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DektakXT®探针式轮廓仪采用革命性的台式设计，可实现 4Å （0.4nm） 的无与伦比的重复性，扫描速度可提高 40%。探针式轮廓仪性能的这一重大里程碑是 Dektak® 五十多年创新和行业领导地位的顶峰。DektakXT 结合了行业第一的技术和设计，可提供极致的性能、易用性以及价值，实现从研发到质量控制的更好过程监控。DektakXT 的技术突破为微电子、半导体、太阳能、高亮度 LED、医疗和材料科学行业的关键尺寸的纳米级表面测量提供支持。 DektakXT ...
Bruker Handheld XRF Spectrometry
针对300mm尺寸样品进行优化，用于质量保证/质量分析的探针式轮廓仪 Dektak XTL探针式轮廓仪 Dektak XTL™ 探针式轮廓仪可容纳高达 350mm x 350mm 的样品，为大型晶圆和面板制造带来Dektak ®传奇的可重复性。Dektak XTL 具有空气振动隔离设计和全封闭工作站设计，具有易用的联锁门，是当今苛刻的生产车间环境的的理想之选。其双摄像头架构可增强空间感知能力，其高自动化水平可最大限度地提高测试通量。 业界最佳自动化和分析软件 增强的软件功能使 ...
Bruker Handheld XRF Spectrometry
... Time® 3234 是一款便携式触控笔表面波纹测试仪，适用于车间、实验室、计量中心等测试。 它可以测量粗糙度、波浪度和主轮廓。 测试结果可以在 LCD 屏幕上以数字和图形方式显示，或输出到打印机。 它还可以通过特殊软件连接到计算机进行数据分析。 特点 ● 使用 Linux 操作系统。 计算精度高，数据处理速度快，用户界面友好。 ● 独立设计，易于操作。 ● 便携式设计，方便携带。 ● 可测量表面粗糙度、波浪度和主要轮廓。 ● 具有 1000 微米的宽测量范围，最大追踪长度可达 ...
适用于车间检测的、高精度表面粗糙度解决方案 完美结合了业界领先的技术指标和便捷的操作方式，具有极高的实用性。 Intra功能和特点 • 1 mm 和 2 mm量程配置 可用于精密加工和大部分车间应用的表面粗糙度测量。 • 水平驱动箱 50 mm行程 兼具精确性和便携性。 • <0.30 μm / 50 mm直线度误差 高精度驱动基准可测量大零件的波纹度和形状 • 0.5 μm水平数据采样间隔 可更加有效地测量小零件及其特征。测量时，启动长度和停 ...
TAYLOR HOBSON
该仪器拥有坚固耐用的外壳。实用中可做到长时间无需保养维护亦可保持精准。其灵活性、可靠性、易于适用等特点使Form Talysurf Intra 成为诸多行业中车间型精密仪器的典范。 诸如Ra等简单的粗糙度测量可以使用我们的Surtronic 系列产品。如果您需要更多层面的测量分析，更高层次的测量结果，Form Talysurf Intra 将是您最好的选择。该仪器完美的结合了业界领先的精确度和便捷的操作方式，具有极高的实用价值。 •垂直量程1mm 、相应分辨率16nm 可用于金属或其他材质轮廓线以及粗糙度的精密测量。 •可完成全程50mm ...
TAYLOR HOBSON
光学表面粗糙度和形状测量设备 泰勒•霍普森 Form Talysurf PGI 接触式光学轮廓仪可测量大矢高透镜、塑料透镜、小部件、直径可达 300 mm 的红外玻璃和晶体的表面粗糙度和形状，精度高，是光学器件制造商的首选仪器。 自1984年发布以来，Form Talysurf很快成为光学生产商测量非球面形状误差的首选测量仪。自此以后，全球范围上千家生产商开始使用该仪器，使其很快成为行业领域的最佳测量标准。 我们拥有专利技术的PGI (Phase ...
TAYLOR HOBSON
用于表面粗糙度和轮廓测量的高分辨率测量系统 是众多汽车、轴承、齿轮等行业应用的理想选择。 完全可靠的测量和结果 购买测量设备意在确保制造的的零件达到最高标准。 测量完整性和可再现性是泰勒-霍普森引以为傲之处，通过跨产品系列进行相关性研究，以此对结果进行验证。 泰勒-霍普森仪器拥有世界最佳噪底，这是仪器完成准确测量的基础。 我们的产品设计建立在近百年的测量经验积累、超精密制造技术和FEA优化设计的基础之上。 这些优势实现了低噪声和近乎完美的测量轴机械运动。 ...
TAYLOR HOBSON
Form Talysurf® WRi（大量程电感式传感器）可提供全面的轮廓信息。泰勒•霍普森独特的球校准程序可达到无与伦比的测量线性，因而形成卓越的测量能力。 该设备使用方便，可根据操作员的要求定制操作界面。WRi PRO 是用于测量缸体和缸盖、曲轴和凸轮轴、钣金和齿轮的理想设备。 Form Talysurf® WRi PRO (大量程电感系列仪器) 能对轮廓测量有着更深层次的分析。泰勒•霍普森独特的球校准程序保证了极佳的传感器线性，从而拥有强大的形状测量能力。 多方面的突破性创举 先进计量技术，轻松实现测量 强大、直观、易于使用 用户界面提供一目了然的测量过程监控。 实时模拟和真实零件坐标使监测和控制达到业界前所未有的水平。 轮廓分析 全面尺寸分析，包括误差检测和公差 操作简单，可通过界面上的图标进行操作 DXF数据对比 自动分析功能，大位移公差 快速桌面排版系统 可追溯的计量能力
TAYLOR HOBSON
表面粗糙度、轮廓和波纹度测量仪 泰勒•霍普森 新推出的 Talysurf PRO 是一款经济实惠、低噪音、高分辨率（1nm）和 1mm 量程的表面粗糙度和波纹度测量仪器。它可以在平面和曲面上快速地进行测量和分析。该仪器的优势是其简单、快速和全自动的传感器校准过程。 新型Talysurf® PRO 可信赖的测量结果 高性价比、低噪音、高分辨率的测量仪器 用于粗糙度和波纹度检测 Talysurf PRO 仪器是一款设置简单、易于操作的高精度测量仪器，可用于粗糙度和波纹度检测。 该系统的低噪音轴和高分辨率传感器能够确保测量的完整性。使用了强有力的控制分析软件，粗糙度和波纹度的分析从未如此简单。 通过使用操纵杆按钮、用户定义宏按钮及分析快捷方式简化系统操作。 传感器校准 Talysurf ...
TAYLOR HOBSON
Tencor P-7探针式轮廓仪以成功领先市场的Tencor P-17台式探针式轮廓仪系统为基础。它涵盖了P-17的卓越测量性能，为台式探针式轮廓仪提供了出色的性价比。Tencor P-7探针式轮廓仪支持对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量，扫描范围可达150mm，无需拼接。 特征 台阶高度：纳米级到1000微米 恒定力控制：0.03至15mg 样品的全直径扫描，无需拼接 视频：5MP高分辨率彩色相机 弧形校正：可消除探针的弧形运动引起的误差 软件：简单易用的软件界面 生产能力：全自动测量，具有测序、图形识别和SECS/GEM功能 应用 台阶高度：2D和3D台阶高度 纹理：2D和3D粗糙度和波纹度 形状：2D和3D翘曲、形状 应力：2D和3D薄膜应力 缺陷检测：2D和3D缺陷表面形貌 工业 高校、实验室和研究所 半导体和化合物半导体 LED：发光二极管 太阳能 MEMS：微机电系统 数据存储 汽车 医疗器械 更多内容：请联系我们并告诉我们您的需求
KLA - TENCOR
Tencor P-17是第八代台式探针式轮廓仪，它凝结了逾40年的表面量测经验。该行业领先的系统支持对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行二维(2D)和三维(3D)测量，扫描范围可达200mm，无需拼接。 出色的测量稳定性通过结合UltraLite® 传感器、恒力控制和超平扫描样品台实现。通过使用点击式样品台控制、顶视和侧视光学元件以及具有光学变焦功能的高分辨率相机，可快速轻松地设置程式。Tencor P-17探针式轮廓仪支持2D或3D测量，可使用多种滤波、调平和分析算法来测量表面形貌。通过图形识别、序列和特征检测实现全自动测量。 特征 台阶高度：纳米级到1000微米 恒力控制：0.03至15mg 无需拼接即可扫描样品的全直径 视频：5MP高分辨率彩色相机 弧形校正：可消除探针的弧形运动引起的误差 软件：简单易用的软件界面 生产能力：具有测序、图形识别和SECS/GEM功能的全自动测量 应用 台阶高度：2D和3D台阶高度 纹理：2D和3D粗糙度和波纹度 形状：2D和3D翘曲形状 应力：2D和3D薄膜应力 缺陷检测：2D ...
KLA - TENCOR
Tencor P-170是一款自动化轮廓仪，具有行业领先的P-17的台式系统测量性能和经HRP®-260生产验证的机械手臂。这种组合为半导体、化合物半导体和相关行业提供了一种拥有基于机械手臂系统的低成本解决方案。Tencor P-170支持对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量，扫描范围可达200毫米且无需拼接。 通过结合UltraLite®传感器、恒力控制和超平扫描样品台，可实现出色的测量稳定性。使用点击式样品台控制、顶视和侧视光学元件以及具有光学变焦功能的高分辨率相机，可快速轻松地设置程式。Tencor ...
KLA - TENCOR
HRP-260是一款高分辨率cassette-to-cassette探针式轮廓仪。HRP的性能经过生产验证，能够进行自动化晶圆装卸、可为半导体、化合物半导体、高亮度LED、数据存储和相关行业提供服务。P-260配置支持台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力的二维及三维测量，其扫描深度可达200mm而无需图像拼接。 HRP-260配置的功能与P-260相同，并增加了能够对小特征进行高分辨率和高产量测量的高分辨率平台。 HRP-260的双平台功能可以进行纳米和微米表面形貌的测量。 ...
KLA - TENCOR
Alpha-Step D-600 探针式轮廓仪支持台阶高度和粗糙度的2D和3D测量，以及2D翘曲度和应力。创新的光学杠杆传感器技术提供高垂直分辨率、长程垂直测量范围和微力控制测量能力。 探针接触式测量技术的优点是可以进行接触式直接测量，与材料特性无关。多种力度调节和探针选择可以让机台对各种结构和材料进行准确测量。该探针测量选项能够对您的工艺进行量化，以确定添加或去除的材料量，并通过测量粗糙度和应力来确定结构的任何变化。 功能 台阶高度：纳米级到 1200 ...
KLA - TENCOR
Alpha-Step D-500探针式轮廓仪支持台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力的2D测量。 创新的光学杠杆传感器技术提供高分辨率测量，大垂直范围和低触力测量功能。 探针测量技术的一个优点是它是一种直接测量，与材料特性无关。 可调节的触力以及探针的选择都使其可以对各种结构和材料进行精确测量。 通过测量粗糙度和应力，可以对工艺进行量化，确定添加或去除的材料量，以及结构的任何变化。 Zoomed in image of solar cell roughness 主要功能 ...
KLA - TENCOR
... Panasonic UA3P 轮廓仪系列专为测量非球面透镜和模具、半导体晶片以及任何其他需要纳米级精度的精密部件而设计，测量范围可达 200mm x 200mm。不同型号的机器可满足您对光学和高纵横比测量的需求。 UA3P-300、UA3P-4 和 UA3P-5 都能为用户提供原子力显微镜技术的精度和坐标测量机的测量范围。我们的独特方法是在测针中使用原子力探针技术和基于氦氖激光的 XYZ 轴干涉定位技术。 将这项技术与坚固的花岗岩基座相结合，您就拥有了一个可以在工厂车间使用的坚固的计量系统，并且还能提供 ...
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