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... 所采用的简化方案融合了布鲁克几十年的专利白光干涉（WLI）创新技术，具有强大的二维/三维高分辨测量能力。新一代增强功能包括全新的 5MP 摄像头和更新平台，实现更多缝合功能，并新增一个测量模式 USI，提升了精加工表面、厚膜和摩擦学应用测量时的便捷性和灵活性。ContourX-100 堪称性价比最高的台式系统。 卓越计量能力 ContourX-100 轮廓仪是布鲁克 40 多年来在非接触式表面计量、表征和成像领域专有光学创新和行业领导力的结晶。该系统利用三维 ...
Bruker Handheld XRF Spectrometry
形态参数和表面地形的三维和区域评价 TopMap Pro.Surf可快速确定大面积的形状偏差和表面形貌，并且具有极高的精度。TopMap Pro.Surf是一个高端光学表面轮廓仪系统，非常适合精密机械制造业的质量控制，无论是在线、在生产线上还是接近生产。TopMap Pro.Surf为所有表面表征任务提供定制的解决方案，只要评估表面参数，如平面度、台阶高度和平行度是基本的。其高空间分辨率和远心光学概念以及出色的测量速度使其成为生产层面上最可靠的非接触式传感器解决方案。 测量形状公差，如平面度 ...
Polytec
... 连续扫描技术，Z轴100毫米的行程提供了完整的100毫米测量范围，垂直分辨率在纳米范围内。这款光学轮廓仪的特点是设计紧凑，集成了电子元件，使用方便，例如，通过自动寻焦功能，在生产环境和测试实验室中进行快速有效的测量。 + 粗糙度、纹理和微观结构的全面积和三维形貌分析 + 紧凑的轮廓仪系统用于分析表面细节 + 100毫米大的垂直测量范围，采用CST连续扫描技术 + 卓越的横向分辨率 + 特定的应用目标 联系我们以获得演示、对您的特定样品进行可行性研究和更多信息。
Polytec
新一代光学表面轮廓仪 TopMap Micro.View+ 是新一代光学表面轮廓仪。 该模块化工作站专为模块化设计，可进行定制和特定于应用的配置。 MICRO.VIEW +提供了最详细的表面粗糙度，纹理和微观结构形貌分析。 结合3D数据和颜色信息结合起来，实现惊人的可视化和扩展分析，如缺陷的详细文档。 高分辨率500万像素相机提供了令人难以置信的工程表面3D数据可视化。 启用自动化且可投入生产线 编码和电动转塔确保了物镜之间的无缝过渡。 Micro.View+ ...
Polytec
Nexview™ NX2 三维光学轮廓仪专为最苛刻的应用而设计，集卓越的精度、先进的算法、应用灵活性和自动化于一身，是 ZYGO 最先进的相干扫描干涉测量（CSI）轮廓仪。 这种完全非接触式技术可在所有放大倍率下提供亚纳米级的精度，并且能够比其他商用同类技术更快、更精确地测量更多的表面类型，优化了投资回报率。Nexview NX2 应用范围广泛，可以测量几乎任何表面和材料的平整度、粗糙度和波纹、薄膜、台阶高度等，是一款名副其实的轮廓仪。 作为最新一代的旗舰产品，Nexview™ ...
Zygo
... 生产就绪的三维光学轮廓仪系统 ZeGage Pro HR 三维光学轮廓仪 ZeGage™ Pro和ZeGage™ Pro HR三维光学轮廓仪为许多类型的表面的微观和纳米尺度的特征提供非接触式的测量和表征，确保在您的制造环境中进行质量控制和过程监控。 我们行业领先的ZeGage Pro系列为台式工业非接触式表面测量仪的性能、易用性、灵活性和精度设定了标准。基于ZYGO专有的CSI技术，ZeGage ...
Zygo
NewView™ 9000 三维光学表面轮廓仪在非接触式光学表面轮廓测量方面提供了强大的多功能性。该系统可以方便快捷地测量各种表面类型，包括光滑、粗糙、平坦、倾斜和台阶式表面。所有的测量都是无损、快速的，并且不需要准备样品。 该系统的核心是 ZYGO 的相干扫描干涉测量技术（CSI），它在所有放大倍率下都能提供亚纳米级的精度，并且能够比其他商用技术更快、更精确地测量更多的表面类型，可优化您的投资回报率。 高性能、高性价比和多功能性 灵活性是 ...
Zygo
... 并获取反映器件表面质量的2D、3D参数，从而实现器件表面形貌3D测量的光学检测仪器。 SuperView W1-Pro光学3D表面轮廓仪可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、国防军工、科研院所等领域中。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等，提供依据ISO/ASME/EUR/GBT四大国内外标准共计300余种2D、3D参数作为评价标准 ...
... 并获取反映器件表面质量的2D、3D参数，从而实现器件表面形貌3D测量的光学检测仪器。 SuperView W3白光干涉仪可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、国防军工、科研院所等领域中。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等，提供依据ISO/ASME/EUR/GBT四大国内外标准共计300余种2D、3D参数作为评价标准。 ...
... 并获取反映器件表面质量的2D、3D参数，从而实现器件表面形貌3D测量的光学检测仪器。 SuperView W1光学3D表面轮廓仪可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、国防军工、科研院所等领域中。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等，提供依据ISO/ASME/EUR/GBT四大国内外标准共计300余种2D、3D参数作为评价标准。 ...
... 如你所见 spectro2profiler使用45°的圆周照明，0°的视角。 圆周照明对于在纹理表面实现可重复的测量结果至关重要。 超大的测量点和均匀的照明保证了高度可靠和有代表性的读数。 三维表面纹理分析--如你所见 spectro2profiler在不同的光照方向上拍摄多张图像，以计算和显示三维地形图。 因此，您可以得到细胞大小（mm²）和感知细胞振幅（P-µm）的客观测量。 不同的晶粒类型可以很容易地被区分出来--是设计和新供应商审批的理想选择。 从传统的光泽度仪到二维反射率测量 ...
用于表面粗糙度和形状测量的三维自由曲面光学轮廓测量仪 泰勒•霍普森 的 PGI Freeform（相位光栅干涉）是一款多功能、高分辨率的三维自由曲面轮廓测量仪，用于高精度的自由曲面光学测量。它可以对自由曲面光学器件进行表面粗糙度和形状分析。 灵活多样、高分辨率自由曲面测量系统 全新的PGI Freeform是一款灵活多样、高分辨率的光学测量系统，适用于高精密光学零件的自由曲面的测量。 能够为以下光学零件的提供栅格方向和径向的三维测量与分析： •球面 •非球面 •衍射面 ...
TAYLOR HOBSON
先进的表面粗糙度、轮廓、三维和直径测量设备 泰勒•霍普森 的 Form Talysurf PGI NOVUS 是最先进的表面粗糙度、轮廓、三维和直径测量系统，为产品设计和生产带来了独特的优势。该仪器具有领先的 20 mm 量程，分辨率为 0.2 nm，能够以同样的速度和精度测量上下表面的粗糙度、形状、波纹度、直径、夹角等。 该系统是轴承、喷油器等精密零件制造商的理想解决方案。通过 Metrology ...
TAYLOR HOBSON
超快的非接触式三维透镜轮廓测量仪 LUPHOScan SL 是大批量测量小透镜的理想选择，该系统的主要优势包括超快的测量速度及其测量透镜几何特征的能力。它可以测量光学表面和几何特征，如扣合面（坎合面）的圆度、平面镜片的平面度以及光学表面与这些特征的相对位置等。 世界上最快、最精确的非接触式3D手机镜头测量系统 LUPHOScan SL 适用于小透镜的大批量测量，主要优势包括超快的测量速度和透镜几何特征的测量能力。 设计和生产的独特优势 •超高重复精度 ...
TAYLOR HOBSON
简洁 . 灵动 . 强劲. Slynx是一款专为工业和研究所设计的全新非接触式3D光学轮廓仪。它设计简洁、用途多样。Slynx能够测量不同的材质，结构，表面粗糙度和波度，几乎涵盖所有类型的表面形貌。它的多功能性能够满足广泛的高端形貌测量应用。Sensofar的核心专利是将3种测量方式融于一体，确保了其完美的性能。配合SensoSCAN软件系统，用户将获得难以置信的直观操作体验。 应用领域 - 汽车业 - 消费电子产品 - 能源行业 - 液晶显示屏 - ...
Sensofar Metrology
在线 测量 解决方案 Sensofar拥有十四年的表面测量系统制造经验，线上3D光学测量头代表了最先进的制造工艺和测量技术。 简洁轻便、灵活的装配选择让它们适用于各种严苛的生产环境。无论是Smart还是Sonix在各种应用上都有着非常优秀的表现。 稳 定 坚 实 可 靠 生产环境有很多因素组成：不同的生产条件、震动环境、具有侵蚀性或破坏性的材料等等。很多情况下由于生产环境的影响，测量过程变的异常困难。Sensofar线上测量头有着非常好的密闭设计以保持测量组件的清洁。所有的光学组件都有着非常好的固定性并且在测量过程中不会产生任何位移，这使得测量头在严苛生产环境中也有着非常稳定可靠的测量表现。 多用 ...
Sensofar Metrology
与无尘室兼容的最高灵活性 S neox 无尘系统是光学计量领域前所未有的技术里程碑。它允许在苛刻的生产环境中实现多种方式的光学测量。 S neox 采用 4 合 1 技术将多功能性推向极致，除此之外，S neox 允许用户从37 种不同的物镜中进行选择，并可以使用 DIC 增强与表面缺陷的对比度。 S neox 净室版本 是一款通过精心设计的产品，它通过了严格的 ISO 1 级无尘室的测试，以及静电放电（ESD）兼容性测试。 此外，兼容压电陶瓷驱动的 ...
Sensofar Metrology
... 测量和记录二维/三维表面轮廓参数的复制带阅读器 数字式弹簧测微仪使用Testex Press-O-Film™复制带测量并记录表面轮廓参数。 - 新的 更大的2.8 "抗冲击彩色触摸屏，重新设计的键盘可快速浏览菜单 - 通过在表面上烧制胶带来创建一个复制品，并插入仪器中。三维图像和二维/三维参数在几秒钟内就能显示出来! - 报告常用参数。报告常用参数：Ra、Rq、Rz、Rp、¬Rv、Rt、Rpc（2D），以及Sa、Sq、Sz、Sp、Sv和Spd（3D）。 - ...
... 圆柱度测试仪 特点和优势。 1.可用双轴光栅计数 2.可提供多元素评估方法，以及模块化评估模式 3.自主开发可以协助对中和调平 4.可用换向器评估功能，可评估单片跳动、相邻片跳动和切断差。 5.多段式方法可更准确地测量圆柱度。 使用方法。 圆度、同轴度、同心度、平面度、径向单跳、轴向单跳、平行度、垂直度 测量范围：1-15upr, l-50upr, l-150upr，1-250upr，l-500upr。 1-250upr,l-500upr,15-100upr,15-500upr,2-15upr，customized ...
... 轮廓测试器 轮廓仪，轮廓仪，轮廓图，轮廓仪，轮廓分析仪，轮廓测量机，轮廓测量系统 型号 - MP100 测量范围 - X轴 - 100~220mm Z轴 - 320~620mm Z1轴 - 0~±30mm 轮廓精度 - Z1直线 - ±(1.5+|0.2H|)μm 弧形 - ±(2+R/8)μm 角度 - ±2′ 直线度 - 0.8μm/100mm 驱动速度 - X轴：0.1-10mm/s Z轴：0.5-10mm/s ...
... ContourX-1000落地式白光干涉仪（WLI）使获得高质量的三维表面纹理和粗糙度测量变得简单而快速。结合30多年的创新和我们最新的专利软件和技术，这套计量系统提供了布鲁克公司光学轮廓仪闻名的快速结果和可重复性，并提高了产量，甚至更方便操作。 ContourX-1000具有完全的自动化能力，直接的用户体验，以及精简的测量设置和分析配方，在几乎任何表面，由任何操作者提供最准确和精确的测量，甚至在多用户的大批量生产设施中。 ContourX-1000配备了布鲁克公司独有的干涉测量技术，并能够实现完全自动化 ...
Bruker Nano Surfaces
Tencor P-7探针式轮廓仪以成功领先市场的Tencor P-17台式探针式轮廓仪系统为基础。它涵盖了P-17的卓越测量性能，为台式探针式轮廓仪提供了出色的性价比。Tencor P-7探针式轮廓仪支持对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量，扫描范围可达150mm，无需拼接。 特征 台阶高度：纳米级到1000微米 恒定力控制：0.03至15mg 样品的全直径扫描，无需拼接 视频：5MP高分辨率彩色相机 弧形校正：可消除探针的弧形运动引起的误差 软件：简单易用的软件界面 生产能力：全自动测量，具有测序、图形识别和SECS/GEM功能 应用 台阶高度：2D和3D台阶高度 纹理：2D和3D粗糙度和波纹度 形状：2D和3D翘曲、形状 应力：2D和3D薄膜应力 缺陷检测：2D和3D缺陷表面形貌 工业 高校、实验室和研究所 半导体和化合物半导体 LED：发光二极管 太阳能 MEMS：微机电系统 数据存储 汽车 医疗器械 更多内容：请联系我们并告诉我们您的需求
KLA - TENCOR
新增控制器 超高精细测量 • 超高精度 • 可支持各种材 • 设定只需 3 步 超高精度测量 为以往的 4 倍* 采用 3200 points/profile 超高精度测量，可以极其精确地绘制出目标物的形状。通过呈现“真实形状”，从而实现精确的尺寸测量和外观检测。 型号丰富的超高精度感测头，可应对各种检测需求！ 标准机型 是追求简单快速地实现在线检测场合的理想选择。 高级机型 提供用户高自由度编程的环境以及自行开发的选择。是追求以专有程序实现难度高、应用复杂的检测的理想选择。
... 松下UA3P轮廓仪系列设计用于测量非球面镜片和模具、半导体晶圆和任何其他需要纳米级精度的精密部件，范围高达200mm x 200mm。提供不同的机器型号以满足您的光学和高长径比计量需求。 UA3P-300、UA3P-4和UA3P-5都为用户提供AFM技术的精度和CMM的测量范围。我们的独特方法是在测针中使用原子力探针技术和基于HeNe激光的干涉式XYZ轴定位。 将这种技术与坚实的花岗岩基座结合起来，您就有了一个强大的测量系统，可以在工厂车间使用，并仍然提供0.1um级别的总不确定度。 主要特点 UA3P可测量非球面透镜和自由曲面镜及其模具，这对数字消费电子（如手机、DSC、DVD和蓝光刻录机）以及家庭安全、光通信和汽车等领域至关重要。 只需3分钟即可完成超精确的测量 自动生成NC程序 丰富的可选软件库 操作简单，支持加工的快速反馈 外部尺寸（宽x深x高）mm ...
... IMOS 可实现精确、定量、符合 ISO 标准的非接触式表面测量和微和纳米尺度表面特征的表征，在短短几秒钟内捕获多达 200 万个数据点。选择合适的光学轮廓仪系统取决于您的应用需求，包括速度、精度、垂直范围、自动化和灵活性。 CMOS 光学表面剖面仪在非接触光学表面仿形中提供强大的多功能性。通过该系统，可以轻松快速地测量各种表面类型，包括平滑、粗糙、平坦、倾斜和阶梯。所有测量均无损、快速且无需特殊的样品制备。该系统的核心是部分相干光技术的干扰，该技术可提供亚纳米精度测量更广泛的表面，比其他市场上的技术更精确，从而优化您的投资回报。 ...
... 如何测量粗糙度和表面光洁度 IF 轮廓仪是一种手持式 3D 粗糙度测量系统，用于高分辨率测量表面光洁度。 用户 仅用一个系统测量扁平和弯曲部件的粗糙度。 测量基于剖面（ISO 4287）和基于区域（ISO 25178）进行。 轻量级的 IF-Profiler 由三维测量传感器和坚固耐用的框架组成。 人体工程学设计结合了易用性和所要求的机械刚性。 IF-Profiler 可在高速测量条件下实现灵活的测量和应用。 各种位置和测量字段可追溯且直观地测量。 ...
... 以不到AFM或3D测针轮廓仪一半的价格获得光学轮廓仪。Profilm30使用最先进的白光干涉测量法(WLI)来测量表面轮廓和粗糙度，测量精度低至0.05ym；增加PSI选项后，最小垂直特征尺寸可低至0.001pm。Profilm软件可以分析完整的图像，包括曲面和阶梯高度的表面纹理（粗糙度）。对于较大的图像，软件还可以将多个图像拼接在一起。 特征 - 100mm x 100mm的自动XY平台，运动范围为+1-5°的尖端倾斜。 - 自动Z-motion，100mm的射程 - ...
... 应用 WLICyl * 白光干涉仪/WLI探头用于实验室和车间的质量控制。 * 缸孔 * 衬垫 规格 非接触式三维表面轮廓仪 * 可与转接板或用于底架的可变三爪卡盘结合使用，60-150。 WUCyl是一种基于白光干涉原理的高精度光学轮廓仪，设计用于后处理和统计过程控制。测量头可以手动移动，也可以通过在软件中输入坐标。 基架60-150的转接板或可变三爪卡盘确保了WUCyl在被测物上的定位参考，以便重复测量。无限的测量程序可以被保存和自动化。这种设计允许在进行摩擦学测试前后，在完全相同的位置进行比较 ...
便携式光学三维形貌仪 三维形貌是产品材料及涂层性能的关键参数之一。 市场上广泛应用的光学式或接触式的三维形貌仪大多是台式的，而非便携式。 因此，手持非接触式形貌仪则具有独特的优势。 TRACEiT®手持非接触式形貌仪主要用于工厂自动化的质量控制，通过内置产品已知属性，在质量控制过程中以红色/绿色来对产品进行质量评判。 TRACEiT®是目前最快的（15秒完成测量）便携式三维光学形貌仪。 ...
... 高速、在线高度测量和检测 Z-Trak™2是基于Teledyne Imaging的3D图像传感器技术打造的全新3D轮廓传感器系列，开创了高速、在线3D应用的5GigE 3D轮廓传感器的新时代。 机型的扫描速度高达每秒45,000个剖面，并具有内置HDR和反射补偿算法，可在单次扫描中处理具有不同程度反射率的表面。这为电子、半导体、汽车和工厂自动化市场领域的检查、检测、识别和引导提供了在线高度测量。 提供高达45,000个配置文件/秒的扫描速度。 所有Z-Trak2型号的每个轮廓都有2K点，都经过工厂校准 ...
Dalsa
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