自动化的质量控制,通过内置产品已知属性,在质量控制过程中以红色/绿色来对产品进行质量评判。 TRACEiT®是目前最快的(15秒完成测量)便携式三维光学形貌仪。 它所提供的三维形貌实时测量以及视觉形貌的记录已被广泛应用于制造过程中的质量控制以及设计和研究领域。 测试头内部均布3个120°平行光源,可进行360°全景扫瞄 测试头内部顶端安装一个摄像头,可实时采集视觉图像 对X、Y方向进行高达1500次的扫描测量 5mm ...

光学轮廓测量仪
光学轮廓测量仪
PROMEX OBJECTIVE Series

光学轮廓测量仪
光学轮廓测量仪
ProfilControl 7 S

... 用于简单到高度复杂型材表面检测的新关键技术 — — 创新和...性! 该模块化可扩展的系统采用专业传感器技术、紧凑型设计和智能过程控制,可降低剔除率、最大程度降低工艺成本,并使您的质量可重现且安全。 这确保只有完美无瑕的材料才能运到您的客户。 行业特定产品汽车 车身密封型材,发动机罩,车门... 挡风玻璃雨刷的型 材修剪和盖子圆角用于汽车车身和传动系统的金属型 材窗轴密封边缘保护型材 和其他更多 您的优势一目了然 降低生产成本 ...

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PIXARGUS GmbH
光学轮廓测量仪
光学轮廓测量仪
TAMS™

光学轮廓测量仪
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Sentinel V ADC

... 有三种测绘范围:20米、50米、100米 底部或船上安装 实时和底部跟踪选项 数据率高达16赫兹 支持多种并发的采样策略 记录原始数据供将来处理--根据研究目标和观察数据中的特征可能需要在不同的时间尺度上进行分析。 现成的电池选项 无线数据下载 通过无线浏览器界面进行设置--不需要软件 尽管有复杂的变量,设置工具仍能确保稳健的采样策略 硬件安全特性,包括:捕获的O型环,独立的电子和电池室,独立的传感器设计 Sentinel V ADCP一方面代表了能力和灵活性的完美平衡,另一方面也代表了坚固性和可靠性。 ...

3D轮廓测量仪
3D轮廓测量仪
Z-Trak

... 用于在线测量和检测应用的高性能3D轮廓传感器 Z-Trak是一系列3D轮廓传感器,利用激光三角测量法提供高分辨率的实时高度测量。这些轻巧的IP67级轮廓传感器是汽车、电子、半导体和工厂自动化领域在线测量、检测、识别和引导应用的理想选择。 Z-Trak系列在不同的操作条件下提供可靠和可重复的结果。Z-Trak型号可处理的物体宽度为8.5毫米至1520毫米,高度范围为10毫米至1000毫米。所有Z-Trak型号都经过工厂校准,并有适合表面反射率的激光器选项可供选择。 Z-Trak系列具有实时激光线优化功能,可获得统一的测量结果,使用通用千兆网络路由器和以太网供电(POE)进行多传感器同步,以简化设置和配置。Z-Trak系列与Teledyne ...

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