3D轮廓测量仪

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激光轮廓测量仪
激光轮廓测量仪
LJ-X8000 series

新增控制器 超高精细测量 • 超高精度 • 可支持各种材 • 设定只需 3 步 超高精度测量 为以往的 4 倍* 采用 3200 points/profile 超高精度测量,可以极其精确地绘制出目标物的形状。通过呈现“真实形状”,从而实现精确的尺寸测量和外观检测。 型号丰富的超高精度感测头,可应对各种检测需求! 标准机型 是追求简单快速地实现在线检测场合的理想选择。 高级机型 提供用户高自由度编程的环境以及自行开发的选择。是追求以专有程序实现难度高、应用复杂的检测的理想选择。

光学轮廓测量仪
光学轮廓测量仪
TopMap Pro.Surf

形态参数和表面地形的三维和区域评价 TopMap Pro.Surf可快速确定大面积的形状偏差和表面形貌,并且具有极高的精度。TopMap Pro.Surf是一个高端光学表面轮廓仪系统,非常适合精密机械制造业的质量控制,无论是在线、在生产线上还是接近生产。TopMap Pro.Surf为所有表面表征任务提供定制的解决方案,只要评估表面参数,如平面度、台阶高度和平行度是基本的。其高空间分辨率和远心光学概念以及出色的测量速度使其成为生产层面上最可靠的非接触式传感器解决方案。 测量形状公差,如平面度 ...

3D轮廓测量仪
3D轮廓测量仪
TopMap Micro.View+

新一代光学表面轮廓仪 TopMap Micro.View+ 是新一代光学表面轮廓仪。 该模块化工作站专为模块化设计,可进行定制和特定于应用的配置。 MICRO.VIEW +提供了最详细的表面粗糙度,纹理和微观结构形貌分析。 结合3D数据和颜色信息结合起来,实现惊人的可视化和扩展分析,如缺陷的详细文档。 高分辨率500万像素相机提供了令人难以置信的工程表面3D数据可视化。 启用自动化且可投入生产线 编码和电动转塔确保了物镜之间的无缝过渡。 Micro.View+ ...

3D轮廓测量仪
3D轮廓测量仪
TopMap Pro.Surf+

表面细节、形状参数和粗糙度的综合光学三维测量 TopMap Pro.Surf+为所有表面表征要求提供定制解决方案,评估形状参数,如平面度、台阶高度、平行度和表面粗糙度。其空间分辨率和远心光学系统可到达深层区域,加上无与伦比的测量速度,显示了这种生产计量工具的高性能。 TopMap Pro.Surf+ 使用诸如平面度、台阶高度、平行度和粗糙度等参数为所有表面特性要求提供定制解决方案。总之,空间分辨率、远心镜头和速度确实令人印象深刻。 白光干涉仪与色彩共焦技术的组合意味着不会忽略任何细节 ...

光学轮廓测量仪
光学轮廓测量仪
Nexview™ NX2

... Nexview™ NX2 Nexview NX2 3D光学轮廓仪系统 Nexview™ NX2 3D光学剖析仪专为最苛刻的应用而设计,它将卓越的精度、先进的算法、应用灵活性和自动化结合到一个单一的封装中,代表了ZYGO最先进的相干扫描干涉测量(CSI)剖析仪。 完全的非接触技术优化了投资回报,在所有的放大倍率下都能提供亚纳米级的精度,并且比其他市面上的同类技术更快、更精确地测量更多的表面。Nexview ...

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Zygo Corporation
光学轮廓测量仪
光学轮廓测量仪
NewView™ 9000

... NewView™ 9000 NewView™ 9000 3D光学表面轮廓仪在非接触式光学表面轮廓测量方面提供了强大的多功能性。有了该系统,可以轻松快速地测量各种类型的表面,包括光滑、粗糙、平坦、倾斜和阶梯。所有的测量都是无损的、快速的,并且不需要样品准备。 该系统的核心是ZYGO的相干扫描干涉仪(CSI)技术,在所有放大倍率下都能提供亚纳米级的精度,并且比其他商用技术更快、更精确地测量更广泛的表面,从而优化您的投资回报。 性能、价值和多功能性 灵活性是ZYGO ...

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Zygo Corporation
光学轮廓测量仪
光学轮廓测量仪
ZeGage™ Pro

... ZeGage™专业版 生产就绪的3D光学轮廓仪系统 ZeGage™ Pro和ZeGage™ Pro HR 3D光学轮廓仪可对多种类型表面的微观和纳米尺度特征进行非接触式测量和表征,以确保制造环境中的质量控制和过程监控。 我们行业领先的ZeGage Pro系列为台式工业非接触式表面轮廓仪的性能、易用性、灵活性和精度设定了标准。基于ZYGO专有的CSI技术,ZeGage Pro提供了创新技术,实现了精确、可靠、简单和可靠的表面测量。 独家功能包括SureScan™技术,可实现坚固的振动测量,零件查找器和智能设置可简化零件设置和优化测量 ...

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Zygo Corporation
3D轮廓测量仪
3D轮廓测量仪
SuperView W1

... SuperView W1光学三维曲面轮廓仪是各种精密零件亚纳米级测量的理想仪器,它以白光干涉技术为原理,结合精密的Z方向扫描模块和三维建模算法,对物体表面进行无接触扫描,然后建立表面的三维图像。基于白光干涉技术的原理,结合精密的Z方向扫描模块和三维建模算法,对物体表面进行无接触扫描,然后建立物体表面的三维图像,经过XtremeVision软件处理和分析,得到一系列反映物体表面质量的二维、三维参数。经过XtremeVision软件对3D图像进行处理和分析,得到一系列反映物体表面质量的2D、3D参数。 ...

光学轮廓测量仪
光学轮廓测量仪
IF-Profiler

... 如何测量粗糙度和表面光洁度 IF 轮廓仪是一种手持式 3D 粗糙度测量系统,用于高分辨率测量表面光洁度。 用户 仅用一个系统测量扁平和弯曲部件的粗糙度。 测量基于剖面(ISO 4287)和基于区域(ISO 25178)进行。 轻量级的 IF-Profiler 由三维测量传感器和坚固耐用的框架组成。 人体工程学设计结合了易用性和所要求的机械刚性。 IF-Profiler 可在高速测量条件下实现灵活的测量和应用。 各种位置和测量字段可追溯且直观地测量。 ...

光学轮廓测量仪
光学轮廓测量仪
Form Talysurf® PGI Freeform

... Freeform 用于表面粗糙度和形状测量的三维自由曲面光学轮廓测量仪 泰勒•霍普森 的 PGI Freeform(相位光栅干涉)是一款多功能、高分辨率的三维自由曲面轮廓测量仪,用于高精度的自由曲面光学测量。它可以对自由曲面光学器件进行表面粗糙度和形状分析。 灵活多样、高分辨率自由曲面测量系统 全新的PGI Freeform是一款灵活多样、高分辨率的光学测量系统,适用于高精密光学零件的自由曲面的测量。 能够为以下光学零件的提供栅格方向和径向的三维测量与分析: 球面 非球面 ...

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TAYLOR HOBSON
3D轮廓测量仪
3D轮廓测量仪
Form Talysurf PGI NOVUS

最先进的表面粗糙度、轮廓、3D和直径测量系统 新型Form Talysurf® PGI NOVUS的核心部件是一款具有突破性意义的双向传感器。 NOVUS传感器能够在正向和反向的两个方向上以相同的速度和精度测量直徑、角度、表面粗糙度。 ...

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光学轮廓测量仪
PGI Matrix

... PGI Matrix 是用于从小型手机镜头到大型天文光学的全自动 2D 和 3D 形式测量光学的全能仪器。 当测量速度和吞吐量是必备时,我们的生产力工具套件为批量测试提供了独特的优势。 集成的 PGI 量具技术加上先进的自动化软件和硬件,现在用户能够测量以前从未有过的自由光学。 ...

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TAYLOR HOBSON
3D轮廓测量仪
3D轮廓测量仪
S lynx

简洁 . 灵动 . 强劲. Slynx是一款专为工业和研究所设计的全新非接触式3D光学轮廓仪。它设计简洁、用途多样。Slynx能够测量不同的材质,结构,表面粗糙度和波度,几乎涵盖所有类型的表面形貌。它的多功能性能够满足广泛的高端形貌测量应用。Sensofar的核心专利是将3种测量方式融于一体,确保了其完美的性能。配合SensoSCAN软件系统,用户将获得难以置信的直观操作体验。 应用领域 - 汽车业 - 消费电子产品 - 能源行业 - 液晶显示屏 - ...

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Sensofar Metrology
光学轮廓测量仪
光学轮廓测量仪
S onix

在线 测量 解决方案 Sensofar拥有十四年的表面测量系统制造经验,线上3D光学测量头代表了最先进的制造工艺和测量技术。 简洁轻便、灵活的装配选择让它们适用于各种严苛的生产环境。无论是Smart还是Sonix在各种应用上都有着非常优秀的表现。 稳 定 坚 实 可 靠 生产环境有很多因素组成:不同的生产条件、震动环境、具有侵蚀性或破坏性的材料等等。很多情况下由于生产环境的影响,测量过程变的异常困难。Sensofar线上测量头有着非常好的密闭设计以保持测量组件的清洁。所有的光学组件都有着非常好的固定性并且在测量过程中不会产生任何位移,这使得测量头在严苛生产环境中也有着非常稳定可靠的测量表现。 多用 ...

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Sensofar Metrology
光学轮廓测量仪
光学轮廓测量仪
S wide

S wide 是专用系统,适用于快速测量大样品区域,测量面积最高可达 300 x 300 mm。它具有集成了数字显微镜的高分辨率测量仪器的所有优点。一键式采集功能,易于使用。 解决方案 大面积 3D 光学测量系统 - 先进制造业 - 考古学与古生物学 - 消费类电子产品 - 医疗设备 - 模塑 - 光学 - 钟表业

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Sensofar Metrology
3D轮廓测量仪
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VOLSCAN VSP600

3D轮廓测量仪
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MC100

... 圆柱度测试仪 特点和优势。 1.可用双轴光栅计数 2.可提供多元素评估方法,以及模块化评估模式 3.自主开发可以协助对中和调平 4.可用换向器评估功能,可评估单片跳动、相邻片跳动和切断差。 5.多段式方法可更准确地测量圆柱度。 使用方法。 圆度、同轴度、同心度、平面度、径向单跳、轴向单跳、平行度、垂直度 测量范围:1-15upr, l-50upr, l-150upr,1-250upr,l-500upr。 1-250upr,l-500upr,15-100upr,15-500upr,2-15upr,customized ...

3D轮廓测量仪
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MP100

... 轮廓测试器 轮廓仪,轮廓仪,轮廓图,轮廓仪,轮廓分析仪,轮廓测量机,轮廓测量系统 型号 - MP100 测量范围 - X轴 - 100~220mm Z轴 - 320~620mm Z1轴 - 0~±30mm 轮廓精度 - Z1直线 - ±(1.5+|0.2H|)μm 弧形 - ±(2+R/8)μm 角度 - ±2′ 直线度 - 0.8μm/100mm 驱动速度 - X轴:0.1-10mm/s Z轴:0.5-10mm/s ...

3D轮廓测量仪
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PosiTector® RTR 3D series

... 测量和记录二维/三维表面轮廓参数的复制带阅读器 数字式弹簧测微仪使用Testex Press-O-Film™复制带测量并记录表面轮廓参数。 - 新的 更大的2.8 "抗冲击彩色触摸屏,重新设计的键盘可快速浏览菜单 - 通过在表面上烧制胶带来创建一个复制品,并插入仪器中。三维图像和二维/三维参数在几秒钟内就能显示出来! - 报告常用参数。报告常用参数:Ra、Rq、Rz、Rp、¬Rv、Rt、Rpc(2D),以及Sa、Sq、Sz、Sp、Sv和Spd(3D)。 - ...

3D轮廓测量仪
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DektakXT

DektakXT®探针式轮廓仪采用革命性的台式设计,可实现 4Å (0.4nm) 的无与伦比的重复性,扫描速度可提高 40%。探针式轮廓仪性能的这一重大里程碑是 Dektak® 五十多年创新和行业领导地位的顶峰。DektakXT 结合了行业第一的技术和设计,可提供极致的性能、易用性以及价值,实现从研发到质量控制的更好过程监控。DektakXT 的技术突破为微电子、半导体、太阳能、高亮度 LED、医疗和材料科学行业的关键尺寸的纳米级表面测量提供支持。 4Å 重复性 提供业界领先的精度。 单拱门 设计 提供突破性的扫描稳定性。 自对齐 探针 实现轻松的探针更换。 加速数据收集和分析 DektakXT ...

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Bruker Nano Surfaces/布鲁克
光学轮廓测量仪
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Alpha-Step D-500

Alpha-Step D-500探针式轮廓仪支持台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力的2D测量。 创新的光学杠杆传感器技术提供高分辨率测量,大垂直范围和低触力测量功能。 探针测量技术的一个优点是它是一种直接测量,与材料特性无关。 可调节的触力以及探针的选择都使其可以对各种结构和材料进行精确测量。 通过测量粗糙度和应力,可以对工艺进行量化,确定添加或去除的材料量,以及结构的任何变化。 Zoomed in image of solar cell roughness 主要功能 ...

光学轮廓测量仪
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UA3P

... 松下UA3P轮廓仪系列设计用于测量非球面镜片和模具、半导体晶圆和任何其他需要纳米级精度的精密部件,范围高达200mm x 200mm。提供不同的机器型号以满足您的光学和高长径比计量需求。 UA3P-300、UA3P-4和UA3P-5都为用户提供AFM技术的精度和CMM的测量范围。我们的独特方法是在测针中使用原子力探针技术和基于HeNe激光的干涉式XYZ轴定位。 将这种技术与坚实的花岗岩基座结合起来,您就有了一个强大的测量系统,可以在工厂车间使用,并仍然提供0.1um级别的总不确定度。 主要特点 UA3P可测量非球面透镜和自由曲面镜及其模具,这对数字消费电子(如手机、DSC、DVD和蓝光刻录机)以及家庭安全、光通信和汽车等领域至关重要。 只需3分钟即可完成超精确的测量 自动生成NC程序 丰富的可选软件库 操作简单,支持加工的快速反馈 外部尺寸(宽x深x高)mm ...

3D轮廓测量仪
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spectro2profiler

... 如你所见 spectro2profiler使用45°的圆周照明,0°的视角。 圆周照明对于在纹理表面实现可重复的测量结果至关重要。 超大的测量点和均匀的照明保证了高度可靠和有代表性的读数。 三维表面纹理分析--如你所见 spectro2profiler在不同的光照方向上拍摄多张图像,以计算和显示三维地形图。 因此,您可以得到细胞大小(mm²)和感知细胞振幅(P-µm)的客观测量。 不同的晶粒类型可以很容易地被区分出来--是设计和新供应商审批的理想选择。 从传统的光泽度仪到二维反射率测量 ...

光学轮廓测量仪
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IMOS

... IMOS 可实现精确、定量、符合 ISO 标准的非接触式表面测量和微和纳米尺度表面特征的表征,在短短几秒钟内捕获多达 200 万个数据点。选择合适的光学轮廓仪系统取决于您的应用需求,包括速度、精度、垂直范围、自动化和灵活性。 CMOS 光学表面剖面仪在非接触光学表面仿形中提供强大的多功能性。通过该系统,可以轻松快速地测量各种表面类型,包括平滑、粗糙、平坦、倾斜和阶梯。所有测量均无损、快速且无需特殊的样品制备。该系统的核心是部分相干光技术的干扰,该技术可提供亚纳米精度测量更广泛的表面,比其他市场上的技术更精确,从而优化您的投资回报。 ...

光学轮廓测量仪
光学轮廓测量仪

... 以不到AFM或3D测针轮廓仪一半的价格获得光学轮廓仪。Profilm30使用最先进的白光干涉测量法(WLI)来测量表面轮廓和粗糙度,测量精度低至0.05ym;增加PSI选项后,最小垂直特征尺寸可低至0.001pm。Profilm软件可以分析完整的图像,包括曲面和阶梯高度的表面纹理(粗糙度)。对于较大的图像,软件还可以将多个图像拼接在一起。 特征 - 100mm x 100mm的自动XY平台,运动范围为+1-5°的尖端倾斜。 - 自动Z-motion,100mm的射程 - ...

光学轮廓测量仪
光学轮廓测量仪
WLICyl

... 应用 WLICyl * 白光干涉仪/WLI探头用于实验室和车间的质量控制。 * 缸孔 * 衬垫 规格 非接触式三维表面轮廓仪 * 可与转接板或用于底架的可变三爪卡盘结合使用,60-150。 WUCyl是一种基于白光干涉原理的高精度光学轮廓仪,设计用于后处理和统计过程控制。测量头可以手动移动,也可以通过在软件中输入坐标。 基架60-150的转接板或可变三爪卡盘确保了WUCyl在被测物上的定位参考,以便重复测量。无限的测量程序可以被保存和自动化。这种设计允许在进行摩擦学测试前后,在完全相同的位置进行比较 ...

光学轮廓测量仪
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TRACEiT®​

便携式光学三维形貌仪 三维形貌是产品材料及涂层性能的关键参数之一。 市场上广泛应用的光学式或接触式的三维形貌仪大多是台式的,而非便携式。 因此,手持非接触式形貌仪则具有独特的优势。 TRACEiT®手持非接触式形貌仪主要用于工厂自动化的质量控制,通过内置产品已知属性,在质量控制过程中以红色/绿色来对产品进行质量评判。 TRACEiT®是目前最快的(15秒完成测量)便携式三维光学形貌仪。 ...

3D轮廓测量仪
3D轮廓测量仪
Z-Trak2

... 高速、在线高度测量和检测 Z-Trak™2是基于Teledyne Imaging的3D图像传感器技术打造的全新3D轮廓传感器系列,开创了高速、在线3D应用的5GigE 3D轮廓传感器的新时代。 机型的扫描速度高达每秒45,000个剖面,并具有内置HDR和反射补偿算法,可在单次扫描中处理具有不同程度反射率的表面。这为电子、半导体、汽车和工厂自动化市场领域的检查、检测、识别和引导提供了在线高度测量。 提供高达45,000个配置文件/秒的扫描速度。 所有Z-Trak2型号的每个轮廓都有2K点,都经过工厂校准 ...

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Dalsa