3D轮廓测量仪 TopMap Micro.View+

光学表面糙度测定形状测量

新一代光学表面轮廓仪 TopMap Micro.View+ 是新一代光学表面轮廓仪。 该模块化工作站专为模块化设计，可进行定制和特定于应用的配置。 MICRO.VIEW +提供了最详细的表面粗糙度，纹理和微观结构形貌分析。 结合3D数据和颜色信息结合起来，实现惊人的可视化和扩展分析，如缺陷的详细文档。 高分辨率500万像素相机提供了令人难以置信的工程表面3D数据可视化。 启用自动化且可投入生产线 编码和电动转塔确保了物镜之间的无缝过渡。 Micro.View+ 采用最新的“对焦仪”和“焦点追踪器”，使表面在任何情况下都保持聚焦。 采用全电动的样品定位台可实现缝合和自动化。