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光学轮廓测量仪 TopMap Micro.View+3D干涉测量白光干涉
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产品规格型号
- 所用技术
- 3D, 光学, 干涉测量, 白光干涉
- 功能
- 表面糙度测定, 形状测量, 用于厚度测量, 用于平面度测量, 振动测量, 用于角度测量, 几何特征, 定位用, 变形监测, 摩擦试验
- 应用
- 用于半导体, 用于生产线, 用于型材, 用于无菌室
- 技术参数
- 工业, 用于汽车工业, 实验室
- 配置
- 台式, 在线
- 其他特性
- 非接触式, 自动, 超高精度, 非破坏性
产品介绍
以亚纳米分辨率分析形状和粗糙度、纹理、划痕和缺陷、微结构、微机电系统或半导体
Micro.View+ 是一款具有最高重复性和测量精度的表面轮廓仪。
用于纳米粗糙度和微结构的模块化光学轮廓仪
TopMap Micro.View+是Polytec公司的新一代光学表面测量技术。它采用模块化设计可根据您的表面检测任务进行各种配置无论是精密制造部件还是微系统的纹理、微结构、形状或粗糙度。Micro.View+ 专为测量和研究实验室而设计但通过集成纯传感器也适用于在线应用。
可视化三维形貌并使用彩色模式进行更有意义的可视化和区分例如表面缺陷或记录。可选配 500 万像素摄像头。
全面的附件包简化并加快了测量工作。聚焦探测器和创新的聚焦跟踪器可在任何情况下和重新定位时始终保持测试样本对焦而完全电动化的定位台可支持自动缝合和测试同时自动调节尖端/倾斜度。
+ 具有亚纳米分辨率的一流白光干涉仪
+ 采用 CST 连续扫描技术垂直测量范围达 100 毫米
+ 聚焦探测器和聚焦跟踪器是自动化生产控制的理想选择
+ 用于专业分析和缺陷记录的彩色模式
+ 用于特定配置的模块化
