光学轮廓测量仪 TopMap Micro.View

3D干涉测量白光干涉

用于微观结构和粗糙度的紧凑型光学轮廓仪 TopMap Micro.View®是TopMap系列白光干涉仪中的紧凑型表面轮廓仪，可对微观结构、纹理、光洁度和面积粗糙度参数（Sa、Sz...）进行可重复的高分辨率表面检测。 以亚纳米分辨率快速扫描表面！ 。通过集成CST连续扫描技术，Z轴100毫米的行程提供了完整的100毫米测量范围，垂直分辨率在纳米范围内。这款光学轮廓仪的特点是设计紧凑，集成了电子元件，使用方便，例如，通过自动寻焦功能，在生产环境和测试实验室中进行快速有效的测量。 + 粗糙度、纹理和微观结构的全面积和三维形貌分析 + 紧凑的轮廓仪系统用于分析表面细节 + 100毫米大的垂直测量范围，采用CST连续扫描技术 + 卓越的横向分辨率 + 亚纳米分辨率测量 + 新：扩展镜头选项 0.6X ... 111X 现已推出 联系我们以获得演示、对您的特定样品进行可行性研究和更多信息。