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具备最高性价比的 ContourX-100 光学轮廓仪为精确的、可重复的、非接触式表面测量树立了新基准。该系统占地面积小，所采用的简化方案融合了布鲁克几十年的专利白光干涉（WLI）创新技术，具有强大的二维/三维高分辨测量能力。新一代增强功能包括全新的 5MP 摄像头和更新平台，实现更多缝合功能，并新增一个测量模式 USI，提升了精加工表面、厚膜和摩擦学应用测量时的便捷性和灵活性。ContourX-100 堪称性价比最高的台式系统。 卓越计量能力 ContourX-100 ...
Bruker Handheld XRF Spectrometry
MarSurf CD 系列测量站站 在轮廓测试领域确立了新的标杆。更短 的测量时间、灵活的应用和 简单的操作意味着提高您的 质量保证效率。 提高测量和更换速度 • 高速测轴和测量可缩短 测量时间 • Z 轴全 CNC 功能，可自动运行 • 快速更换测头系统。 磁性接口，无需工具 – 无需重新校准 • 自动检测测杆，提高测量序列的速度 并避免测量错误
形态参数和表面地形的三维和区域评价 TopMap Pro.Surf可快速确定大面积的形状偏差和表面形貌，并且具有极高的精度。TopMap Pro.Surf是一个高端光学表面轮廓仪系统，非常适合精密机械制造业的质量控制，无论是在线、在生产线上还是接近生产。TopMap Pro.Surf为所有表面表征任务提供定制的解决方案，只要评估表面参数，如平面度、台阶高度和平行度是基本的。其高空间分辨率和远心光学概念以及出色的测量速度使其成为生产层面上最可靠的非接触式传感器解决方案。 测量形状公差，如平面度、波浪度、台阶高度等。 Polytec白光干涉仪实现了区域性的三维测量，在一次拍摄中收集所有的表面细节。在44 ...
用于微观结构和粗糙度的紧凑型光学轮廓仪 TopMap Micro.View®是TopMap白光干涉仪系列的紧凑型测量系统，能够对表面结构细节、表面纹理和表面粗糙度参数进行可重复和高分辨率的检查和评估。通过集成CST连续扫描技术，Z轴100毫米的行程提供了完整的100毫米测量范围，垂直分辨率在纳米范围内。这款光学轮廓仪的特点是设计紧凑，集成了电子元件，使用方便，例如，通过自动寻焦功能，在生产环境和测试实验室中进行快速有效的测量。 + 粗糙度、纹理和微观结构的全面积和三维形貌分析 + ...
表面细节、形状参数和粗糙度的综合光学三维测量 TopMap Pro.Surf+为所有表面表征要求提供定制解决方案，评估形状参数，如平面度、台阶高度、平行度和表面粗糙度。其空间分辨率和远心光学系统可到达深层区域，加上无与伦比的测量速度，显示了这种生产计量工具的高性能。 TopMap Pro.Surf+ 使用诸如平面度、台阶高度、平行度和粗糙度等参数为所有表面特性要求提供定制解决方案。总之，空间分辨率、远心镜头和速度确实令人印象深刻。 白光干涉仪与色彩共焦技术的组合意味着不会忽略任何细节。几秒钟内就可完成 ...
... 1.表面轮廓评价。可以评价半径、角度、距离、坐标、圆、圆形截面，并确定各点、各相交点、坐标轴、直线、垂直线、圆、圆形截面，分析轮廓的直线度、圆度。 更多的功能。 (1)建立回归线和圆 (2)建立点、相交点、自由点、中心点、最高点和最低点 (3)建立坐标系 (4)计算半径、距离、角度、坐标和线性偏差 (5)比较实际值和名义值 (6)测量程序自动运行 2.SJ5701可以评估表面粗糙度。Ra, Rz, Rt, RS, RSm, Rp, Rv, Rq, Rt, ...
Chotest Technology Inc.
SuperView W1-Pro光学3D表面轮廓仪是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器。它是以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，并获取反映器件表面质量的2D、3D参数，从而实现器件表面形貌3D测量的光学检测仪器。 SuperView W1-Pro光学3D表面轮廓仪可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、国防军工、科研院所等领域中。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等，提供依据ISO/ASME/EUR/GBT四大国内外标准共计300余种2D、3D参数作为评价标准。 二、产品功能 1.系统光源及寿命：双LED光源（白光和绿光），10万小时超长寿命，终身无需更换； 2.测量模式：垂直扫描干涉模式（VSI），相移干涉模式（PSI），结合VSI和PSI的自适应通用测量模式（USI） 3.多区域自动分析：自动获取图案化形貌区域的三维信息（高度、宽度、面积、体积、粗糙度、倾角等），同时具有自动统计分析功能。 4.一体化操作的测量与分析软件，操作无须进行切换界面，预先设置好配置参数再进行测量，软件自动统计测量数据并提供数据报表导出功能，即可快速实现批量测量功能。 5.测量中提供自动多区域测量功能、批量测量、自动聚焦、自动调亮度等自动化功能。 6.测量中提供拼接测量功能。 7.分析中提供调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能，其中调整位置包括图像校平、镜像等功能；纠正包括空间滤波、修描、尖峰去噪等功能；滤波包括去除外形、标准滤波、过滤频谱等功能；提取包括提取区域和提取剖面等功能。 8.分析中提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能，其中粗糙度分析包括依据国际标准的ISO4287的线粗糙度、ISO25178面粗糙度、ISO12781平整度等全参数分析功能；几何轮廓分析包括台阶高、距离、角度、曲率等特征测量和直线度、圆度形位公差评定等功能；结构分析包括孔洞体积和波谷深度等；频率分析包括纹理方向和频谱分析等功能；功能分析包括SK参数和体积参数等功能。 9.分析中同时提供一键分析和多文件分析等辅助分析功能，设置分析模板，结合测量中提供的自动测量和批量测量功能，可实现对小尺寸精密器件的批量测量并直接获取分析数据的功能。 三、应用领域 对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。 恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。
Chotest Technology Inc.
SJ5730-100高精度粗糙度轮廓测量仪是一款集成表面粗糙度和轮廓测量的测量仪器；采用超高精度衍射光学测量系统、超高直线度研磨级摩擦导轨、高性能伺服驱动电机、高性能计算机控制系统技术，实现对工件表面粗糙度和轮廓进行高精度测量和分析。通过超高直线度研磨级摩擦导轨、高性能伺服驱动电机保证测量的超高稳定性及直线度，采用超高精度定制进口光学测量系统建立工件表面轮廓的二维坐标，计算机采用超高精度的标定系统通过修正算法对采样数据进行修正，最终还原出工件轮廓信息并以曲线图显示出来，通过软件提供的分析工具可对轮廓及微观轮廓进行各种粗糙度参数、轮廓参数分析。 系统软件为简体中文操作系统，操作者只需装好被测工件，在检定软件上设定扫描的开始、结束位置，点击【开始】按钮，测针会自动接触工件表面，并按设定的位置扫描；可高精度地测量精密加工零部件的粗糙度和轮廓形状，再选择所需评价参数即可进行评价。 ...
Chotest Technology Inc.
Nexview™ NX2 三维光学轮廓仪专为最苛刻的应用而设计，集卓越的精度、先进的算法、应用灵活性和自动化于一身，是 ZYGO 最先进的相干扫描干涉测量（CSI）轮廓仪。 这种完全非接触式技术可在所有放大倍率下提供亚纳米级的精度，并且能够比其他商用同类技术更快、更精确地测量更多的表面类型，优化了投资回报率。Nexview NX2 应用范围广泛，可以测量几乎任何表面和材料的平整度、粗糙度和波纹、薄膜、台阶高度等，是一款名副其实的轮廓仪。 作为最新一代的旗舰产品，Nexview™ ...
... 生产就绪的三维光学轮廓仪系统 ZeGage Pro HR 三维光学轮廓仪 ZeGage™ Pro和ZeGage™ Pro HR三维光学轮廓仪为许多类型的表面的微观和纳米尺度的特征提供非接触式的测量和表征，确保在您的制造环境中进行质量控制和过程监控。 我们行业领先的ZeGage Pro系列为台式工业非接触式表面测量仪的性能、易用性、灵活性和精度设定了标准。基于ZYGO专有的CSI技术，ZeGage Pro提供创新技术，以实现精确、可靠、简单和自信的表面计量。 独家功能包括SureScan™技术，用于振动稳健的计量，Part ...
NewView™ 9000 三维光学表面轮廓仪在非接触式光学表面轮廓测量方面提供了强大的多功能性。该系统可以方便快捷地测量各种表面类型，包括光滑、粗糙、平坦、倾斜和台阶式表面。所有的测量都是无损、快速的，并且不需要准备样品。 该系统的核心是 ZYGO 的相干扫描干涉测量技术（CSI），它在所有放大倍率下都能提供亚纳米级的精度，并且能够比其他商用技术更快、更精确地测量更多的表面类型，可优化您的投资回报率。 高性能、高性价比和多功能性 灵活性是 ZYGO ...
先进的表面粗糙度、轮廓、三维和直径测量设备 泰勒•霍普森 的 Form Talysurf PGI NOVUS 是最先进的表面粗糙度、轮廓、三维和直径测量系统，为产品设计和生产带来了独特的优势。该仪器具有领先的 20 mm 量程，分辨率为 0.2 nm，能够以同样的速度和精度测量上下表面的粗糙度、形状、波纹度、直径、夹角等。 该系统是轴承、喷油器等精密零件制造商的理想解决方案。通过 Metrology 4.0 软件，还可获得表面粗糙度、轮廓和形貌等的即时测量分析反馈。 最先进的表面粗糙度、轮廓、3D和直径测量系统 新型Form ...
... 测量的不仅仅是体积 通过对产品进行快速三维数字化，可以自动计算固体产品的体积、密度和标准尺寸。附加测量包括表面积、高度、宽度、长度和重量等。然后可以对结果进行数学处理，以便立即使用或将来以各种数据格式进行检索。 快速准确 只需 22 秒，制造商就能获得有关产品的精确数据，以便控制和监测生产。 世界一流的数据分析软件 我们功能强大、特性丰富的软件是标准配置。最重要的是，在仪器的使用期内，我们还提供免费更新。了解更多 比过时的种子位移法更精确 传统上，烘焙产品的体积测量是通过种子位移技术来实现的，即测量标准容器中面包周围的油菜籽或薏米包装量。几十年来，这种方法一直被普遍认为是烘焙质量的指标，但现在却被认为是原始、不准确、繁琐和费力的。反复校准、操作人员的依赖性、油菜籽溢出/粘附在产品上或静电导致的油菜籽损失、吸湿导致的油菜籽结块、定期筛分油菜籽以去除食物碎屑、软产品可能被压碎以及手动记录结果，这些都是影响测量效率和准确性的常见缺点。 ...
S wide 是专用系统，适用于快速测量大样品区域，测量面积最高可达 300 x 300 mm。它具有集成了数字显微镜的高分辨率测量仪器的所有优点。一键式采集功能，易于使用。 解决方案 大面积 3D 光学测量系统 - 先进制造业 - 考古学与古生物学 - 消费类电子产品 - 医疗设备 - 模塑 - 光学 - 钟表业
新型 S neox 在性能、功能、效 率和设计方面优于现有的 3D光 学轮廓仪，是Sensofar 的新一 代高端测量系统。 前所未有的速度 通过采用新的智能和独特的算法以及新型相机，达到前所未有的速度。数据采集速度达 180 fps。标准测量采集速度比以前快 5 倍。S neox 成为市场上速度最快的表面测量系统。 易于使用 Sensofar 致力于为客户提供最令人难以置信的体验。随着第五代 S neox 系统的诞生，我们的目标是使其易于使用、直观且更快速。即使是初学者，只需点击一下，即可操作测量。模块化设计的软件，使系统适应用户多样的需求。
... 完全无障碍 S neox五轴三维光学轮廓仪将高精度旋转模块与S neox三维光学轮廓仪的先进检测和分析功能相结合。这就实现了在规定位置的自动三维表面测量，可以结合起来创建一个完整的三维体积测量。 ...
Tencor P-7探针式轮廓仪以成功领先市场的Tencor P-17台式探针式轮廓仪系统为基础。它涵盖了P-17的卓越测量性能，为台式探针式轮廓仪提供了出色的性价比。Tencor P-7探针式轮廓仪支持对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量，扫描范围可达150mm，无需拼接。 特征 台阶高度：纳米级到1000微米 恒定力控制：0.03至15mg 样品的全直径扫描，无需拼接 视频：5MP高分辨率彩色相机 弧形校正：可消除探针的弧形运动引起的误差 软件：简单易用的软件界面 生产能力：全自动测量，具有测序、图形识别和SECS/GEM功能 应用 台阶高度：2D和3D台阶高度 纹理：2D和3D粗糙度和波纹度 形状：2D和3D翘曲、形状 应力：2D和3D薄膜应力 缺陷检测：2D和3D缺陷表面形貌 工业 高校、实验室和研究所 半导体和化合物半导体 LED：发光二极管 太阳能 MEMS：微机电系统 数据存储 汽车 医疗器械 更多内容：请联系我们并告诉我们您的需求
KLA - TENCOR
... IMOS 可实现精确、定量、符合 ISO 标准的非接触式表面测量和微和纳米尺度表面特征的表征，在短短几秒钟内捕获多达 200 万个数据点。选择合适的光学轮廓仪系统取决于您的应用需求，包括速度、精度、垂直范围、自动化和灵活性。 CMOS 光学表面剖面仪在非接触光学表面仿形中提供强大的多功能性。通过该系统，可以轻松快速地测量各种表面类型，包括平滑、粗糙、平坦、倾斜和阶梯。所有测量均无损、快速且无需特殊的样品制备。该系统的核心是部分相干光技术的干扰，该技术可提供亚纳米精度测量更广泛的表面，比其他市场上的技术更精确，从而优化您的投资回报。 ...
便携式光学三维形貌仪 三维形貌是产品材料及涂层性能的关键参数之一。 市场上广泛应用的光学式或接触式的三维形貌仪大多是台式的，而非便携式。 因此，手持非接触式形貌仪则具有独特的优势。 TRACEiT®手持非接触式形貌仪主要用于工厂自动化的质量控制，通过内置产品已知属性，在质量控制过程中以红色/绿色来对产品进行质量评判。 TRACEiT®是目前最快的（15秒完成测量）便携式三维光学形貌仪。 它所提供的三维形貌实时测量以及视觉形貌的记录已被广泛应用于制造过程中的质量控制以及设计和研究领域。 测试头内部均布3个120°平行光源，可进行360°全景扫瞄 测试头内部顶端安装一个摄像头，可实时采集视觉图像 对X、Y方向进行高达1500次的扫描测量 5mm ...
... PGS200 剖面仪是一种新一代仪器，能够通过一些简单的操作来表征同样复杂部件的轮廓，这要归功于现代的 “一体式” 逻辑：只需几个操作，即可立即准备好并校准以进行测量。 PGS200 上安装的 Profile Studio 软件被设计为非常用户友好且易于操作者。 描述@@ 剖面特征所需的功能分为几个类别（点、线、弧线、尺寸），每个类别都有不同的颜色，便于识别。 CAD 非常先进：所有项目都是动态的，可以在输入后进行编辑。 对于更复杂的部件，PGS 200 允许执行测量周期，从而自动克服障碍（凹槽、肩部部件），并在测量结束时重新构建轮廓。 ...
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