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光学轮廓测量仪 S wide3D用于大型零件工业
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产品规格型号
- 所用技术
- 光学, 3D
- 应用
- 用于大型零件
- 技术参数
- 工业
- 配置
- 台式
- 其他特性
- 高速
产品介绍
S wide 是专用系统，适用于快速测量大样品区域，测量面积最高可达 300 x 300 mm。它具有集成了数字显微镜的高分辨率测量仪器的所有优点。一键式采集功能，易于使用。
解决方案
大面积 3D 光学测量系统
- 先进制造业
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