光学轮廓测量仪 TopMap Micro.View

3D白光干涉干涉测量

用于微观结构和粗糙度的紧凑型光学轮廓仪 TopMap Micro.View®是TopMap白光干涉仪系列的紧凑型测量系统，能够对表面结构细节、表面纹理和表面粗糙度参数进行可重复和高分辨率的检查和评估。通过集成CST连续扫描技术，Z轴100毫米的行程提供了完整的100毫米测量范围，垂直分辨率在纳米范围内。这款光学轮廓仪的特点是设计紧凑，集成了电子元件，使用方便，例如，通过自动寻焦功能，在生产环境和测试实验室中进行快速有效的测量。 + 粗糙度、纹理和微观结构的全面积和三维形貌分析 + 紧凑的轮廓仪系统用于分析表面细节 + 100毫米大的垂直测量范围，采用CST连续扫描技术 + 卓越的横向分辨率 + 特定的应用目标 联系我们以获得演示、对您的特定样品进行可行性研究和更多信息。