光学轮廓测量仪 IMOS

3D干涉测量工业

IMOS 可实现精确、定量、符合 ISO 标准的非接触式表面测量和微和纳米尺度表面特征的表征，在短短几秒钟内捕获多达 200 万个数据点。选择合适的光学轮廓仪系统取决于您的应用需求，包括速度、精度、垂直范围、自动化和灵活性。 CMOS 光学表面剖面仪在非接触光学表面仿形中提供强大的多功能性。通过该系统，可以轻松快速地测量各种表面类型，包括平滑、粗糙、平坦、倾斜和阶梯。所有测量均无损、快速且无需特殊的样品制备。该系统的核心是部分相干光技术的干扰，该技术可提供亚纳米精度测量更广泛的表面，比其他市场上的技术更精确，从而优化您的投资回报。 性能、价值和 多功能性：CMOS 剖面仪在平坦度、粗糙度和波浪度、步高等应用中提供卓越的价值。 IMOS 分析仪配备了一个变焦头，可以安装为系统量身定制的离散变焦光学器件。样品分段配置范围从完全自动化到完全自动化和编码行程。 这种通用系统提供高精度测量、易用性和快速测量，所有这些都以极具吸引力的价位，使其成为 3D 光学分析仪多功能性和价值的理想选择。 纳米浮雕模式下的 Z 分辨率: ~ 30 分钟 (带原子光滑镜) ~ 0.3 微浮雕模式;